0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

半透明双层玻璃侧厚的测量方案

h1654156072.2321 来源:szly19925317939 作者:h1654156072.2321 2022-06-29 14:02 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

要求测量半透明双层透明玻璃测量

首先选择立仪科技对射平台,根据被测物体的厚度选择适用的镜头,进行对心,当上下两个镜头的光斑重合在一起的时候进行Dark,当把镜头调试好以后将产品双层玻璃放到对射平台。

pYYBAGK76vGAeNzmAACGloexWLQ146.jpg

半透明双层玻璃侧厚

poYBAGK76vGAUE7nAACCzbAMu3M979.jpg

半透明双层玻璃侧厚

pYYBAGK76vGAXRMSAAB9DqZSgi4334.jpg

如图所示就得到对应的厚度值,光谱共焦位移传感器作为新型的高精度非接触的设备,其稳定性,精度都远超激光位移传感器,非常适用于精度更高要求的零部件测量。

像段差、高度差、平面度扫描、高度、厚度、轮廓扫描等都有这广泛的应用其精度可以达到亚微米级别。

审核编辑:符乾江

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 传感器
    +关注

    关注

    2577

    文章

    55482

    浏览量

    793828
  • 光谱
    +关注

    关注

    4

    文章

    1056

    浏览量

    37402
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    测量仪探头线维修方案首选班通科技——PCB测量解决方案专家

    在精密电子制造行业,PCB的质量直接影响到电子产品的性能与可靠性。其中,铜作为PCB制造中的关键参数,其精确测量对保证产品质量至关重要。当测量设备如探头线出现故障时,快速、可靠的维修服务显得尤为
    的头像 发表于 03-06 15:52 1739次阅读
    铜<b class='flag-5'>厚</b><b class='flag-5'>测量</b>仪探头线维修<b class='flag-5'>方案</b>首选班通科技——PCB<b class='flag-5'>测量</b>解决<b class='flag-5'>方案</b>专家

    纯视觉自动驾驶能识别出高透明玻璃墙吗?

    [首发于智驾最前沿微信公众号]最近在和大家聊纯视觉自动驾驶能否识别3D图像时,有小伙伴提问,纯视觉自动驾驶能否识别出高透明玻璃墙,今天智驾最前沿就和大家简单聊聊相关内容。 当然,在开始今天的话题前
    的头像 发表于 02-18 08:49 1.1w次阅读
    纯视觉自动驾驶能识别出高<b class='flag-5'>透明</b><b class='flag-5'>玻璃</b>墙吗?

    PCB铜不达标怎么办?从测量到成因分析

    PCB铜不达标,首先要把“测准”与“判明责任边界”做好,然后再追溯工艺成因、给出纠偏方案。下面Bamtone班通小编按“测量→成因→对策”给你梳一套工程化思路。建议收藏!一般常用外层/内层铜
    的头像 发表于 12-31 11:44 630次阅读
    PCB铜<b class='flag-5'>厚</b>不达标怎么办?从<b class='flag-5'>测量</b>到成因分析

    松下透明导电薄膜:先进的透明电磁屏蔽解决方案

    松下透明导电薄膜:先进的透明电磁屏蔽解决方案 在电子设备日益普及的今天,电磁干扰(EMI)问题愈发突出,如何在保证设备透明度的同时有效屏蔽电磁干扰,成为了电子工程师们面临的重要挑战。松
    的头像 发表于 12-21 17:00 1521次阅读

    应用案例 | 玻璃厂酒瓶生产线质控升级:深视智能光谱共焦位移传感器破解高透明与高反光材质厚度测量难题

    01啤酒瓶身厚度测量难点啤酒瓶作为典型的高透明曲面容器,其厚度检测长期受限于材料特性与工业环境的双重制约,具体难点包括:表面光学干扰:玻璃的高透明度导致传统光学设备面临"双重困境&qu
    的头像 发表于 10-27 08:17 676次阅读
    应用案例 | <b class='flag-5'>玻璃</b>厂酒瓶生产线质控升级:深视智能光谱共焦位移传感器破解高<b class='flag-5'>透明</b>与高反光材质厚度<b class='flag-5'>测量</b>难题

    【新启航】玻璃晶圆 TTV 厚度测量数据异常的快速定位与解决方案

    ,研究玻璃晶圆 TTV 厚度测量数据异常的快速定位方法与解决方案,对保障生产效率和产品质量具有重要意义。 二、数据异常的常见类型 2.1 数据波动剧烈 测量
    的头像 发表于 09-29 13:32 861次阅读
    【新启航】<b class='flag-5'>玻璃</b>晶圆 TTV 厚度<b class='flag-5'>测量</b>数据异常的快速定位与解决<b class='flag-5'>方案</b>

