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800V DC-50V DC转换方案,未来数据中心的刚需

Hobby观察 来源:电子发烧友网 作者:梁浩斌 2025-10-30 09:05 次阅读
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电子发烧友网报道(文/梁浩斌)英伟达在800V DC架构中,通过在数据中心内升级高压直流母线,减少AC/DC的转换部分,降低损耗的同时,也能够提高机架内的空间利用率。其中,从数据中心直流母线到机架,有两种方式,一是通过集中式的DC-DC,在机架外部进行转换,并通过低压母线进行电压分配;另一种是在机架内部直接进行800V到50V的电压转换,这样降低了损耗,效率更高,但需要更高密度的800V到50V的高效DC-DC转换。

为了应对DC-DC的高功率密度、高效率、热管理等需求,SiC、GaN等第三代器件将会在英伟达800V DC架构中大量应用。而最近,ST也在其最新的白皮书中,展示了ST专为800V机架配电开发的高功率电力传输板(PBD)方案,详细介绍了该方案的电源架构以及器件选型。

12kW GaN LLC转换器

LLC转换器因其软开关能力和高效率,在高频DC-DC转换中被广泛应用,ST针对数据中心推出了一种12 kW、1 MHz DCX 16:1堆叠LLC谐振转换器。

ST表示,GaN晶体管可以实现超过1 MHz的开关频率,这对于高密度数据中心电源至关重要。虽然平面变压器和矩阵变压器能提升性能和可扩展性,但它们传统上工作在500 kHz以下且电压较低。转向800 V总线系统和更高功率密度需要1 MHz的开关频率,这带来了与电磁干扰(EMI)、损耗和热管理相关的挑战。

因此,这款LLC转换器采用了GaN器件和新型的平面矩阵变压器,基于10层PCB优化以实现最小损耗和高功率密度。堆叠LLC高效地将800 V转换为50 V,达到98%的峰值效率。

堆叠式12kW DCX LLC拓扑结构框图图源:ST


叠层式LLC拓扑结构是两个LLC转换器组成,每个由400V电源供电(占800V母线电压的一半),在输入端串联、输出端并联,从而降低主设备的电压应力和次级设备的电流应力。

GaN晶体管实现1 MHz工作频率,可减小无源元件尺寸,便于使用磁通抵消技术的平面变压器,并提高功率密度。方案中平面矩阵变压器采用八组元件变压器的10层PCB变压器,通过磁通抵消和先进绕组技术(对称初级、交叉连接次级),可将损耗降低约30%,并提升热性能。

堆叠式12kW DCX LLC转换器最高效率可达98%,功率密度目标值为2600 W/in³。同时提供热插拔功能。

在热管理方面,该转换器采用液冷设计,可将设备温度维持在65°C,确保在高功率密度下可靠运行。

方案包含两个6 kW功率转换器级,每个级分别产生独立输出。每个转换器级进一步分为两个3 kW部分,以交错模式运行,以最小化电压纹波并减少所需电容数量。采用一个32位STM32G474ME微控制器单元(MCU)管理用于同步整流的主SGT023R70FTP氮化镓器件(700 V,18 mΩ)和次级SGT1D5R10MEA氮化镓开关(100 V,1.1 mΩ)。

矩阵变压器设计与磁通分布来源:ST


另外,在方案中ST还选择了一种新型的平面矩阵变压器,这种变压器是镶嵌在PCB中,其优势是低剖面设计、自动化制造、高重复性、优异的热性能,以及在LLC转换器中利用漏感作为谐振电感(L_r)的优势。该矩阵设计通过磁通抵消技术缩小铁芯尺寸,同时优化元件变压器间的负载分担,显著提升功率密度。采用紧凑型UI铁芯搭配双元件变压器,有效缩小设备外形尺寸。两侧的零气隙侧支路共享磁通量,既减轻顶板负载又优化了磁芯组装结构。

