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探索FDS8858CZ:双N与P沟道PowerTrench® MOSFET的卓越性能

我快闭嘴 2026-04-20 15:45 次阅读
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探索FDS8858CZ:双N与P沟道PowerTrench® MOSFET的卓越性能

电子工程师的日常工作中,选择合适的MOSFET对于电路设计的成功至关重要。今天,我们将深入探讨安森美半导体(ON Semiconductor,现更名为onsemi)的FDS8858CZ双N与P沟道PowerTrench® MOSFET,了解其特点、参数及应用。

文件下载:FDS8858CZ-D.PDF

产品概述

FDS8858CZ是一款采用先进PowerTrench工艺制造的双N与P沟道增强型功率MOSFET。这种工艺经过特别优化,能够有效降低导通电阻,同时保持出色的开关性能。该器件适用于对低线路功率损耗和快速开关有要求的低压和电池供电应用。

关键特性

电气特性

  • N沟道参数:耐压30V,连续漏极电流8.6A,导通电阻在VGS = 10V、ID = 8.6A时最大为17mΩ;在VGS = 4.5V、ID = 7.3A时最大为20mΩ。
  • P沟道参数:耐压 -30V,连续漏极电流 -7.3A,导通电阻在VGS = -10V、ID = -7.3A时最大为20.5mΩ;在VGS = -4.5V、ID = -5.6A时最大为34.5mΩ。

其他特性

  • 高功率处理能力:采用广泛使用的表面贴装封装,能够处理较高的功率。
  • 快速开关速度:可以实现快速的开关动作,满足高速电路的需求。

最大额定值与热特性

最大额定值

参数 Q1(N沟道) Q2(P沟道) 单位
漏源电压(VDS) 30 -30 V
栅源电压(VGS) ±20 ±25 V
连续漏极电流(TA = 25°C) 8.6 -7.3 A
脉冲漏极电流 20 -20 A
单脉冲雪崩能量(EAS) 50 11 mJ
双操作功率耗散 2.0 - W
单操作功率耗散(TA = 25°C) 1.6(注1a)
0.9(注1c)
- W
工作和存储结温范围 -55 至 +150 -55 至 +150 °C

热特性

  • 结到外壳的热阻(RθJC):40°C/W
  • 结到环境的热阻(RθJA):78°C/W(注1a)

热阻参数对于评估器件在不同散热条件下的性能非常重要,工程师在设计时需要根据实际应用场景合理考虑散热措施。

电气特性详解

关断特性

  • 漏源击穿电压(BVDSS):Q1为30V,Q2为 -30V。
  • 击穿电压温度系数(ΔBVDSS/ΔTJ):Q1为22mV/°C,Q2为 -22mV/°C。
  • 零栅压漏极电流(IDSS):Q1为1μA,Q2为 -1μA。
  • 栅源泄漏电流(IGSS):Q1和Q2在VGS = ±20V(Q1)、VGS = ±25V(Q2)且VDS = 0V时均为±10μA。

导通特性

  • 栅源阈值电压(VGS(th)):Q1为1 - 3V,Q2为 -1 - -3V。
  • 栅源阈值电压温度系数(ΔVGS(th)/ΔTJ):Q1为 -5.4mV/°C,Q2为6.0mV/°C。
  • 静态漏源导通电阻(rDS(on)):不同条件下有不同取值,具体可参考文档中的详细数据。

动态特性

  • 输入电容(Ciss):Q1为905 - 1205pF,Q2为1675 - 2230pF。
  • 输出电容(Coss):Q1为180 - 240pF,Q2为290 - 390pF。
  • 反向传输电容(Crss):Q1为110 - 165pF,Q2为260 - 390pF。
  • 栅极电阻(Rg):Q1为1.3Ω,Q2为4.4Ω。

开关特性

  • 导通延迟时间(td(on)):Q1为7 - 14ns,Q2为9 - 18ns。
  • 上升时间(tr):Q1为3 - 10ns,Q2为10 - 20ns。
  • 关断延迟时间(td(off)):Q1为19 - 35ns,Q2为33 - 53ns。
  • 下降时间(tf:Q1为3 - 10ns,Q2为16 - 29ns。
  • 总栅极电荷(Qg(TOT)):Q1为17 - 24nC,Q2为33 - 46nC。
  • 栅源电荷(Qgs):Q1和Q2均为2.7 - 6.1nC。
  • 栅漏“米勒”电荷(Qgd):Q1和Q2均为3.4 - 8.5nC。

漏源二极管特性

  • 源漏二极管正向电压(VSD:Q1为0.8 - 1.2V,Q2为 -0.9 - -1.2V。
  • 反向恢复时间(trr):Q1为25 - 38ns,Q2为28 - 42ns。
  • 反向恢复电荷(Qrr):Q1为19 - 29nC,Q2为22 - 33nC。

这些电气特性为工程师在设计电路时提供了重要的参考依据,需要根据具体的应用需求进行合理选择和优化。

典型特性曲线

文档中提供了丰富的典型特性曲线,包括N沟道和P沟道的导通区域特性、归一化导通电阻与漏极电流和栅极电压的关系、归一化导通电阻与结温的关系、导通电阻与栅源电压的关系、传输特性、源漏二极管正向电压与源电流的关系、栅极电荷特性、电容与漏源电压的关系、非钳位电感开关能力、栅极泄漏电流与栅源电压的关系、最大连续漏极电流与环境温度的关系以及正向偏置安全工作区等。这些曲线直观地展示了器件在不同条件下的性能表现,工程师可以通过这些曲线进一步了解器件的特性,为电路设计提供更准确的参考。

应用领域

FDS8858CZ适用于多种应用场景,如逆变器和同步降压电路等。在这些应用中,其低导通电阻和快速开关速度能够有效降低功率损耗,提高电路效率。

注意事项

  • 安森美半导体保留对产品或信息进行更改的权利,且不另行通知。
  • 文档中的“典型”参数在不同应用中可能会有所变化,实际性能可能会随时间变化。因此,所有工作参数(包括“典型值”)都必须由客户的技术专家针对每个客户应用进行验证。
  • 该产品不设计、不打算也未获授权用于生命支持系统、任何FDA 3类医疗设备或在外国司法管辖区具有相同或类似分类的医疗设备,或任何用于人体植入的设备。如果买方将产品用于此类非预期或未经授权的应用,买方应赔偿并使安森美半导体及其官员、员工、子公司、附属公司和分销商免受因与此类非预期或未经授权使用相关的任何人身伤害或死亡索赔而产生的所有索赔、成本、损害和费用,以及合理的律师费。

在使用FDS8858CZ进行电路设计时,电子工程师需要充分了解其特性和参数,结合实际应用需求进行合理设计,并严格遵守相关的注意事项,以确保电路的可靠性和稳定性。你在使用这款MOSFET时遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。

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