0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

应用于光学测量的高性能薄膜厚度检测设备

美能光伏 2023-12-16 08:33 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

薄膜厚度一直都是影响太阳能电池光电转换率的最直接因素,电池厂商为保证在完成电池产线生产后能更快速且更精准的测量出薄膜的厚度,了解其厚度对太阳能电池性能的影响程度及其光学常数,就得需要通过光学薄膜厚度检测仪器来进行检测。因此「美能光伏」生产了美能Poly在线膜厚测试仪,该设备采用光伏行业领先的微纳米薄膜光学测量创新技术,且适用于大规模产线自动化检测工序,可帮助电池厂商在完成ITO薄膜沉积工艺以及众多薄膜材料沉积工艺后在较短的时间内进行大规模太阳能电池的薄膜厚度物理检测,并能保证大规模检测所得的众多薄膜厚度参数之间具有极低的重复性。今日,小美将给您介绍「美能光伏」生产的美能Poly在线膜厚测试仪!

美能Poly在线膜厚测试仪

市场需求是产品所得以产生的关键因素,在光伏行业中,由于薄膜厚度的准确数据难以被精确检测,且即使被检测也难以实现大规模的产业化测量。为使这二者兼容于一,「美能光伏」生产了美能Poly在线膜厚测试仪,该设备可在完成薄膜厚度精确检测的同时衔接于产业化检测工序中,使电池厂商在沉积工艺产线中,运用该设备进行大规模的系统化检测,从而帮助电池厂商大大节约检测时间、提高生产效率与质量保证!

美能Poly5000在线膜厚测试仪是专为光伏工艺监控设计的在线Poly膜厚测试仪,可以对样品进行快速、自动的5点同步扫描,获得样品不同位置的膜厚分布信息,可根据客户样品大小定制测量尺寸。

● 有效光谱范围320nm~2400nm

快速、自动的5点同步扫描

● 重复性精度<0.5nm

● 超广测量范围20nm~2000nm

在线监控检测实现零碎片率

实现全程产线自动化检测、大大节约检测时间


薄膜光学测量技术

实现微纳米级别测量

美能Poly在线膜厚测试仪采用的微纳米薄膜光学测量创新技术,可对各种类型的薄膜材料进行光学检测并反馈出精准的性能参数。该设备利用了光学干涉原理,并通过分析薄膜材料表面的反射光薄膜与基底界面的反射光相干涉所形成的光谱,可在较短的时间内、进行大规模的产业化薄膜材料检测。


光谱稳定均匀

测量精密准确

传统的薄膜检测设备有所不同,美能Poly在线膜厚测试仪采用的是钨卤素灯光源,可保证有效光谱范围达320nm到2400nm,并可发射出连续光谱,该光谱涵盖了从紫外线到红外线的所有光波段。只需要使用美能Poly在线膜厚测试仪这一台设备便可以实现多台机器才能达到的测量范围,并在实现超广测量范围的同时,保证测量结果的准确性。af19e17e-9baa-11ee-9788-92fbcf53809c.png

为保证太阳能电池在完成沉积工艺后,能顺利的进行后续工艺且正常的投入使用,从而提供较为优异的光电转换率,就必须在完成薄膜沉积工艺后对太阳能电池进行薄膜厚度光学检测,美能Poly在线膜厚测试仪便可使用自己独特的优势和光学技术给予沉积工艺合理的科学评估,帮助电池厂商进行后续的生产和对太阳能电池的有效优化!

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 检测仪
    +关注

    关注

    5

    文章

    4407

    浏览量

    47052
  • 检测设备
    +关注

    关注

    0

    文章

    722

    浏览量

    17762
  • 光学测量
    +关注

    关注

    0

    文章

    89

    浏览量

    11265
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    四探针薄膜测厚技术 | 平板显示FPD制造中电阻率、方阻与厚度测量实践

    薄膜厚度测量仪,其原理是通过将已知的薄膜材料电阻率除以方阻来确定厚度,并使用XFilm平板显示在线方阻测试仪作为对
    的头像 发表于 09-29 13:43 523次阅读
    四探针<b class='flag-5'>薄膜</b>测厚技术 | 平板显示FPD制造中电阻率、方阻与<b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>测量</b>实践

    椭偏仪在半导体薄膜厚度测量中的应用:基于光谱干涉椭偏法研究

    厚度与折射率的高精度表征,广泛应用于薄膜材料、半导体和表面科学等领域。为解决半导体领域常见的透明硅基底上薄膜厚度
    的头像 发表于 09-08 18:02 1294次阅读
    椭偏仪在半导体<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>测量</b>中的应用:基于光谱干涉椭偏法研究

    薄膜测厚选台阶仪还是椭偏仪?针对不同厚度范围提供技术选型指南

    在现代工业与科研中,薄膜厚度是决定材料腐蚀性能、半导体器件特性以及光学与电学性质的关键参数。精准测量此参数对于工艺优化、功能材料理解及反向工
    的头像 发表于 08-29 18:01 2560次阅读
    <b class='flag-5'>薄膜</b>测厚选台阶仪还是椭偏仪?针对不同<b class='flag-5'>厚度</b>范围提供技术选型指南

