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SN54ABT8652 具有八路总线收发器和寄存器的扫描测试设备

数据:

描述

带有八进制总线收发器和寄存器的ABT8652扫描测试设备是德州仪器SCOPE TM 可测性集成电路系列的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描,便于测试复杂的电路板组件。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下,这些器件在功能上等同于'F652和'ABT652八进制总线收发器和寄存器。测试电路可以由TAP激活,以获取出现在器件引脚上的数据的快照样本,或者对边界测试单元执行自测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE TM 八进制总线收发器和寄存器的功能操作。

控制每个方向的数据流按时钟(CLKAB和CLKBA),选择(SAB和SBA)和输出使能(OEAB和)输入。对于A到B数据流,A总线上的数据在CLKAB的低到高转换时被输入相关寄存器。当SAB为低时,选择实时A数据以呈现给B总线(透明模式)。当SAB为高时,选择存储的A数据以呈现给B总线(注册模式)。当OEAB为高电平时,B输出有效。当OEAB为低电平时,B输出处于高阻态。 B-to-A数据流的控制类似于A-to-B数据流的控制,但使用CLKBA,SBA和输入。由于输入为低电平有效,当为低并且在很高。图1显示了可以使用'ABT8652执行的四种基本总线管理功能。

在测试模式下,SCOPE TM 总线收发器和寄存器的正常操作是禁止并且使测试电路能够观察和控制设备的I /O边界。启用后,测试电路执行边界扫描测试操作,如IEEE标准1149.1-1990所述。

四个专用测试引脚控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI),测试数据输出(TDO),测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。另外,测试电路执行其他测试功能,例如数据输入上的并行签名分析(PSA)和来自数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。

SN54ABT8652的特点是可在-55°C至125°C的整个军用温度范围内工作。 SN74ABT8652的工作温度范围为-40°C至85°C。

特性

  • 德州仪器SCOPE TM 可测性产品系列的成员
  • 与IEEE兼容标准1149.1-1990(JTAG)测试访问端口和边界扫描架构
  • 在功能上等效于正常功能模式下的'F652和'ABT652
  • SCOPE TM 指令集
    • IEEE标准1149.1-1990必需指令,可选INTEST,CLAMP和HIGHZ
    • 带掩码选项的输入并行签名分析
    • 伪 - 从输出生成随机模式
    • 样本输入/切换输出
    • 输出的二进制计数
    • 偶数奇偶校验操作码
  • 每I /O两个边界扫描单元以提高灵活性
  • 最先进的EPIC-IIB TM BiCMOS设计显着降低功耗
  • 封装选项包括收缩小外形(DL)和塑料小外形(DW)封装,陶瓷芯片载体(FK)和标准陶瓷DIP s(JT)

SCOPE和EPIC-IIB是德州仪器公司的商标。

参数 与其它产品相比 收发器

 
Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
Rating
Operating Temperature Range (C)
SN54ABT8652
ABT    
4.5    
5.5    
8    
Military    
-55 to 125    

技术文档

数据手册(1)
元器件购买 SN54ABT8652 相关库存