深度剖析 TPS25940x eFuse:高效、可靠的电源管理解决方案
在电子设备的电源管理领域,一款性能卓越的 eFuse 器件对于保障系统稳定运行至关重要。TPS25940x 作为一款备受关注的 eFuse 产品,具备众多出色特性,适用于多种应用场景。本文将深入剖析 TPS25940x 的各项特性、应用及设计要点,为电子工程师们提供全面的参考。
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一、产品概述
TPS25940x 是德州仪器(TI)推出的一款 2.7 - 18V eFuse,具有真正的反向阻断功能和 DevSleep 支持,专为固态硬盘(SSD)等设备设计。它集成了背靠背 FET 和增强的内置保护电路,能为 2.7V 至 18V 供电的系统和应用提供强大保护。
1.1 产品特性
- 宽电压范围:工作电压范围为 2.7V - 18V,最大承受电压可达 20V,典型导通电阻 (R_{ON}) 为 42mΩ,能适应多种电源环境。
- 可调电流限制:电流限制可在 0.6A 至 5.3A 之间调节,精度为 ±8%,可根据不同应用需求灵活设置。
- 低功耗模式:具有 DevSleep 模式,典型静态电流 (I{0}) 低至 95μA,关闭状态下典型 (I{0}) 为 15μA,有效降低功耗。
- 反向电流阻断:能在 1μs 内实现反向电压关断,防止反向电流对系统造成损害。
- 可编程 (dV_{o} /dt) 控制:通过外部电容可设置输出电压的上升速率,有效控制浪涌电流。
- 状态监测与保护输出:提供 Power Good 和 Fault 输出,方便系统监测和控制。
- 宽温度范围:结温范围为 -40°C 至 125°C,能适应恶劣的工作环境。
- 安全认证:获得 UL 2367 认证,符合 UL60950 单点故障安全测试要求。
二、应用领域
TPS25940x 凭借其出色的性能,广泛应用于多个领域:
- 存储设备:PCIe/SATA/SAS HDD 和 SSD 驱动器,为存储设备提供可靠的电源保护。
- 服务器:企业和微型服务器,保障服务器系统的稳定运行。
- 智能负载开关:实现对负载的智能控制。
- 消费电子:机顶盒(STB)、数字电视(DTV)和游戏控制台等,提升设备的电源管理能力。
- RAID 卡:用于 RAID 卡的保持电源管理,确保数据的安全存储。
- 通信设备:电信交换机和路由器,提高通信设备的可靠性。
- 适配器供电设备:为适配器供电的设备提供电源保护。
三、引脚配置与功能
| TPS25940x 采用 20 引脚 WQFN 封装,各引脚功能如下: | 引脚名称 | 引脚编号 | 输入/输出 | 描述 |
|---|---|---|---|---|
| DEVSLP | 1 | 输入 | 高电平激活 DevSleep 模式(低功耗模式) | |
| PGOOD | 2 | 输出 | 高电平表示 PGTH 超过阈值,为开漏输出 | |
| PGTH | 3 | 输入 | PGOOD 比较器的正输入 | |
| OUT | 4 - 8 | 输出 | 设备的电源输出 | |
| IN | 9 - 13 | 输入 | 设备的电源输入和供电电压 | |
| EN/UVLO | 14 | 输入 | 设置可编程欠压锁定阈值,欠压事件会打开内部 FET 并断言 FLT 表示电源故障 | |
| OVP | 15 | 输入 | 设置可编程过压保护阈值,过压事件会打开内部 FET 并断言 FLT 表示过压 | |
| GND | 16 | - | 接地 | |
| ILIM | 17 | 输入/输出 | 通过连接到 GND 的电阻设置过载和短路电流限制 | |
| dVdT | 18 | 输入/输出 | 通过连接到 GND 的电容设置输出电压的上升速率 | |
| IMON | 19 | 输出 | 该引脚输出与内部 FET 电流成比例的缩放电流,可用于模拟电流监测 | |
| FLT | 20 | 输出 | 故障事件指示器,低电平表示欠压、过压、反向电压和热关断事件,为开漏输出 | |
| PowerPAD™ | - | - | GND 端子必须连接到外露的 PowerPAD,通过多个过孔连接到 PCB 接地平面以实现良好的热性能 |
四、规格参数
4.1 绝对最大额定值
- 输入电压范围:IN、OUT、PGTH、PGOOD、EN/UVLO、OVP、DEVSLP、FLT 引脚为 -0.3V 至 20V;dVdT、ILIM 引脚为 -0.3V 至 3.6V;IMON 引脚为 -0.3V 至 7V。
