电池监测电路前端设计:ADG5408与AD8226的应用
在电子工程师的日常工作中,电池监测系统(BMS)的设计是常见且关键的任务,特别是在工业或过程自动化等易出现瞬态的环境中。今天我们就来深入探讨一款由ADI公司设计的鲁棒、低功耗电池监测电路前端——CN - 0253。
文件下载:EVAL-CN0253-SDPZ.pdf
1. 电路功能与优势
1.1 整体设计目标
该电路旨在为可能出现瞬态的环境设计一个可靠的电池监测前端。它通过ADG5408 8通道CMOS多路复用器和AD8226仪表放大器,实现对单个电池单元的精确电压监测,且具有低功耗和低成本的特点,还无需额外的外部瞬态保护电路。
1.2 解决的关键问题:防止闩锁
传统CMOS开关在瞬态过压条件下可能会发生闩锁现象。在结隔离技术中,PMOS和NMOS晶体管的N阱和P阱会形成寄生可控硅整流器(SCR)电路。过压条件会触发这个SCR,导致电流显著放大,进而引发闩锁。闩锁是一种不希望出现的高电流状态,可能导致设备故障,并且只有在关闭电源后才能停止。
而本设计中使用的两个多路复用器和仪表放大器(IA)具有强大的输入。ADG5408是一款高压8:1多路复用器,采用沟槽隔离技术,能防止闩锁状态,减少了对外部保护电路的需求。不过,闩锁防护并不保证过压保护,只是意味着开关不会进入高电流SCR模式。此外,ADG5408的人体模型静电放电(ESD)额定值为8 kV。
AD8226是一款低成本、低功耗的仪表放大器,输入强大,能处理来自相反电源轨高达40 V的输入电压,同时将输出限制在电源轨范围内。例如,在±18 V电源下,AD8226的正或负输入可以在±22 V之间摆动而不会损坏。其所有输入都通过内部二极管进行ESD保护。
2. 电路描述
2.1 电池监测原理
BMS需要评估电池组中每个电池的电压,以确定电池的充电状态(SOC)和健康状态(SOH)。通过使用两个多路复用器对电池组的端子进行多路复用,可以评估每个电池的电压。
2.2 ADG5408的特性
ADG5408每通道的导通电阻较低,典型值为13.5 Ω,在整个温度范围内最大为22 Ω。输入失调电流最大为2 nA,因此在通道电阻上产生的误差电压最大为44 nV。
2.3 闩锁测试对比
图2展示了典型CMOS开关(带外延层)和ADG5408在闩锁测试中的结果对比。测试时,对引脚施加1 ms的应力电流作为触发,触发后测量引脚的电流。从图中可以看出,典型CMOS开关在 - 290 mA时达到闩锁电流,而ADG5408在测试结束( - 510 mA)时仍未发生闩锁。
3. 常见变化
对于使用四个或更少电池的电池组,可以使用单个ADG5409的四个差分通道。ADG5409将四个差分输入切换到单个差分输出,并且与ADG5408具有相同的闩锁防护结构。
4. 电路评估与测试
4.1 所需设备
如果需要使用PC控制EVAL - CN0253 - SDPZ板,还需要:
- 带有USB端口的PC,运行Windows® XP、Windows Vista®(32/64位)或Windows 7(32/64位)
- EVAL - SDP - CS1Z SDP
- CN - 0253评估软件
4.2 测试步骤
4.2.1 独立使用
仅在独立使用时,需要EVAL - CN0253 - SDPZ板、电源和测试电池。
4.2.2 使用PC编程
将CN - 0253评估软件CD放入PC的CD驱动器,加载评估软件。通过“我的电脑”找到包含评估软件CD的驱动器,打开Readme文件,按照说明安装和使用评估软件。
4.2.3 测试设置
关闭电源输出,将 + 18 V电源连接到J3 - 1引脚(VDD_EXT), - 18 V电源连接到J3 - 3引脚(VSS_EXT),接地连接到J3 - 2引脚(GND_EXT)。将测试电池连接到电池接口。确保未连接电池的电池接口上保留链接头。
如果需要使用计算机控制电路板,重要的是移除EN、A0、A1和A2链接头。如果使用EVAL - SDP - CS1Z,使用120引脚连接器将其连接到EVAL - CN0253 - SDPZ板,并使用尼龙硬件固定连接。
4.2.4 测试过程
向±18 V电源供电。使用板上的EN链接启用ADG5408多路复用器的输出。使用板上的A0、A1和A2链接选择要测试的电池。SMB连接器VOUT可用于连接到单独的ADC评估板,如EVAL - AD7298SDZ,或使用数字电压表手动测试。
如果需要计算机控制,使用USB电缆将EVAL - SDP - CS1Z连接到PC,启动CN - 0253评估软件,按照手动测试的方式测试电池电压。如果使用EVAL - SDP - CS1Z,还提供了一个额外的5 V电源引脚。
5. 学习资源
- CN - 0253设计支持包:[http://www.analog.com/CN0253 - DesiignSupport](http://www.analog.com/CN0253 - DesiignSupport)
- 相关教程和文章:
- Ardizzoni, John. A Practical Guide to High - Speed PrintedCircuit - Board Layout, Analog Dialogue 39 - 09, September 2005.
- Redmond, Catherine, Winning the Battle Against Latchup in CMOS Analog Switches, Analog Dialogue Volume 35, Number 5, October, 2001, Analog Devices.
- MT - 031 Tutorial, Grounding Data Converters and Solving the Mystery of “AGND” and “DGND”, Analog Devices.
- MT - 069 Tutorial, In - Amp Input Overvoltage Protection, Analog Devices.
- MT - 088 Tutorial, Analog Switches and Multiplexers Basics, Analog Devices.
- MT - 092 Tutorial, Electrostatic Discharge (ESD), Analog Devices.
- MT - 101 Tutorial, Decoupling Techniques, Analog Devices.
6. 数据手册和评估板
- CN - 0253电路评估板(EVAL - CN0253 - SDPZ)
- 系统演示平台(EVAL - SDP - CB1Z)
- ADG5408数据手册和评估板
- ADG5409数据手册和评估板
- AD8226数据手册和评估板
在实际设计中,你是否遇到过类似的闩锁问题?又是如何解决的呢?欢迎在评论区分享你的经验。
-
ADG5408
+关注
关注
0文章
5浏览量
8407 -
AD8226
+关注
关注
0文章
6浏览量
11411
发布评论请先 登录
电池监测电路前端设计:ADG5408与AD8226的应用
评论