0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

大尺寸玻璃晶圆(12 英寸 +)TTV 厚度均匀性提升技术

新启航半导体有限公司 2025-10-17 13:40 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

一、引言

12 英寸及以上的大尺寸玻璃晶圆在半导体制造、显示面板、微机电系统等领域扮演着关键角色 。总厚度偏差(TTV)的均匀性直接影响晶圆后续光刻、键合、封装等工艺的精度与良率 。然而,随着晶圆尺寸增大,实现 TTV 厚度均匀性的难度显著增加。探索有效的 TTV 厚度均匀性提升技术,成为保障大尺寸玻璃晶圆质量、推动产业发展的重要课题。

二、影响大尺寸玻璃晶圆 TTV 厚度均匀性的因素

2.1 加工工艺因素

在玻璃晶圆的研磨、抛光等加工环节,设备的精度与稳定性对 TTV 均匀性影响重大 。研磨盘和抛光垫的平面度不足、磨损不均匀,会导致晶圆表面材料去除速率不一致 。同时,加工过程中压力分布不均、转速波动等问题,也容易造成晶圆不同区域厚度偏差增大,降低 TTV 均匀性 。

2.2 材料特性因素

玻璃材料自身的成分均匀性、热膨胀系数一致性等特性,会影响晶圆的 TTV 厚度均匀性 。若玻璃内部成分分布不均,在高温成型和冷却过程中,不同区域的收缩程度存在差异,从而导致厚度不均匀 。此外,玻璃材料的弹性模量差异,会使晶圆在加工受力时变形不一致,进一步加剧 TTV 厚度偏差 。

2.3 环境因素

加工环境中的温度、湿度变化以及振动、气流扰动等,会干扰玻璃晶圆的加工过程 。温度波动会引起玻璃晶圆热胀冷缩,导致加工尺寸不稳定;振动和气流扰动可能使晶圆产生微小位移或变形,影响加工精度,最终降低 TTV 厚度均匀性 。

三、TTV 厚度均匀性提升技术

3.1 加工工艺优化技术

开发高精度的研磨抛光设备,采用多轴联动控制系统,精确调整研磨盘和抛光垫与晶圆表面的接触压力和相对运动轨迹 。例如,利用压力传感器实时监测并反馈压力分布,自动调节设备参数,使压力均匀作用于晶圆表面 。同时,研发新型的研磨抛光耗材,如自修整研磨盘和高均匀性抛光垫,减少因耗材磨损不均带来的 TTV 厚度偏差 。

3.2 材料预处理与优化技术

对玻璃原材料进行严格筛选和预处理,通过成分分析和检测,确保材料成分均匀性 。采用退火等工艺对玻璃晶圆进行预处理,消除内部应力,降低因应力释放导致的厚度变化 。此外,研究新型玻璃配方,开发具有更均匀热膨胀系数和弹性模量的玻璃材料,从根源上改善晶圆的 TTV 厚度均匀性 。

3.3 环境控制与监测技术

构建高精度的加工环境,配备恒温恒湿系统,将温度波动控制在 ±0.5℃以内,湿度控制在 40% - 60% RH 。安装减震平台和气流稳定装置,减少振动和气流扰动对加工过程的影响 。同时,在加工设备上集成在线监测系统,利用光学干涉、激光扫描等技术实时监测晶圆 TTV 厚度变化,一旦发现异常,立即调整加工参数,实现 TTV 厚度均匀性的动态控制 。

海翔科技 —— 深耕二手半导体设备领域的专业领航者,凭借深厚行业积累,为客户打造一站式设备及配件供应解决方案。​

在半导体前段制程领域,我们拥有海量优质二手设备资源,精准匹配芯片制造的关键环节需求;后道封装设备板块,丰富的设备品类覆盖封装全流程,助力客户降本增效。

我们还提供齐全的二手半导体专用配件,从核心部件到精密耗材,为设备稳定运行保驾护航。海翔科技,以多元产品矩阵与专业服务,为半导体产业发展注入强劲动力。​

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 晶圆
    +关注

    关注

    53

    文章

    5344

    浏览量

    131687
  • 碳化硅
    +关注

    关注

    25

    文章

    3309

    浏览量

    51716
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    超薄切割:振动控制与厚度均匀保障

    超薄因其厚度极薄,在切割时对振动更为敏感,易影响厚度均匀。我将从分析振动对超薄
    的头像 发表于 07-09 09:52 467次阅读
    超薄<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b>切割:振动控制与<b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>保障

    浅切多道切割工艺对 TTV 厚度均匀提升机制与参数优化

    TTV 厚度均匀欠佳。浅切多道切割工艺作为一种创新加工方式,为提升
    的头像 发表于 07-11 09:59 399次阅读
    浅切多道切割工艺对<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b> <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>的<b class='flag-5'>提升</b>机制与参数优化

