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标签 > ate

ate

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ATE是Automatic Test Equipment的缩写,于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机,用于检测集成电路功能之完整性, 为集成电路生产制造之最后流程, 以确保集成电路生产制造之品质。

文章:130 浏览:27766 帖子:40

ate技术

面向老化测试系统的高压继电器有哪些要求?

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老化与寿命测试系统是半导体和电子产品可靠性测试中的关键工具。被测器件(DUT)如存储芯片(DRAM、闪存)、处理器(CPU、GPU)、分立功率半导体(M...

2025-11-07 标签:测试测量ATE老化测试 5.9k 0

自动测试设备,高压继电器怎么选?

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在自动测试设备(ATE)与精密仪器测试里,“高密度、低漏流”和“高耐压、小尺寸”往往是相互矛盾的两个维度。一些测试测量应用需要在极小封装内集成可承受5k...

2025-07-31 标签:ATE线缆测试仪线束检测仪 4.8k 0

线缆测试效率如何一步到位?

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高压继电器是线缆测试仪的核心部件,在高压安全与测量精度间取得平衡,其设计必须解决绝缘、耐压和寿命三大难题,是普通继电器无法替代的关键环节。高压干簧继电器...

2025-07-23 标签:ATE测试设备线缆测试仪 4k 0

老化测试效率提升,高压干簧继电器究竟做对了什么?

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在老化机测试中,“精密、耐用、高密度”这三项指标缺一不可,传统机械继电器体积大、寿命短;半导体开关又难扛高压。高压干簧继电器体积紧凑、隔离高,非常适合密...

2025-07-18 标签:ATE老化测试自动测试设备 3.6k 0

干簧继电器:芯片测试仪的“性能催化剂”

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在集成电路(IC)制造领域,测试环节是确保芯片性能和可靠性的重要步骤。然而,测试过程往往伴随着高昂的成本和复杂的设备需求。本文将探讨如何通过优化接口电路...

2025-04-07 标签:继电器测试测量芯片测试 1.4k 0

高频干簧继电器:网络分析仪的高效“搭档”

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无论是用于测量模拟连续波高频的特性,还是快速数字脉冲的上升和下降时间,网络分析仪已成为射频领域不可或缺的工具。随着技术的不断进步,传统的电磁继电器已逐渐...

2025-04-02 标签:继电器测试测量网络分析仪 1.4k 0

大功率ATE测试系统解决方案

大功率ATE测试系统解决方案

大功率自动化测试设备 (ATE) 系统的开发为测试工程师带来了众多挑战。但测试是必要的,它能够确保产品的安全性以及产品达到所发布的性能规格。

2025-03-31 标签:测试系统ATE测试设备 1.3k 0

基于V25接口的海军ATE测试设备

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01项目概述为海军ATE测试设备开发海量互连V25通用测试接口,提升测试系统的通用性、可移植性和维护效率。核心思想:从“面向仪器”转向“面向信号”,通过...

2025-03-21 标签:接口ATE测试设备 596 0

高压干簧继电器矩阵的应用:电缆测试仪

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电缆线束是电子系统的核心组件,通常由多根镀铜线组成,连接到不同位置,总长度可达数千米。然而,在制造过程中,这些铜线可能会因刮擦、扭曲、打结或部分割断而产...

2025-03-11 标签:测试测量自动测试ATE 819 0

产品应用方案|士模八通道同步采样ADC(CM2248)在ATE设备中的应用

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CM2248具有集成度高,92dB SNR高信噪比,-105dB高THD等优势;使得它非常适合应用于ATE设备中各类信号的高精度回采。同时,CM2248...

2025-03-06 标签:adc模数转换器ATE 749 0

干簧继电器:工业数据采集的可靠之选

干簧继电器:工业数据采集的可靠之选

在工业环境中,数据采集是一项充满挑战的任务。传感器(如热电偶)通常输出微弱的电压信号,且往往位于偏远位置。将这些信号完整无损地传输到主系统进行放大、存储...

2025-03-03 标签:测试测量数据采集ATE 1.2k 0

采用系统级模块方法简化精密阻抗分析仪的设计

采用系统级模块方法简化精密阻抗分析仪的设计

作者:Kenton Williston 投稿人:DigiKey 北美编辑 许多应用都要求准确的阻抗测量,这些应用包括触摸屏校准、半导体表征、晶圆验收和电...

2025-01-26 标签:LCRATE阻抗测量 973 0

干簧继电器:高端万用表如何轻松应对高低压测量挑战?

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随着电子设备和系统对电压和电流测量的需求的日益增长。这些测量需要覆盖多个量级,从纳伏到千伏,从飞安到高安培。仅靠单一仪器实现如此广泛的测量范围几乎是不可...

2025-01-20 标签:万用表测试测量ATE 1.1k 0

芯片测试程序

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一、测试程序的基本概念测试程序,即被ATE(AutomaticTestEquipment,自动测试设备)识别和执行的指令集,是集成电路测试的核心。测试程...

2024-11-16 标签:芯片测试ATE测试程序 1.3k 0

IC测试基本原理与ATE测试向量生成

IC测试基本原理与ATE测试向量生成

IC测试主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展,其规模越来越大,对电路的质量与可靠性要求进一步提高...

2024-10-12 标签:芯片IC测试功能测试 3.5k 0

ATE测试设备:光纤连接解决方案

ATE测试设备:光纤连接解决方案

OM3多模光纤(Multi-ModeFiber),属于OM系列光纤中的一种。光纤芯直径通常为50μm,包层直径为125μm。具有低色散和激光优化的性能特...

2024-08-30 标签:光纤ATE测试设备 871 0

如何选择和应用机电继电器实现多功能且可靠的信号切换

如何选择和应用机电继电器实现多功能且可靠的信号切换

作者:Bill Schweber 投稿人:DigiKey 北美编辑 2024-08-20 电信和网络设备、自动测试设备 (ATE) 和安全设备等应用越来...

2024-10-02 标签:继电器射频ATE 1.3k 0

DFT的简单介绍(上)

DFT全称为Design for Test,可测性设计。就是说我们设计好一个芯片后,在仿真时可能99%的用例都通过了,怎么保证流片出来的实际芯片也能正常工作呢?

2023-12-06 标签:DFTATEGDS 2.5k 0

ATE测试机是什么

半导体测试设备主要包括三类:ATE、探针台、分选机。其中测试功能由测试机实现,而探针台和分选机实现的则是机械功能,将被测晶圆/芯片拣选至测试机进行检测。

2023-12-04 标签:芯片测试ATE测试机 3.5k 0

如何显著提高ATE电源吞吐量?

如何显著提高ATE电源吞吐量?

作为一名测试工程师,你的工作并不容易。降低成本和提高系统吞吐量的压力一直存在。本文中,我们将讨论影响系统吞吐量的关键因素以及如何降低ATE测试成本。

2023-11-08 标签:电源吞吐量ATE 1.2k 0

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