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深入解析FDP2710 N - 通道PowerTrench® MOSFET

lhl545545 2026-04-15 10:50 次阅读
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深入解析FDP2710 N - 通道PowerTrench® MOSFET

一、背景与整合说明

Fairchild半导体现已成为ON Semiconductor的一部分。在整合过程中,部分Fairchild可订购的零件编号需更改以符合ON Semiconductor的系统要求。由于ON Semiconductor产品管理系统无法处理含下划线(_)的零件命名,Fairchild零件编号中的下划线将改为破折号(-)。大家可访问ON Semiconductor网站(www.onsemi.com)核实更新后的设备编号。

文件下载:FDP2710-D.pdf

二、FDP2710 MOSFET概述

(一)基本参数

FDP2710是一款N - 通道PowerTrench® MOSFET,具备250 V的耐压、50 A的电流处理能力以及42.5 mΩ的导通电阻。具体特性参数如下:

  • 当(V{GS}=10 V)、(I{D}=25 A)时,典型导通电阻(R_{DS(on)} = 36.3 mΩ)。
  • 拥有快速开关速度和低栅极电荷。
  • 采用高性能沟槽技术,实现极低的(R_{DS(on)})。
  • 具备高功率和电流处理能力,且符合RoHS标准。

(二)技术原理

它采用Fairchild Semiconductor先进的PowerTrench®工艺生产,该工艺在保持卓越开关性能的同时,能有效降低导通电阻。

三、绝对最大额定值

符号 参数 FDP2710 单位
(V_{DS}) 漏源电压 250 V
(V_{GS}) 栅源电压 ± 30 V
(I_{D}) 漏极电流(连续,(T_{C}=25^{circ}C)) 50 A
(I_{D}) 漏极电流(连续,(T_{C}=100^{circ}C)) 31.3 A
(I_{DM}) 漏极电流(脉冲,注1) 见图9 A
(E_{AS}) 单脉冲雪崩能量(注2) 145 mJ
(dv/dt) 峰值二极管恢复(dv/dt)(注3) 4.5 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) - 25 °C以上降额 260
2.1
W
W/ °C
(T{J}, T{STG}) 工作和储存温度范围 -55 至 +150 °C
(T_{L}) 焊接用最大引脚温度,距外壳1/8”,5秒 300 °C

注:

  1. 重复额定值:脉冲宽度受最大结温限制。
  2. (L = 1mH),(I{AS} = 17A),(v{DO}=50 v{i}),(R{G}=25 Omega),起始(T_{J}=25^{circ}C)。
  3. (I{SD} ≤50 A),(dI/dt ≤100A/μs),(V{DO} ≤BV{DSS}),起始(T{J}=25^{circ}C)。

四、热特性

符号 参数 FDP2710 单位
(R_{θJC}) 结到外壳的热阻,最大 0.48 °C/W
(R_{θJA}) 结到环境的热阻,最大 62.5 °C/W

五、电气特性

(一)关断特性

  • 漏源击穿电压(BV{DSS}):(V{GS}=0V),(I{D}=250 μA),(T{J}=25^{circ}C)时,为250 V。
  • 击穿电压温度系数(Delta BV{DSS} / Delta T{J}):(I_{D}=250 μA),参考25 °C时,典型值为0.25 V/ °C。
  • 零栅压漏极电流(I{DSS}):(V{DS}=250V),(V{GS}=0V);(V{DS}=250V),(V{GS}=0V),(T{C}=125^{circ}C)时,最大值分别为10 μA和500 μA。
  • 栅体正向泄漏电流(I{GSSF}):(V{GS}=30V),(V_{DS}=0V)时,最大值为100 nA。
  • 栅体反向泄漏电流(I{GSSR}):(V{GS}=-30V),(V_{DS}=0V)时,最大值为 - 100 nA。

(二)导通特性

  • 栅极阈值电压(V{GS(th)}):(V{DS}=V{GS}),(I{D}=250 μA)时,范围为3.0 - 5.0 V,典型值4.0 V。
  • 静态漏源导通电阻(R{DS(on)}):(V{GS}=10V),(I_{D}=25A)时,典型值36.3 mΩ,最大值42.5 mΩ。
  • 正向跨导(g{FS}):(V{DS}=10V),(I_{D}=25A)时,典型值63 S。

(三)动态特性

  • 输入电容(C{iss}):(V{DS}=25V),(V_{GS}=0V),(f = 1.0MHz)时,典型值5470 pF,最大值7280 pF。
  • 输出电容(C_{oss}):典型值426 pF,最大值570 pF。
  • 反向传输电容(C_{rss}):典型值97 pF,最大值146 pF。

(四)开关特性

  • 开启延迟时间(t{d(on)}):(V{DD}=125V),(I{D}=50A),(V{GS}=10V),(R_{GEN}=25 Ω)(注4)时,典型值80 ns,最大值170 ns。
  • 开启上升时间(t_{r}):典型值252 ns,最大值515 ns。
  • 关断延迟时间(t_{d(off)}):典型值112 ns,最大值235 ns。
  • 关断下降时间(t_{f}):典型值154 ns,最大值320 ns。
  • 总栅极电荷(Q{g}):(V{DS}=125V),(I{D}=50A),(V{GS}=10V)(注4)时,典型值78 nC,最大值101 nC。
  • 栅源电荷(Q_{gs}):典型值34 nC。
  • 栅漏电荷(Q_{gd}):典型值18 nC。

(五)漏源二极管特性和最大额定值

  • 最大连续漏源二极管正向电流(I_{S}):50 A。
  • 最大脉冲漏源二极管正向电流(I_{SM}):150 A。
  • 漏源二极管正向电压(V{SD}):(V{GS}=0V),(I_{S}=50A)时,最大值1.2 V。
  • 反向恢复时间(t{rr}):(V{GS}=0V),(I{S}=50A),(dI{F} /dt =100A/μs)时,典型值163 ns。
  • 反向恢复电荷(Q_{rr}):典型值1.3 μC。

注4:基本与工作温度无关。

六、典型性能特性

文档中给出了多个典型性能特性图,如导通区域特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、转移特性、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流与外壳温度的关系、瞬态热响应曲线等。这些特性图能帮助工程师更好地了解FDP2710在不同条件下的性能表现。

七、应用领域

FDP2710适用于消费电器中的同步整流应用。在实际设计中,工程师可根据其特性参数,合理应用于相关电路,以实现高效的功率转换和控制。

八、注意事项

(一)零件编号更改

由于整合,部分Fairchild零件编号中的下划线将改为破折号,需留意网站信息核实更新编号。

(二)使用限制

ON Semiconductor产品不适合用于生命支持系统、FDA Class 3医疗设备或类似分类的医疗设备以及人体植入设备。若买家将其用于非预期或未经授权的应用,需承担相应责任。

(三)参数验证

“典型”参数在不同应用中会有所变化,实际性能也会随时间改变,所有工作参数都需由客户的技术专家针对每个客户应用进行验证。

作为电子工程师,在使用FDP2710 MOSFET时,要充分了解其各项特性和注意事项,结合实际应用需求进行合理设计,才能发挥其最佳性能。大家在实际应用中是否遇到过类似MOSFET的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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