- 最大结温:-40°C 至 150°C。
- 存储温度范围:-65°C 至 150°C。
4.2 ESD 评级
- 人体模型(HBM):±2000V。
- 带电器件模型(CDM):±500V。
4.3 推荐工作条件
- 输入电压范围:IN 为 2.7V 至 18V;EN/UVLO、OVP、DEVSLP、OUT、PGTH、PGOOD、dVdT、ILIM 为 0V 至 3V;IMON 为 0V 至 6V。
- 电阻:IMON、ILIM 为 16.9kΩ 至 150kΩ。
- 外部电容:OUT 为 0.1μF;dVdT 为 470nF。
- 工作结温范围:-40°C 至 125°C。
4.4 电气特性
- 电源电压和内部欠压锁定:工作输入电压为 2.7V 至 18V;内部 UVLO 阈值上升为 2.2V 至 2.4V,滞后为 105mV 至 125mV。
- 使能和欠压锁定(EN/UVLO)输入:EN/UVLO 阈值电压上升为 0.97V 至 1.01V,下降为 0.9V 至 0.94V。
- 过压保护(OVP)输入:过压阈值电压上升为 0.97V 至 1.01V,下降为 0.9V 至 0.94V。
- DEVSLP 模式输入:DEVSLP 阈值电压上升为 1.6V 至 2V,下降为 0.8V 至 1.1V。
- 输出斜坡控制(dVdT):dVdT 充电电流为 0.85μA 至 1.15μA;dVdT 放电电阻为 16Ω 至 24Ω;dVdT 最大电容电压为 2.6V 至 3.1V;dVdT 到 OUT 增益为 11.65V/V 至 12.05V/V。
- 电流限制编程(ILIM):ILIM 偏置电压为 0.87V;电流限制可通过不同的 (R_{(ILIM)}) 电阻设置,范围从 0.53A 至 5.62A。
- 电流监测输出(IMON):增益因子 (I{(IMON)}:I{(OUT)}) 为 47.78μA/A 至 57.23μA/A。
- MOSFET - 功率开关:IN 到 OUT 的导通电阻在不同温度和负载电流下有所变化,典型值为 42mΩ。
- PASS FET 输出(OUT):OUT 漏电电流在关断状态下为 -2μA 至 13μA。
- 故障标志(FLT):FLT 内部下拉电阻为 10Ω 至 30Ω;FLT 输入漏电电流为 -1μA 至 0μA。
- 电源良好比较器输入(PGTH):PGTH 阈值电压上升为 0.97V 至 1.01V,下降为 0.9V 至 0.94V;PGTH 输入漏电电流为 -100nA 至 100nA。
- 电源良好比较器输出(PGOOD):PGOOD 内部下拉电阻为 10Ω 至 35Ω;PGOOD 输入漏电电流为 -1μA 至 1μA。
- 热关断(TSD):TSD 阈值为 160°C,滞后为 12°C;TPS25940L 为锁存模式,TPS25940A 为自动重试模式。
4.5 时序要求
- 使能和 UVLO 输入:EN 开启延迟在不同条件下有所不同,关闭延迟为 2μs。
- 过压保护输入(OVP):OVP 禁用延迟为 2μs。
- 输出斜坡控制(dV/dT):输出斜坡时间根据不同的 (C_{(dVdT)}) 电容和输出电压有所变化。
- 电流限制:快速跳闸比较器延迟为 200ns。
- 反向保护比较器:反向保护比较器延迟在不同条件下为 1μs 至 10μs。
- 电源良好比较器输出(PGOOD):PGOOD 延迟(消抖)时间上升和下降均为 0.42ms 至 0.66ms。
- 热关断(TSD):TPS25940A 的重试延迟为 128ms。
4.6 典型特性
通过一系列典型特性曲线,展示了 TPS25940x 在不同温度、电压和负载条件下的性能表现,如 UVLO 阈值电压与温度的关系、输入电源电流与电源电压的关系等,为工程师在实际应用中提供了重要的参考依据。
五、详细功能描述
5.1 使能和调整欠压锁定
EN/UVLO 引脚控制内部 FET 的开关状态。当该引脚电压 (V{(ENUVLO)}
5.2 过压保护(OVP)
设备通过连接从电源到 OVP 端子再到 GND 的电阻分压器来编程过压阈值。当 OVP 引脚电压超过 (V_{(OVPR)}) 时,内部 FET 关闭,保护下游负载。若不使用该功能,应将 OVP 引脚接地。
5.3 热插拔和浪涌电流控制