绕组设计需确保主绕组与次级绕组之间形成有效隔离与屏蔽,同时控制漏感,使其不超过谐振电感L_r。通常采用夹层叠层结构,主绕组位于次级绕组之间。对于3千瓦以下功率且频率低于500千赫的设备,设计中会采用加厚铜材并配备屏蔽层。然而,为了提高功率密度并达到1MHz开关频率,铜层厚度被限制在2盎司以内,这既是为了减少涡流损耗,也是为了满足HDI制造工艺的限制。因此需要采用2盎司铜的10层堆叠结构。使用2盎司铜层时,绕组需要采用多层并联结构,导致电流分布不均,主要集中在初级与次级绕组的交界处。为改善这一问题,初级绕组采用了对称交错的并联连接方式,通过平衡电流分布,成功将损耗降低了34%。

在次级绕组(所有绕组均并联连接)中,无法像初级绕组那样实现对称结构。为此,我们提出了一种创新的单匝分段连接方案:通过采用类似利兹线的交叉连接方式,将叠片结构上下两半的次级绕组进行交叉连接,使它们感受到相同的磁动势(MMF),从而实现电流的均衡分配,并使次级绕组损耗降低约27%。通过同时采用这两种策略,整体绕组损耗在1MHz频率下可降低约30%。

800V-50V DC-DC方案

基于上述的12kW GaN LLC转换器,ST开发出一款12kW高密度电源板,在50V输出电压下,可以以超过98%的峰值效率持续供电,同时功率密度超过2,500 W/in³。在这个电源板方案上,ST采用了1200V SiC MOSFET实现热插拔保护,650 V GaN HEMT采用堆叠式半桥配置,用于主侧直流-直流转换,以及100 V GaN HEMTs用于二次侧同步整流。

电隔离方面,采用STGAP芯片专有的硅基隔离技术,该技术经过现场验证且已投入生产,通过强化电隔离,可安全地将信号传输至隔离屏障,从而提升安全性和可靠性。该技术专为高速开关设计,具有低传播延迟和先进的内置保护功能。

在控制方面采用了载STM32G4混合信号微控制器,其搭载的Arm®Cortex®-M4核心可运行至
170 MHz。该系统集成了高性能模拟外设和硬件加速器,用于数学运算,其200皮秒以下的定时器分辨率可实现自适应零电压开关(ZVS)的高精度高频脉宽调制(PWM)。

变压架构采用四组双元件变压器组合,通过缩小磁芯尺寸和散热设计,使得铁氧体磁芯体积更小,整体结构更加紧凑。同时通过封装优化抑制寄生电感,采用双面散热确保高效的热管理。

可以看到,对于800V-50V DC-DC中,GaN器件已经是实现高密度转换器方案的首选。纳微半导体在最近发布的白皮书中,也展示了一款10kW 800 VDC-50 VDC参考设计,在61毫米×116毫米×12毫米尺寸内将800V直流转换为50V直流,同时还包含辅助电源和控制。

纳微10kW,800V-50V DC-DC全砖解决方案 来源:纳微半导体


纳微的方案采用三级半桥LLC谐振转换器,作为直流变压器(DCX)运行。初级侧的三级拓扑通过交替切换接地、半输入电压和全输入电压来降低电压需求,从而提高系统效率。LLC采用两个电感器和一个电容器作为谐振转换器,利用软开关技术实现最高效率。这使得平面磁体能够提供最大集成度和最高开关频率。同步整流级激活100V GaN FET,提供低导通路径并支持最高频率。同时该方案也采用了平面变压器,纳微表示,当使用高频GaN器件时,平面变压器具备低V・s、可消除磁芯饱和的特性,能够降低整体损耗。

小结:

800V DC架构的核心理念在于,通过高压直流降低传输损耗,同时减少AC-DC的步骤,提高机架空间利用率。因此,未来机架内部800V DC-50V DC将会成为架构中的关键之一,其高功率密度、小型化的需求下,GaN作为高频与高密度电源的核心支撑,已经成为各家厂商的方案中不可或缺的一环。未来数据中心内部,GaN实现高频高密度直流转换器、SiC提供高压保护和可靠性补充,将会成为行业主流的方案。

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