    基于浅切多道的切割 TTV 均匀控制与应力释放技术

    一、引言 在半导体制造中,厚度变化(TTV均匀是决定芯片性能与良品率的关键因素,而切割
    的头像 发表于 07-14 13:57 402次阅读
    基于浅切多道的<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b>切割 <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>控制与应力释放<b class='flag-5'>技术</b>

    超薄浅切多道切割中 TTV 均匀控制技术研究

    我将从超薄浅切多道切割技术的原理、TTV 均匀控制的重要
    的头像 发表于 07-15 09:36 424次阅读
    超薄<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b>浅切多道切割中 <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>控制<b class='flag-5'>技术</b>研究

    超薄浅切多道切割中 TTV 均匀控制技术探讨

    超薄厚度极薄,切割时 TTV 均匀控制难度大。我将从阐述研究背景入手,分析浅切多道切割在超
    的头像 发表于 07-16 09:31 382次阅读
    超薄<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b>浅切多道切割中 <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>控制<b class='flag-5'>技术</b>探讨

    切割深度动态补偿技术 TTV 厚度均匀提升机制与参数优化

    厚度均匀 。切割深度动态补偿技术通过实时调整切割深度,为提升
    的头像 发表于 07-17 09:28 364次阅读
    切割深度动态补偿<b class='flag-5'>技术</b>对<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b> <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>的<b class='flag-5'>提升</b>机制与参数优化

    切割液多性能协同优化对 TTV 厚度均匀的影响机制与参数设计

    摘要:本文聚焦切割液多性能协同优化对 TTV 厚度均匀的影响。深入剖析切割液冷却、润滑、排
    的头像 发表于 07-24 10:23 452次阅读
    切割液多性能协同优化对<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b> <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>的影响机制与参数设计

    基于纳米流体强化的切割液性能提升 TTV 均匀控制

    摘要:本文围绕基于纳米流体强化的切割液性能提升及对 TTV 均匀的控制展开研究。探讨纳米流
    的头像 发表于 07-25 10:12 354次阅读
    基于纳米流体强化的切割液性能<b class='flag-5'>提升</b>与<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b> <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>控制

    超薄切割液性能优化与 TTV 均匀保障技术探究

    我将围绕超薄切割液性能优化与 TTV 均匀保障技术展开,从切割液对
    的头像 发表于 07-30 10:29 287次阅读
    超薄<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b>切割液性能优化与 <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>保障<b class='flag-5'>技术</b>探究

    梯度结构聚氨酯研磨垫的制备及其对 TTV 均匀提升

    摘要 本文聚焦半导体研磨工艺,介绍梯度结构聚氨酯研磨垫的制备方法,深入探究其对厚度变化(TTV
    的头像 发表于 08-04 10:24 617次阅读
    梯度结构聚氨酯研磨垫的制备及其对<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b> <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>的<b class='flag-5'>提升</b>

    碳化硅衬底 TTV 厚度均匀测量的特殊采样策略

    质量评估提供更可靠的数据支持。 引言 在碳化硅半导体制造领域,厚度变化(TTV)不均匀
    的头像 发表于 08-27 14:28 907次阅读
    碳化硅衬底 <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>厚度</b>不<b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b>测量的特殊采样策略

    【新启航】大尺寸碳化硅(150mm+)TTV 厚度均匀提升技术

    之一便是如何保证总厚度偏差(TTV)的厚度均匀TTV
    的头像 发表于 09-20 10:10 417次阅读
    【新启航】大<b class='flag-5'>尺寸</b>碳化硅(150mm+)<b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>均匀</b><b class='flag-5'>性</b><b class='flag-5'>提升技术</b>

    【新启航】《超薄玻璃 TTV 厚度测量技术瓶颈及突破》

    我将从超薄玻璃 TTV 厚度测量面临的问题出发,结合其自身特性与测量要求,分析材料、设备和环境等方面的
    的头像 发表于 09-28 14:33 273次阅读
    【新启航】《超薄<b class='flag-5'>玻璃</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b> <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>厚度</b>测量<b class='flag-5'>技术</b>瓶颈及突破》

    【新启航】玻璃 TTV 厚度在光刻工艺中的反馈控制优化研究

    均匀直接影响光刻工艺中曝光深度、图形转移精度等关键参数 。当前,如何优化玻璃 TTV
    的头像 发表于 10-09 16:29 471次阅读
    【新启航】<b class='flag-5'>玻璃</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b> <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>厚度</b>在光刻工艺中的反馈控制优化研究

    【海翔科技】玻璃 TTV 厚度对 3D 集成封装可靠的影响评估

    ,在 3D 集成封装中得到广泛应用 。总厚度偏差(TTV)作为衡量玻璃质量的关键指标,其数值大小直接影响 3D 集成封装的可靠
    的头像 发表于 10-14 15:24 251次阅读
    【海翔科技】<b class='flag-5'>玻璃</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b> <b class='flag-5'>TTV</b> <b class='flag-5'>厚度</b>对 3D 集成封装可靠<b class='flag-5'>性</b>的影响评估