广立微推出一款T4000 Max 100pin多通道并行参数测试机

在集成电路的工艺开发、产品导入和量产过程中，电性测试设备扮演着重要角色。通过提高测试设备速度，可加快新产品开发周期，提升生产效率，降低测试成本。这不仅有助于将新设计芯片快速推向市场，而且对整个芯片生产过程产生积极影响，促进芯片产业的持续发展。

T4000 Max 问世 测试速度大幅提升

最近，广立微推出T4000 Max 半导体参数测试机，配置100pin，支持多通道并行测试，可更好地服务有多测试项、高测试效率需求的客户。T4000 Max（100pin）丰富了广立微典型测试产品矩阵，进一步扩展公司高速高端测试机品类，标志着广立微在晶圆级电性测试设备前沿领域取得了又一重要成果。

T4000 Max(100pin)系列采用了自研高性能矩阵开关构架，具有精度高、速度快、配置灵活等特点，适用于工艺研发、晶圆级可靠性、量产WAT等多种测试场景。

其100pin的配置，可支持多条module同时扎针量测，例如:24pad/module，可同时测量4条module，大幅提升测试速度，在绝大多数layout场景下，可支持充分并行测试。

十余载深厚积淀，潜心技术研发。广立微的电性测试设备已在客户端久经考验，在功能、一致性、测量精度、测试效率、交货周期和服务保障等方面极具竞争力。

初心如磐担使命，奋楫笃行启“芯”程。未来，广立微将持续开发更多具有全球竞争力的技术创新和差异化产品，为客户和市场提供卓越性能、高生产效率和高性价比的测试设备解决方案，助力客户赢得未来。

审核编辑：刘清