该设备设计用于控制卡插入带电背板或其他“热”电源时的浪涌电流,通过限制背板电源电压的下降和防止系统电源意外复位。通过在 dVdT 引脚与 GND 之间连接外部电容,可定义上电时输出电压的上升速率。输出电压的上升时间 (t{dVdT}) 可通过公式计算,浪涌电流 (I{(INRUSH)}) 也可根据相关公式计算。若 dVdT 引脚悬空,设备将设置内部输出电压上升速率为 12V/ms。
5.4 过载和短路保护
设备通过监测内部感测电阻两端的电压来监测负载电流。在过载事件中,电流被限制在由 (R{(ILIM)}) 电阻编程的电流限制 (I{(LIM)}) 。设备具有电流限制 (I{(LIM)}) 和快速跳闸阈值 (I{(FASTRIP)}) 两个不同的级别。在过载情况下,内部电流限制放大器将输出电流调节到 (I{(LIM)}) ,若设备结温达到热关断阈值 (T{(TSD)}) ,内部 FET 将关闭。TPS25940L 版本将保持锁存关闭状态,而 TPS25940A 版本将在 (T{J}<[T{(TSD)}-12^{circ}C]) 后 128ms 开始自动重试周期。在短路事件中,快速跳闸比较器将在电流超过 (I_{(FASTRIP)}) 时在 1μs 内关闭通过设备,终止快速短路峰值电流。
5.5 故障响应
FLT 开漏输出在欠压、过压、反向电压/电流和热关断条件下被断言(低电平有效)。FLT 信号将保持断言状态,直到故障条件消除,设备恢复正常运行。设备通过内部“消抖”电路消除欠压和过压条件下的误报故障,确保在输入总线瞬变期间不会意外断言故障。
5.6 电流监测
IMON 端子的电流源与从 IN 到 OUT 的电流成比例。通过在 IMON 端子与 GND 端子之间连接电阻 (R_{(IMON)}) ,可将该电流转换为电压,用于监测系统中的电流流动。最大监测电流的电压范围有限制,以确保线性输出。该引脚不应连接旁路电容,以免延迟电流监测信息。可使用 ADC 将 IMON 引脚的电压数字化,以读取电流监测信息。
5.7 电源良好比较器
设备内置电源良好比较器,用于与下游 DC - DC 转换器或系统监测电路协调状态。比较器的负端子具有内部参考电压 (V_{(PGTHR)} = 0.99V) ,正端子 PGTH 可用于监测设备的输入或输出。比较器输出 PGOOD 为开漏高电平有效信号,可用于向下游单元指示状态。PGOOD 信号具有消抖时间,以确保在下游转换器施加重载之前内部 FET 完全增强。
5.8 IN、OUT 和 GND 引脚
设备具有多个输入(IN)和输出(OUT)引脚。所有 IN 引脚应连接在一起并连接到电源,建议在 IN 与 GND 之间靠近设备处使用陶瓷旁路电容,以减轻总线瞬变。推荐的工作电压范围为 2.7V - 18V。OUT 引脚在导通状态下的电压可根据公式 (V{(OUT)} = V{(IN)} - (R{ON} × I{(OUT)})) 计算。GND 端子是电路中最负的电压,用作所有电压参考的基准。
5.9 热关断
当 (T{J}>160^{circ}C) (典型值)时,内部过热关断功能将关闭 FET。TPS25940L 版本将锁定内部 FET 关闭,而 TPS25940A 版本将在 (T{J}) 降至 ([T_{(TSD)}-12^{circ}C]) 以下 128ms 后开始自动重试周期。在热关断期间,故障引脚 FLT 拉低以指示故障条件。
六、设备功能模式
6.1 DevSleep 模式
DevSleep 是 SATA® 规范中引入的一种新状态,要求基于 SATA 的存储解决方案达到低功耗运行水平。TPS25940 提供专用的 DevSleep 接口端子(DEVSLP),当该端子拉高时,设备进入低功耗 DevSleep 模式,此时设备的静态电流消耗限制在小于 130μA(典型值为 95μA)。在该模式下,输出电压保持激活,过载电流限制设置为 (I{(DEVSLP(LIM))}) ,反向比较器和电流监测功能禁用,其他保护功能保持活跃,确保系统安全。用户在设备进入 DevSleep 模式时,必须确保总线上的负载电流限制在 (I{(DEVSLP(LIM))}) 以下,并且在退出 DevSleep 模式时,应先对 TPS25940 进行排序,再开启负载,以免负载超过 (I_{(DEVSLP(LIM))}) 导致设备进入过载模式。
6.2 关机控制
通过使用开集电极或开漏设备将 UVLO 引脚拉至其 0.6V 阈值以下,可远程
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