深入剖析FQB34N20L N-Channel QFET® MOSFET
一、前言
在电子工程领域,功率MOSFET是不可或缺的关键元件,广泛应用于各类电源管理和开关电路中。今天,我们将深入探讨FAIRCHILD(现属ON Semiconductor)的FQB34N20L N-Channel QFET® MOSFET,了解其特性、参数及应用场景。
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二、产品概述
FQB34N20L是一款N-Channel增强模式功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor专有的平面条纹和DMOS技术。该先进技术旨在降低导通电阻,提供卓越的开关性能和高雪崩能量强度。此器件适用于开关模式电源、有源功率因数校正(PFC)和电子灯镇流器等应用。
三、关键特性
3.1 电气性能
- 高电流与耐压能力:具备31 A的连续漏极电流((T_{C}=25^{circ}C))和200 V的漏源电压,能满足许多中高功率应用的需求。
- 低导通电阻:在(V{GS}=10 V)和(I{D}=15.5 A)条件下,最大导通电阻(R_{DS(on)}=75 mOmega),可有效降低导通损耗,提高效率。
- 低栅极电荷:典型栅极电荷仅55 nC,意味着更快的开关速度和更低的驱动损耗。
- 低Crss:典型值为52 pF,有助于减少开关过程中的米勒效应,提升开关性能。
- 全雪崩测试:经过100%雪崩测试,保证了器件在雪崩工况下的可靠性。
3.2 驱动要求
该器件具有低电平栅极驱动要求,可直接由逻辑驱动器操作,简化了驱动电路设计。
3.3 环境与兼容性
符合RoHS标准,满足环保要求。
四、参数详解
4.1 绝对最大额定值
| 符号 | 参数 | FQB34N20LTM值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源电压 | 200 | V |
| (I_{D}) | 连续漏极电流((T_{C}=25^{circ}C)) | 31 | A |
| 连续漏极电流((T_{C}=100^{circ}C)) | 20 | A | |
| (I_{DM}) | 脉冲漏极电流(注1) | 124 | A |
| (V_{GSS}) | 栅源电压 | ± 20 | V |
| (E_{AS}) | 单脉冲雪崩能量(注2) | 640 | mJ |
| (I_{AR}) | 雪崩电流(注1) | 31 | A |
| (E_{AR}) | 重复雪崩能量(注1) | 18 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二极管恢复dv/dt(注3) | 5.5 | V/ns |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) | 3.13 | W |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 180 | W | |
| 25°C以上降额 | 1.43 | W/°C | |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和储存温度范围 | -55 to +150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接最大引线温度(距外壳1/8”,5秒) | 300 | °C |
注:
- 重复额定值:脉冲宽度受最大结温限制。
- (L = 1.0mH),(I{AS}=31A),(V{DD}=50V),(R{G}=25 Ω),起始(T{J}=25^{circ}C)。
- (I{SD} ≤ 34A),(di/dt ≤ 300A/µs),(V{DD} ≤ B{V DSS}),起始(T{J}=25^{circ}C)。
4.2 热特性
| 符号 | 参数 | FQB34N20LTM值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (R_{theta JC}) | 结到外壳热阻(最大) | 0.7 | (^{circ}C/W) |
| (R_{theta JA}) | 结到环境热阻(2 oz铜最小焊盘,最大) | 62.5 | (^{circ}C/W) |
| 结到环境热阻(2 oz铜1 in²焊盘,最大) | 40 | (^{circ}C/W) |
4.3 电气特性
包含关断特性、导通特性、动态特性、开关特性以及漏源二极管特性等,具体参数可参考文档。例如,栅极阈值电压(V{GS(th)})在(V{DS}=V{GS}),(I{D}=250 µA)时为1.0 - 2.0 V。
五、典型特性曲线
文档中给出了多个典型特性曲线,如导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化以及瞬态热响应曲线等。这些曲线能帮助工程师更直观地了解器件在不同工况下的性能表现。大家在实际设计电路时,是否会充分利用这些曲线来优化电路设计呢?
六、电路测试与波形
文档还提供了多种测试电路及波形,包括栅极电荷测试电路、电阻性开关测试电路、无钳位电感开关测试电路和峰值二极管恢复dv/dt测试电路等。这些测试电路和波形有助于工程师验证器件在实际应用中的性能,确保电路的可靠性和稳定性。在进行电路测试时,你遇到过哪些挑战呢?
七、机械尺寸与包装信息
器件采用D2-PAK封装,文档给出了详细的机械尺寸图。同时,包装信息包括器件标记、封装形式、卷盘尺寸、胶带宽度和数量等,方便工程师进行采购和布局设计。
八、商标与相关政策
文中列举了Fairchild Semiconductor拥有的众多商标,涵盖了其多种产品线和技术。此外,还介绍了产品的免责声明、生命支持政策、防伪政策和产品状态定义等重要信息。在选择电子元件时,大家是否会关注这些政策和声明呢?
九、总结
FQB34N20L N-Channel QFET® MOSFET凭借其优异的性能和丰富的特性,在众多功率应用场景中具有很大的优势。电子工程师在设计开关模式电源、PFC电路和电子灯镇流器等时,可充分考虑该器件。但在实际应用中,需根据具体需求和工况,结合器件的各项参数和特性曲线进行合理设计和验证。希望通过对该器件的深入剖析,能为大家的设计工作提供一些有价值的参考。你在使用类似MOSFET器件时,有什么独特的经验或技巧吗?欢迎在评论区分享。
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