广立微亮相2025北京微电子国际研讨会暨IC WORLD大会

近日，以“聚势芯突破，智领新纪元”为主题的2025北京微电子国际研讨会暨IC WORLD大会在京圆满落幕。广立微作为国内领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商，再次受邀参加此次行业盛会，并在展会中集中展示了覆盖设计、测试与良率提升的全线核心产品矩阵。其中，广立微最新推出的YAD、SemiMind等研发成果备受关注。

良率感知的大数据诊断分析平台——YAD

YAD是一款综合性的DFT诊断分析工具，能够独立解析各类主流诊断报告，也可以与广立微的DE-YMS集成，串联芯片设计、制造和测试环节的数据，从而深入挖掘良率失效的根本原因。借助人性化的全景交互和先进AI算法，YAD能够帮助快速定位芯片从设计到制造端的根因缺陷、加速诊断分析、提升产品良率。

在展会现场思想交汇、智慧碰撞的热烈氛围中，广立微资深技术团队全方位阐释了YAD的卓越价值——YAD致力于打通集成电路设计、制造与分析环节之间的数据壁垒，支持多维数据的输入解析及数据仓库系统的构建。通过实现数据可视化与便捷交互，并结合统计分析、数据相关性分析等方法，全面提升数据分析的深度与效率。同时，深度融入人工智能技术，依托多种先进算法，显著提升根因分析的准确率与处理效率。

YAD全景化图表互动

SemiMind半导体大模型平台

在本次展会中，广立微SemiMind半导体大模型平台成为全场瞩目的技术焦点，展台始终人流如织、气氛热烈，吸引了大量来自芯片设计、制造、封测等全产业链的专业观众驻足交流。众多企业与技术专家对SemiMind“知识库+智能体”双驱动架构及其在半导体垂直场景的智能化落地表现出浓厚兴趣。

广立微技术团队介绍道SemiMind半导体大模型平台深度融合如DeepSeek-R1等前沿大语言模型，通过底层协同与架构创新，打造出开放、灵活、可扩展的智能研发生态系统。区别于通用型大语言模型，SemiMind不仅支持企业级私有知识库的高效构建，更依托对半导体产业的深度认知，研发并落地多类专业智能体，切实推进AI在关键环节的深度融合与应用，包括：

设计智能体

自动生成与检查设计规则（Design Rule）

测试智能体

自动生成测试方案

良率分析智能体

实现对YMS/DMS系统的自主分析与洞察

SemiMind平台不仅是广立微的重要技术里程碑，更致力于推动半导体行业从单点工具创新迈向全产业链生态重构。其核心价值体现在三个维度：

01降低技术门槛，加速产业赋能

通过SemiMind平台可以高效沉淀并复用领域知识及头部企业成熟经验，显著压缩研发周期，加快技术迭代与追赶步伐。借助SemiMind平台，新兴企业得以快速嫁接行业顶尖方法论，在短时间内提升技术成熟度，增强产品市场竞争力，同时实现研发时间与运营成本的有效降低。

02释放人才潜能，激发高阶创新

SemiMind平台可以将工程师从重复性工作中解放出来，使其精力集中于架构探索、算法优化等高附加值创造性工作。SemiMind不仅提升个体工作效率，更激活团队在新型芯片设计与工艺突破等方面的探索能力，进而为行业持续发展注入创新动能。

03打通产业链路，推动协同升级

SemiMind平台致力于打破芯片设计、制造、封测等环节间的数据壁垒，构建跨环节、可协同的智能分析基础，实现全产业链知识共享与流程优化。SemiMind平台促进多方数据高效流通与智能决策，使潜在问题在早期得以识别与解决，从而提升产品良率、缩短量产周期，推动产业链整体效能提升。

在半导体产业技术变革浪潮澎湃之际，广立微始终以“客户成功”为创新之本，将客户需求置于战略核心，持续聚焦良率提升这一关键赛道。凭借深厚的技术积累与深刻的行业洞察，我们致力于推动全产业链的协同创新与价值融合，以前瞻的战略眼光和坚定的创新研发，为合作伙伴构建面向未来的高阶解决方案，赋能产业实现跨越式发展。

关于我们

杭州广立微电子股份有限公司（股票代码：301095）是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商，公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术，是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司提供EDA软件、大数据分析软件、电路IP、WAT电性测试设备以及与芯片成品率提升技术相结合的整套解决方案，在集成电路设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升，成功案例覆盖多个集成电路工艺节点。