深入解析FDP2710 N - 通道PowerTrench® MOSFET
一、背景与整合说明
Fairchild半导体现已成为ON Semiconductor的一部分。在整合过程中,部分Fairchild可订购的零件编号需更改以符合ON Semiconductor的系统要求。由于ON Semiconductor产品管理系统无法处理含下划线(_)的零件命名,Fairchild零件编号中的下划线将改为破折号(-)。大家可访问ON Semiconductor网站(www.onsemi.com)核实更新后的设备编号。
文件下载:FDP2710-D.pdf
二、FDP2710 MOSFET概述
(一)基本参数
FDP2710是一款N - 通道PowerTrench® MOSFET,具备250 V的耐压、50 A的电流处理能力以及42.5 mΩ的导通电阻。具体特性参数如下:
- 当(V{GS}=10 V)、(I{D}=25 A)时,典型导通电阻(R_{DS(on)} = 36.3 mΩ)。
- 拥有快速开关速度和低栅极电荷。
- 采用高性能沟槽技术,实现极低的(R_{DS(on)})。
- 具备高功率和电流处理能力,且符合RoHS标准。
(二)技术原理
它采用Fairchild Semiconductor先进的PowerTrench®工艺生产,该工艺在保持卓越开关性能的同时,能有效降低导通电阻。
三、绝对最大额定值
| 符号 | 参数 | FDP2710 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DS}) | 漏源电压 | 250 | V |
| (V_{GS}) | 栅源电压 | ± 30 | V |
| (I_{D}) | 漏极电流(连续,(T_{C}=25^{circ}C)) | 50 | A |
| (I_{D}) | 漏极电流(连续,(T_{C}=100^{circ}C)) | 31.3 | A |
| (I_{DM}) | 漏极电流(脉冲,注1) | 见图9 | A |
| (E_{AS}) | 单脉冲雪崩能量(注2) | 145 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二极管恢复(dv/dt)(注3) | 4.5 | V/ns |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) - 25 °C以上降额 | 260 2.1 |
W W/ °C |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和储存温度范围 | -55 至 +150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接用最大引脚温度,距外壳1/8”,5秒 | 300 | °C |
注:
- 重复额定值:脉冲宽度受最大结温限制。
- (L = 1mH),(I{AS} = 17A),(v{DO}=50 v{i}),(R{G}=25 Omega),起始(T_{J}=25^{circ}C)。
- (I{SD} ≤50 A),(dI/dt ≤100A/μs),(V{DO} ≤BV{DSS}),起始(T{J}=25^{circ}C)。
四、热特性
| 符号 | 参数 | FDP2710 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 结到外壳的热阻,最大 | 0.48 | °C/W |
| (R_{θJA}) | 结到环境的热阻,最大 | 62.5 | °C/W |
五、电气特性
(一)关断特性
- 漏源击穿电压(BV{DSS}):(V{GS}=0V),(I{D}=250 μA),(T{J}=25^{circ}C)时,为250 V。
- 击穿电压温度系数(Delta BV{DSS} / Delta T{J}):(I_{D}=250 μA),参考25 °C时,典型值为0.25 V/ °C。
- 零栅压漏极电流(I{DSS}):(V{DS}=250V),(V{GS}=0V);(V{DS}=250V),(V{GS}=0V),(T{C}=125^{circ}C)时,最大值分别为10 μA和500 μA。
- 栅体正向泄漏电流(I{GSSF}):(V{GS}=30V),(V_{DS}=0V)时,最大值为100 nA。
- 栅体反向泄漏电流(I{GSSR}):(V{GS}=-30V),(V_{DS}=0V)时,最大值为 - 100 nA。
(二)导通特性
- 栅极阈值电压(V{GS(th)}):(V{DS}=V{GS}),(I{D}=250 μA)时,范围为3.0 - 5.0 V,典型值4.0 V。
- 静态漏源导通电阻(R{DS(on)}):(V{GS}=10V),(I_{D}=25A)时,典型值36.3 mΩ,最大值42.5 mΩ。
- 正向跨导(g{FS}):(V{DS}=10V),(I_{D}=25A)时,典型值63 S。
(三)动态特性
- 输入电容(C{iss}):(V{DS}=25V),(V_{GS}=0V),(f = 1.0MHz)时,典型值5470 pF,最大值7280 pF。
- 输出电容(C_{oss}):典型值426 pF,最大值570 pF。
- 反向传输电容(C_{rss}):典型值97 pF,最大值146 pF。
(四)开关特性
- 开启延迟时间(t{d(on)}):(V{DD}=125V),(I{D}=50A),(V{GS}=10V),(R_{GEN}=25 Ω)(注4)时,典型值80 ns,最大值170 ns。
- 开启上升时间(t_{r}):典型值252 ns,最大值515 ns。
- 关断延迟时间(t_{d(off)}):典型值112 ns,最大值235 ns。
- 关断下降时间(t_{f}):典型值154 ns,最大值320 ns。
- 总栅极电荷(Q{g}):(V{DS}=125V),(I{D}=50A),(V{GS}=10V)(注4)时,典型值78 nC,最大值101 nC。
- 栅源电荷(Q_{gs}):典型值34 nC。
- 栅漏电荷(Q_{gd}):典型值18 nC。
(五)漏源二极管特性和最大额定值
- 最大连续漏源二极管正向电流(I_{S}):50 A。
- 最大脉冲漏源二极管正向电流(I_{SM}):150 A。
- 漏源二极管正向电压(V{SD}):(V{GS}=0V),(I_{S}=50A)时,最大值1.2 V。
- 反向恢复时间(t{rr}):(V{GS}=0V),(I{S}=50A),(dI{F} /dt =100A/μs)时,典型值163 ns。
- 反向恢复电荷(Q_{rr}):典型值1.3 μC。
注4:基本与工作温度无关。
六、典型性能特性
文档中给出了多个典型性能特性图,如导通区域特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、转移特性、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流与外壳温度的关系、瞬态热响应曲线等。这些特性图能帮助工程师更好地了解FDP2710在不同条件下的性能表现。
七、应用领域
FDP2710适用于消费电器中的同步整流应用。在实际设计中,工程师可根据其特性参数,合理应用于相关电路,以实现高效的功率转换和控制。
八、注意事项
(一)零件编号更改
由于整合,部分Fairchild零件编号中的下划线将改为破折号,需留意网站信息核实更新编号。
(二)使用限制
ON Semiconductor产品不适合用于生命支持系统、FDA Class 3医疗设备或类似分类的医疗设备以及人体植入设备。若买家将其用于非预期或未经授权的应用,需承担相应责任。
(三)参数验证
“典型”参数在不同应用中会有所变化,实际性能也会随时间改变,所有工作参数都需由客户的技术专家针对每个客户应用进行验证。
作为电子工程师,在使用FDP2710 MOSFET时,要充分了解其各项特性和注意事项,结合实际应用需求进行合理设计,才能发挥其最佳性能。大家在实际应用中是否遇到过类似MOSFET的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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