利用PADS可测试性设计优化PCB测试点和DFT审核
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。
举报投诉
-
pcb
+关注
关注
4415文章
23955浏览量
426011 -
设计
+关注
关注
4文章
828浏览量
71484 -
PADS
+关注
关注
83文章
821浏览量
111738
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
11：如何在 Allegro 中添加自定义的测试点 I Allegro PCB 设计小诀窍
背景介绍： 为了对加工后的PCB性能进行测试，我们在进行PCB设计时，通常会在PCB上一些关键位置添加测试点，Allegro
发表于 04-16 17:07
08. 如何在 Allegro中设置禁止添加测试点区域？| 芯巧Allegro PCB 设计小诀窍
背景介绍： 我们在进行PCB设计时，为了方便对加工后的PCB进行测试，通常会为关键性元件添加测试点，但是在
发表于 04-10 10:56
PCB焊接质量对比测试怎么做？推拉力测试机应用实测
力测试机来进行不同PCB板同位置焊点推力对比测试，帮助大家在键合工艺优化、质量一致性管控和失效分析中提供有效参考。 一、
技术资讯 I PCB设计的可测试性：初学者实用指南
第一次设计PCB电路板时，设计者很容易将全部精力投入到功能实现、布局设计和元器件选型中。而可测试性（Testability，PCB设计核心指
芯片测试覆盖率99%就够了吗？给DFT设计提个醒
充分。必须将硅后验证向量导入ATPG工具进行覆盖率分析，否则会形成测试盲区。
二、从测试困境到DFT设计反馈
测试工程师的挑战应前置于设计阶段解决。
发表于 02-06 11:06
【「龙芯之光 自主可控处理器设计解析」阅读体验】+可测试性设计章节阅读与自己的一些感想
，也分享下 自己的一些感想。 先介绍了两个术语DFT可测试性 设计，ATE自动测试设备，DFT目
发表于 01-15 23:30
测试点氧化或污浊时的应急技巧：点对点对地电阻测试如何获得真实数据
在点对点对地电阻测试中，测试点的氧化、生锈或附着油污、灰尘等污浊物，会在接触表面形成额外电阻层，导致测试数据虚高或波动频繁，难以反映真实的接地电阻状态。面对这类突发情况，无需依赖专业清洁设备，通过
Texas Instruments TPS22991EVM评估模块数据手册
进出被测器件的低电阻路径。测试点连接使用户能够利用用户定义的测试条件控制TI TPS22991EVM和进行精确的R~ON~ 测量。
高压继电器如何提升安规与线缆测试的效率和安全性？
一过程中扮演着至关重要的角色。在多点高压扫描测试中，高压继电器的快速切换能力能够实现不同测试点之间的快速切换，提高测试效率。高压继电器在线缆测试中的应用线缆
标准电阻器不接PCB的地，电阻测量结果就波动大
标准电阻器不接PCB的地，电阻测量结果就波动大，需要电阻箱上面的接地和PCB接地测试点连一起，这个是因为什么，是因为PCB接地不能用测试点裸
发表于 06-17 13:08
借助DFT技术实现竞争力最大化
通过改进和优化设计与制造的各个方面，半导体行业已经能够实现 IC 能力的巨大进步。可测试性设计 (DFT)——涵盖从在 RTL 中插入
评论