Onsemi NTH4LN067N65S3H MOSFET:满足高效电力系统需求的理想之选
在电子工程领域,MOSFET作为关键的功率半导体器件,其性能直接影响着各类电力系统的效率和稳定性。Onsemi推出的NTH4LN067N65S3H MOSFET,凭借其卓越的性能和先进的技术,成为众多电力系统应用的理想选择。
产品概述
NTH4LN067N65S3H属于Onsemi的SUPERFET III系列,这是一款全新的高压超结(SJ)MOSFET产品。它采用了电荷平衡技术,具有出色的低导通电阻和较低的栅极电荷性能。这种先进技术不仅能有效降低传导损耗,还具备卓越的开关性能,能够承受极高的dv/dt速率。因此,SUPERFET III MOSFET FAST系列非常适合各种追求小型化和高效率的电力系统。
产品特性
电气性能优越
- 耐压能力强:在TJ = 150°C时,可承受700V的电压;正常工作时,漏源击穿电压(BVDSS)在TJ = 25°C时为650V,TJ = 150°C时可达700V。
- 低导通电阻:典型的RDS(on)为55mΩ,在VGS = 10V、ID = 20A的测试条件下,最大RDS(on)为67mΩ,能有效降低导通损耗。
- 低栅极电荷:典型的Qg = 80nC,可减少开关过程中的能量损耗,提高开关速度。
- 低输出电容:典型的Coss(eff.) = 691pF,有助于降低开关损耗。
可靠性高
- 雪崩测试:该器件经过100%雪崩测试,能够承受一定的雪崩能量,提高了产品的可靠性。
- 环保合规:符合RoHS标准,无铅设计,满足环保要求。
应用领域
NTH4LN067N65S3H适用于多种电力系统,包括但不限于:
- 电信/服务器电源:在电信和服务器领域,对电源的效率和稳定性要求极高。该MOSFET的低导通电阻和卓越的开关性能,能够有效提高电源的转换效率,降低功耗。
- 工业电源:工业环境对电源的可靠性和耐用性要求较高。NTH4LN067N65S3H的高耐压能力和雪崩测试特性,使其能够在复杂的工业环境中稳定工作。
- UPS/太阳能:在不间断电源(UPS)和太阳能系统中,需要高效的功率转换和可靠的保护机制。该MOSFET能够满足这些需求,提高系统的整体性能。
绝对最大额定值
| 参数 | 符号 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | VDSS | 650 | V |
| 栅源电压(DC) | VGSS | ±30 | V |
| 栅源电压(AC,f > 1Hz) | VGSS | ±30 | V |
| 连续漏极电流(TC = 25°C) | ID | 40 | A |
| 连续漏极电流(TC = 100°C) | ID | 25 | A |
| 脉冲漏极电流 | IDM | 112 | A |
| 单脉冲雪崩能量 | EAS | 422 | mJ |
| 雪崩电流 | IAS | 6.5 | A |
| 重复雪崩能量 | EAR | 2.66 | mJ |
| MOSFET dv/dt | dv/dt | 100 | V/ns |
| 峰值二极管恢复dv/dt | - | 20 | - |
| 功率耗散(TC = 25°C) | PD | 266 | W |
| 25°C以上降额 | - | 2.13 | W/°C |
| 工作和存储温度范围 | TJ, TSTG | -55 to +150 | °C |
| 焊接时最大引线温度(距外壳1/8″,5秒) | TL | 260 | °C |
需要注意的是,超过绝对最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。
热特性
- 结到外壳热阻(RJC):最大为0.47°C/W。
- 结到环境热阻(RJA):最大为40°C/W。
了解热特性对于合理设计散热系统至关重要,能够确保器件在正常工作温度范围内稳定运行。
电气特性
关断特性
- 漏源击穿电压(BVDSS):在VGS = 0V、ID = 1mA、TJ = 25°C时为650V;在TJ = 150°C时为700V。
- 零栅压漏极电流(IDSS):在VDS = 650V、VGS = 0V时,最大值为2μA;在VDS = 520V、TC = 125°C时,典型值为1.6μA。
- 栅体泄漏电流(IGSS):在VGS = ±30V、VDS = 0V时,最大值为±100nA。
导通特性
- 栅极阈值电压(VGS(th)):在VGS = VDS、ID = 3.9mA时,最小值为2.4V,最大值为4.0V。
- 静态漏源导通电阻(RDS(on)):在VGS = 10V、ID = 20A时,典型值为55mΩ,最大值为67mΩ。
- 正向跨导(gFS):在VDS = 20V、ID = 20A时,典型值为28S。
动态特性
- 输入电容(Ciss):在VDS = 400V、VGS = 0V、f = 250kHz时,典型值为3750pF。
- 输出电容(Coss):典型值为60pF。
- 有效输出电容(Coss(eff.)):在VDS从0V到400V、VGS = 0V时,典型值为691pF。
- 与能量相关的输出电容(Coss(er.)):在VDS从0V到400V、VGS = 0V时,典型值为107pF。
- 总栅极电荷(Qg(tot)):在VDS = 400V、ID = 20A、VGS = 10V时,典型值为80nC。
- 栅源栅极电荷(Qgs):典型值为21nC。
- 栅漏“米勒”电荷(Qgd):典型值为20nC。
- 等效串联电阻(ESR):在f = 1MHz时,典型值为0.6Ω。
开关特性
- 导通延迟时间(td(on)):在VDD = 400V、ID = 20A、VGS = 10V、Rg = 4.7Ω时,典型值为28ns。
- 导通上升时间(tr):典型值为7.2ns。
- 关断延迟时间(td(off)):典型值为81ns。
- 关断下降时间(tf):典型值为2.6ns。
源漏二极管特性
- 最大连续源漏二极管正向电流(IS):最大值为40A。
- 最大脉冲源漏二极管正向电流(ISM):最大值为112A。
- 源漏二极管正向电压(VSD):在VGS = 0V、ISD = 20A时,最大值为1.2V。
- 反向恢复时间(trr):在VGS = 0V、ISD = 20A、dIF/dt = 100A/μs时,典型值为411ns。
- 反向恢复电荷(Qrr):典型值为7.8μC。
典型特性曲线
文档中提供了多种典型特性曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化、Eoss随漏源电压的变化、瞬态热阻抗等。这些曲线能够帮助工程师更好地了解器件在不同工作条件下的性能,为电路设计提供参考。
封装信息
NTH4LN067N65S3H采用TO - 247 4 - 引脚、细引脚封装(CASE 340CW),提供了详细的封装尺寸信息,包括各尺寸的最小值、标称值和最大值。在进行PCB设计时,需要根据这些尺寸信息合理布局器件,确保安装和散热的有效性。
总结
Onsemi的NTH4LN067N65S3H MOSFET凭借其卓越的性能、高可靠性和广泛的应用领域,为电子工程师在设计各类电力系统时提供了一个优秀的选择。在实际应用中,工程师需要根据具体的电路需求和工作条件,合理选择和使用该器件,并注意其绝对最大额定值和热特性,以确保系统的稳定运行。你在使用这款MOSFET的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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