    台阶仪精准测量薄膜工艺中的膜:制备薄膜理想台阶提高膜测量的准确性

    致力于为全球工业智造提供提供精准测量解决方案,Flexfilm探针式台阶仪可以精确多种薄膜样品的薄膜厚度。台阶仪法需在薄膜表面制备台阶,通过测量台阶高度反推膜。然
    的头像 发表于 09-05 18:03 939次阅读
    台阶仪精准<b class='flag-5'>测量</b>薄膜工艺中的膜<b class='flag-5'>厚</b>:制备薄膜理想台阶提高膜<b class='flag-5'>厚</b><b class='flag-5'>测量</b>的准确性

    汽车玻璃隔热膜技术方案的对比:汽车玻璃透光率检测分析

    汽车玻璃在采光、挡风和遮雨方面具有重要作用,但普通玻璃对紫外线和红外线阻隔性差,导致车内温度升高、空调能耗增加、车内设施老化速度加快。为解决这一问题,汽车玻璃隔热膜应运而生,要求在可见光透射率不低于
    的头像 发表于 09-01 18:01 1855次阅读
    汽车<b class='flag-5'>玻璃</b>隔热膜技术<b class='flag-5'>方案</b>的对比:汽车<b class='flag-5'>玻璃</b>透光率检测分析

    台阶仪测量的方法改进:通过提高膜测量准确性优化镀膜工艺

    随着透明与非透明基板镀膜工艺的发展,对膜层厚度的控制要求日益严格。台阶仪作为一种常用的膜测量设备,在实际使用中需通过刻蚀方式制备台阶结构,通过测量
    的头像 发表于 08-25 18:05 1508次阅读
    台阶仪<b class='flag-5'>测量</b>膜<b class='flag-5'>厚</b>的方法改进:通过提高膜<b class='flag-5'>厚</b><b class='flag-5'>测量</b>准确性优化镀膜工艺

    透明工件测量难?看光子精密 QM 系列闪测仪如何实现精准检测

    光子精密QM系列一键闪测仪破解透明工件检测的行业痛点。从手机屏幕的玻璃盖板、摄像头模组的光学镜片,到医疗输液管、再到半导体封装的透明载板,这些以玻璃、亚克力、硅胶、晶体等为材质的
    的头像 发表于 08-08 08:46 1213次阅读
    <b class='flag-5'>透明</b>工件<b class='flag-5'>测量</b>难?看光子精密 QM 系列闪测仪如何实现精准检测

    信宜宽厚检测为何多用光电测宽激光测的组合式测量方法?

    在板带材的工业检测中,宽厚参数(宽度与厚度)是衡量工件规格是否达标的关键指标,而检测这两种指标的方法确很多,为何工厂更常用光电测宽激光测的组合方式,下面就来看一下。 1、测量原理 测宽测量
    发表于 08-07 14:44

    半导体膜测量丨光谱反射法基于直接相位提取的膜测量技术

    在现代半导体和显示面板制造中,薄膜厚度的精确测量是确保产品质量的关键环节。传统方法如扫描电子显微镜(SEM)虽可靠,但无法用于在线检测;椭圆偏振仪和光谱反射法(SR)虽能无损测量,却受限于计算效率
    的头像 发表于 07-22 09:54 1740次阅读
    半导体膜<b class='flag-5'>厚</b><b class='flag-5'>测量</b>丨光谱反射法基于直接相位提取的膜<b class='flag-5'>厚</b><b class='flag-5'>测量</b>技术

    基于像散光学轮廓仪与单点膜技术测量透明薄膜厚度

    透明薄膜在生物医学、半导体及光学器件等领域中具有重要应用,其厚度与光学特性直接影响器件性能。传统接触式测量方法(如触针轮廓仪)易损伤样品,而非接触式光学方法中,像散光学轮廓仪(基于DVD激光头
    的头像 发表于 07-22 09:53 1055次阅读
    基于像散光学轮廓仪与单点膜<b class='flag-5'>厚</b>技术<b class='flag-5'>测量</b><b class='flag-5'>透明</b>薄膜厚度

    薄膜厚度高精度测量 | 光学干涉+PPS算法实现PCB/光学镀膜/半导体膜高效测量

    透明薄膜在光学器件、微电子封装及光电子领域中具有关键作用,其厚度均匀性直接影响产品性能。然而,工业级微米级薄膜的快速测量面临挑战:传统干涉法设备庞大、成本高,分光光度法易受噪声干扰且依赖校准样品
    的头像 发表于 07-21 18:17 1885次阅读
    薄膜厚度高精度<b class='flag-5'>测量</b> | 光学干涉+PPS算法实现PCB/光学镀膜/半导体膜<b class='flag-5'>厚</b>高效<b class='flag-5'>测量</b>

    芯片制造中的膜检测 | 多层膜及表面轮廓的高精度测量

    随着物联网(IoT)和人工智能(AI)驱动的半导体器件微型化,对多层膜结构的三维无损检测需求急剧增长。传统椭偏仪仅支持逐点膜测量,而白光干涉法等技术难以分离透明薄膜的多层反射信号。本文提出一种单次
    的头像 发表于 07-21 18:17 1021次阅读
    芯片制造中的膜<b class='flag-5'>厚</b>检测 | 多层膜<b class='flag-5'>厚</b>及表面轮廓的高精度<b class='flag-5'>测量</b>