    椭偏仪的原理和应用 | 薄膜材料或块体材料光学参数和厚度测量

    椭偏仪是一种基于椭圆偏振分析的光学测量仪器,通过探测偏振光与样品相互作用后偏振态的变化,获取材料的光学常数和结构信息。Flexfilm全光谱椭偏仪可以非接触对薄膜
    的头像 发表于 08-27 18:04 1238次阅读
    椭偏仪的原理和应用 | <b class='flag-5'>薄膜</b>材料或块体材料<b class='flag-5'>光学</b>参数和<b class='flag-5'>厚度</b>的<b class='flag-5'>测量</b>

    椭偏仪在OLED中的应用丨多层薄膜纳米结构的各膜层厚度高精度提取

    ,导致部分膜层厚度测量结果偏离真实值。对此本文构建了一套针对超薄膜椭偏测量灵敏度和唯一性评估模型,应用于
    的头像 发表于 08-22 18:09 719次阅读
    椭偏仪在OLED中的应用丨多层<b class='flag-5'>薄膜</b>纳米结构的各膜层<b class='flag-5'>厚度</b>高精度提取

    椭偏仪薄膜测量原理和方法:光学模型建立和仿真

    椭偏技术是一种非接触式、高精度、多参数等光学测量技术,是薄膜检测的最好手段。本文以椭圆偏振基本原理为基础,重点介绍了光学模型建立和仿真,为椭
    的头像 发表于 08-15 18:01 3753次阅读
    椭偏仪<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>测量</b>原理和方法:<b class='flag-5'>光学</b>模型建立和仿真

    半导体薄膜厚度测量丨基于光学反射率的厚度测量技术

    在半导体制造中,薄膜的沉积和生长是关键步骤。薄膜厚度需要精确控制,因为厚度偏差会导致不同的电气特性。传统的厚度
    的头像 发表于 07-22 09:54 1409次阅读
    半导体<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>测量</b>丨基于<b class='flag-5'>光学</b>反射率的<b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>测量</b>技术

    椭偏仪测量薄膜厚度的原理与应用

    在半导体、光学镀膜及新能源材料等领域,精确测量薄膜厚度光学常数是材料表征的关键步骤。Flexfilm光谱椭偏仪(Spectroscopic
    的头像 发表于 07-22 09:54 1467次阅读
    椭偏仪<b class='flag-5'>测量</b><b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>厚度</b>的原理与应用

    薄膜厚度测量技术的综述:从光谱反射法(SR)到光谱椭偏仪(SE)

    薄膜在半导体、显示和二次电池等高科技产业中被广泛使用,其厚度通常小于一微米。对于这些薄膜厚度的精确测量对于质量控制至关重要。然而,能够
    的头像 发表于 07-22 09:54 1886次阅读
    <b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>测量</b>技术的综述:从光谱反射法(SR)到光谱椭偏仪(SE)

    基于像散光学轮廓仪与单点膜厚技术测量透明薄膜厚度

    透明薄膜在生物医学、半导体及光学器件等领域中具有重要应用,其厚度光学特性直接影响器件性能。传统接触式
    的头像 发表于 07-22 09:53 524次阅读
    基于像散<b class='flag-5'>光学</b>轮廓仪与单点膜厚技术<b class='flag-5'>测量</b>透明<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>厚度</b>

    薄膜质量关键 | 半导体/显示器件制造中薄膜厚度测量新方案

    在半导体和显示器件制造中,薄膜与基底的厚度精度直接影响器件性能。现有的测量技术包括光谱椭偏仪(SE)和光谱反射仪(SR)用于
    的头像 发表于 07-22 09:53 1361次阅读
    <b class='flag-5'>薄膜</b>质量关键 | 半导体/显示器件制造中<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>测量</b>新方案

    椭偏仪原理和应用 | 精准测量不同基底光学薄膜TiO₂/SiO₂的光学常数

    费曼仪器作为国内领先的薄膜材料检测解决方案提供商,致力于为全球工业智造提供精准测量解决方案。其中全光谱椭偏仪可以精确量化薄膜的折射率、消光系数及厚度
    的头像 发表于 07-22 09:51 1166次阅读
    椭偏仪原理和应用 | 精准<b class='flag-5'>测量</b>不同基底<b class='flag-5'>光学薄膜</b>TiO₂/SiO₂的<b class='flag-5'>光学</b>常数

    薄膜厚度高精度测量 | 光学干涉+PPS算法实现PCB/光学镀膜/半导体膜厚高效测量

    透明薄膜光学器件、微电子封装及光电子领域中具有关键作用,其厚度均匀性直接影响产品性能。然而,工业级微米级薄膜的快速
    的头像 发表于 07-21 18:17 1251次阅读
    <b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>厚度</b>高精度<b class='flag-5'>测量</b> | <b class='flag-5'>光学</b>干涉+PPS算法实现PCB/<b class='flag-5'>光学</b>镀膜/半导体膜厚高效<b class='flag-5'>测量</b>

    光纤光谱仪在薄膜测量中的应用解析

    一种重要的光学检测工具——光纤光谱仪。 光纤光谱仪以其结构紧凑、响应快速、操作灵活等优势,已广泛应用于薄膜厚度
    的头像 发表于 07-08 10:29 365次阅读

    优可测白光干涉仪和薄膜厚度测量仪:如何把控ITO薄膜的“黄金参数”

    ITO薄膜的表面粗糙度与厚度影响着其产品性能与成本控制。优可测亚纳米级检测ITO薄膜黄金参数,帮助厂家优化产品
    的头像 发表于 04-16 12:03 769次阅读
    优可测白光干涉仪和<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>厚度</b><b class='flag-5'>测量</b>仪:如何把控ITO<b class='flag-5'>薄膜</b>的“黄金参数”