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Onsemi N沟道MOSFET FQU2N100和FQD2N100的特性与应用

lhl545545 2026-03-30 11:20 次阅读
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Onsemi N沟道MOSFET FQU2N100和FQD2N100的特性与应用

在电子设计领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)作为关键的功率器件,广泛应用于各种电源电路设计中。今天我们来详细探讨Onsemi公司的N沟道增强型功率MOSFET——FQU2N100和FQD2N100。

文件下载:FQU2N100-D.PDF

产品概述

FQU2N100和FQD2N100采用了Onsemi专有的平面条纹和DMOS技术。这种先进的MOSFET技术经过特别设计,旨在降低导通电阻,提供卓越的开关性能和高雪崩能量强度。该器件适用于开关模式电源、有源功率因数校正(PFC)和电子灯镇流器等应用。

产品特性

电气性能

  • 额定参数:这款MOSFET的漏源电压($V_{DSS}$)可达1000V,连续漏极电流($I_D$)在$T_C = 25^{circ}C$ 时为1.6A,在$TC = 100^{circ}C$ 时为1.0A,脉冲漏极电流($I{DM}$)为6.4A。
  • 导通电阻:在$V_{GS}=10V$、$ID = 0.8A$的条件下,导通电阻$R{DS(on)}$最大为9Ω。
  • 低栅极电荷:典型栅极电荷为12nC,有助于降低开关损耗。
  • 低Crss:典型值为5pF,可减少米勒效应,提高开关速度。
  • 雪崩测试:经过100%雪崩测试,保证了器件在雪崩情况下的可靠性。
  • 环保特性:这些器件是无铅、无卤化物的,符合RoHS标准。

热特性

  • 热阻:结到外壳的热阻($R{BC}$)最大为2.5°C/W,结到环境的热阻($R{UA}$)在2oz铜最小焊盘时最大为110°C/W,在1in²的2oz铜焊盘时最大为50°C/W。

电气特性

关断特性

  • 漏源击穿电压:在$ID = 250mu A$、$V{GS}=0V$的条件下,$B_{V_DSS}$为1000V。
  • 击穿电压温度系数:在$I_D = 250mu A$、参考温度为$25^{circ}C$时,典型值为0.976V/°C。
  • 零栅压漏极电流:在$V{DS}=1000V$、$V{GS}=0V$时,最大值为10μA;在$V_{DS}=800V$、$T_C = 125^{circ}C$时,最大值为100μA。
  • 栅体泄漏电流:正向($V{GS}=30V$、$V{DS}=0V$)和反向($V{GS}=-30V$、$V{DS}=0V$)的最大值均为100nA。

导通特性

  • 栅极阈值电压:在$V{DS}=V{GS}$、$I_D = 250mu A$的条件下,范围为3.0 - 5.0V。
  • 静态漏源导通电阻:在$V_{GS}=10V$、$I_D = 0.8A$时,典型值为7.1Ω,最大值为9Ω。
  • 正向跨导:在$V_{DS}=50V$、$I_D = 0.8A$时,典型值为1.9S。

动态特性

  • 输入电容:在$V{DS}=25V$、$V{GS}=0V$、$f = 1.0MHz$的条件下,典型值为400pF,最大值为520pF。
  • 输出电容:典型值为40pF,最大值为52pF。
  • 反向传输电容:典型值为5pF,最大值为6.5pF。

开关特性

  • 导通延迟时间:在$V_{DD}=500V$、$ID = 2.0A$、$R{G}=25Omega$的条件下,典型值为13ns,最大值为35ns。
  • 导通上升时间:典型值为30ns,最大值为70ns。
  • 关断延迟时间:典型值为25ns,最大值为60ns。
  • 关断下降时间:典型值为35ns,最大值为80ns。
  • 总栅极电荷:在$V_{DS}=800V$、$ID = 2.0A$、$V{GS}=10V$的条件下,典型值为12nC,最大值为15.5nC。
  • 栅源电荷:典型值为2.5nC。
  • 栅漏电荷:典型值为6.5nC。

漏源二极管特性

  • 最大连续漏源二极管正向电流:为1.5A。
  • 最大脉冲漏源二极管正向电流:为6.0A。
  • 漏源二极管正向电压:在$V_{GS}=0V$、$I_S = 1.6A$时,典型值为1.4V。
  • 反向恢复时间:在$V_{GS}=0V$、$I_S = 2.0A$、$dI_F/dt = 100A/mu s$的条件下,为520ns。
  • 反向恢复电荷:为2.3μC。

典型特性曲线

文档中给出了多个典型特性曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化以及瞬态热响应曲线等。这些曲线有助于工程师在实际应用中更好地理解和使用该器件。

封装与标识

FQU2N100和FQD2N100采用DPAK3封装,有CASE 369AR和CASE 369AS两种封装形式。标识中包含了器件代码、Onsemi标志、组装位置、日期代码和批次追溯代码等信息。

订购信息

FQD2N100TM采用DPAK3(无铅)封装,以2500个/卷带和卷轴的形式发货。需要注意的是,该器件已停产。

总结

Onsemi的FQU2N100和FQD2N100 MOSFET具有高耐压、低导通电阻、低栅极电荷等优点,适用于多种电源和电路设计。然而,由于该器件已停产,工程师在选择时需要考虑替代方案。在实际应用中,工程师应根据具体的电路需求和工作条件,仔细参考器件的电气特性和典型特性曲线,以确保器件的正常工作和系统的可靠性。你在使用MOSFET时遇到过哪些挑战呢?欢迎在评论区分享你的经验。

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