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电子发烧友网>可编程逻辑>SEMVision G7系统与自动缺陷分类系统相结合加快产能和良率

SEMVision G7系统与自动缺陷分类系统相结合加快产能和良率

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2021-07-14 16:18:23711

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照射和反投影相结合的方式。成像方法,可进行高速在线、准确的表面缺陷检测;结合现场过程在线报警、自动报表统计和产品分类处置等,为企业的生产信息化和产品质量提供了有效的解决方案。 【检测原理】 整个系统采用工业CCD相
2021-08-05 17:40:02951

如何加快5nm芯片 ,EUV光刻或是关键要素

先进 5nm 器件或先进封装的提升需要识别和去除从光刻到封装材料的关键缺陷,因此智能和快速的晶圆级检测必不可少。
2022-05-07 16:50:305083

一文看懂连接型运输系统——G7易流财运通

G7易流财运通是一种连接型运输系统,其建构增长飞轮主要围绕订单、车辆和运力三大利润中心展开。这一系统的实施使得货运经营者可以实现收入和规模的双增长,在行业内不断领先。与传统的货运模式相比,G7易流
2023-05-25 11:35:074100

行业案例 | 缺陷自动检测及分类(ADC)解决方案

由人工判别缺陷种类和缺陷位置,虽然已融入自动化生产步骤,但仍然有检测过程耗时耗力、成本高的不便之处。明治传感器推出的自动缺陷检测及分类(ADC,AutomaticD
2022-08-04 11:55:113645

新一代连续血糖监测系统Dexcom G7获得加拿大卫生部批准

Dexcom G7引入了一种简单的方法来帮助用户更好地控制糖尿病,使他们能够更自信地管理疾病。Dexcom G7具备小尺寸的一体化传感器和发射器,其预热速度比市场上任何其它连续血糖监测系统快至少两倍,并且使用户能够查看自动发送到其兼容智能设备或接收器的实时血糖读数
2023-07-10 15:38:561887

为什么要提升芯片为什么难提升?

提高芯片的变得越来越困难,很多新建的晶圆厂通线数年仍难以量产,有的虽勉强量产,但是始终无法爬坡式的提升,很多朋友会问:芯片的提升真的有那么难吗?为什么会这么难?今天来聊聊。
2023-09-06 09:07:158258

广立微发布业界领先的可测性设计自动化和诊断解决方案

解决痛点 随着集成电路工艺越渐复杂,芯片设计规模越来越大,在生产过程中产生缺陷和出现问题的概率也就越来越高。为了达到DPPM(百万分比的缺陷)的严格要求,需要通过多道测试来剔除有缺陷的芯片
2023-11-26 09:07:001956

三星研发一种用于提高半导体产能的“智能传感器系统

12月26日消息,据韩媒 ETNews 报道,三星电子正在开发自己的“智能传感器系统”,用于对半导体工艺的控制和管理。这项新技术有望提高半导体、提高生产
2023-12-28 10:32:081832

品学习在高制造业中缺陷检测的应用

缺陷形态多变,还可能出现各种无法预测的异常情况,传统的缺陷模拟方法往往难以应对,这无疑增加了检测的成本和难度。品学习阿丘科技的品学习模式,拥有非监督分类与非监
2024-01-26 08:25:101669

浅谈影响晶圆分选的因素(2)

在晶圆制造率部分讨论的工艺变化会影响晶圆分选。在制造区域,通过抽样检查和测量技术检测工艺变化。检查抽样的本质是并非所有变化和缺陷都被检测到,因此晶圆在一些问题上被传递。这些问题在晶圆分选中显现为失败的设备。
2024-10-09 09:45:301671

晶圆制造限制因素简述(1)

下图列出了一个11步工艺,如第5章所示。典型的站点列在第3列,累积列在第5列。对于单个产品,从站点计算的累积fab与通过将fab外的晶圆数量除以fab线开始的晶圆数量计算的相同
2024-10-09 09:50:462093

集成电路制造中损失来源及分类

本文介绍了集成电路制造中损失来源及分类的定义 是集成电路制造中最重要的指标之一。集成电路制造厂需对工艺和设备进行持续评估,以确保各项工艺步骤均满足预期目标,即每个步骤的结果都处于生产
2025-01-20 13:54:011999

RK3568驱动指南|第十二篇 GPIO子系统-第135章 GPIO子系统与pinctrl子系统相结合实验

RK3568驱动指南|第十二篇 GPIO子系统-第135章 GPIO子系统与pinctrl子系统相结合实验
2025-05-23 13:47:02828

广立微DE-YMS系统助力紫光同芯管理

广立微(Semitronix)与国内领先的汽车电子及安全芯片供应商紫光同芯,在管理领域已开展近两年深度合作。期间,广立微DE-YMS系统凭借其快速、精准的损失根因定位能力,有效应对了日益复杂的芯片制造挑战,显著提升了紫光同芯的管理效率与水平。
2025-09-06 15:02:351354

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