浪潮自研SSD使测试更全更加精准

企业级SSD作为数字信息时代的主要存储介质，技术水准要求相当苛刻，浪潮在核心部件SSD领域历经多年探索，研发和打磨，推出了NVMe SSD产品，已经在互联网，通信，金融、政府、企业等关键领域实现规模部署，并得到了市场的检验和认可，浪潮自研SSD高可靠性的高端品质是科技创新与工匠精神的极致追求。

NAND Flash作为SSD的关键核心器件，成本占整体成本的比例高达80%以上，对NAND特性分析成为SSD产品可靠性的关键核心要素，获取输出精准的NAND验证参数对SSD的可靠性和性能至关重要。

MTBF（Mean time between failures，平均无故障时间）和UBER（Uncorrectable Bit Error Rate，不可修复的错误比特率）是SSD可靠性上最两个重要指标，分别对应RDT（Reliability Demonstration Test，可靠度验证测试）测试的Quarlity Test和Endurance Test，UBER主要验证NAND寿命和纠错能力，MTBF也包含纠错能力。纠错能力除NAND本身质量外，产品可靠性主要依赖于NAND纠错参数的准确性，而NAND特性验证基于NAND治具平台输出NAND参数供FW固件使用，参数中就包含纠错参数，同时也为SSD性能（主要是QoS）提供参数支持，比如纠错参数的成功率，Suspend相关参数功能等。

浪潮为获得产品的超高可靠性，面向SLC/MLC/TLC/QLC等闪存颗粒自主开发出了NAND Prober HX9000系列分析治具，可以提供介质特性分析、寿命检测、稳定性追踪的NAND特性测试项目，采用了行业领先的智能高温控制器和自主创新的P/E Block读写算法并行收集闪存介质的实时状态，支持NAND介质High Level指令集和Low Level指令集，图形化界面，全方位监测介质实时状态，通过开放的API（Application Programming Interface，应用程序接口）接口，为用户提供自定义的介质特性控制、监测和状态数据收集服务，设备购置和拥有成本有效的进行了降低。

敏捷开放

使测试更全更加精准

inspur

采用可灵活敏捷替换的NAND Socket槽，支持多个品牌和SLC/MLC/TLC/QLC多种类型NAND Flash存储颗粒。

命令与随机数支持更灵活，针对NAND介质特性同时支持高级指令（High level commands）和低级指令（Low level commands），可以自由按需扩展，动态生成匹配芯片的随机数，特性测试结果更精准。

特性收集API接口更开放，根据特性分析需求定向收集状态数据，上位机和下位机源码自主设计研发，全开放的API可以灵活收集状态数据和可借鉴的特性分析经验。

精准温控，保障品质

inspur

市面上NAND分析治具均存在传感器与NAND温度不相符的情况，导致不能精准对产品可靠性进行模拟评估。浪潮通过建立传感器温度与NAND温度对应表和动态调温成功解决了此问题，数显温度控制器智能设定NAND环境温度，针对NAND温控精细化需求定制温度控制器，实现智能设定、实时监控NAND Flash环境温度，更精准地去评估SSD的可靠性。

数字显示

温控芯片

精益求精

可靠性提升30%

inspur

浪潮自研SSD通过自研NAND治具精准的获取状态数据和灵活的NAND特性算法分析模式，投入上千块SSD进行真实测评，全面的NAND参数掌握，创新的特性分析算法和丰富的产品化经验，提前规避整盘的设计风险，不断突破产品可靠性指标，使得平均无故障时间MTBF达到了260万小时，可靠性相比业内其他产品提升30%。

浪潮SSD产品开发或NAND Flash主控芯片研发中通过使用NAND Prober测试分析仪，提升了闪存主控芯片的设计、性能优化、介质寿命管控效率，有效提升主控芯片特性、优化SSD整盘性能和可靠性，同时可以用于存储介质的新特性和新材料研究，支撑对传统介质新特性和新介质新特性的测试、收集和分析，为未来产品的开发提供了重要参考。

未来浪潮存储将秉承“云存智用 运筹新数据”的存储理念，在存储基础领域不断下沉研发创新，掌握底层硬件关键核心技术，以领先技术助力关键行业实现突破应用，全面释放数据价值，加速数字化转型。

原文标题：攻坚核心部件，浪潮存储重新定义SSD可靠性

文章出处：【微信公众号：浪潮存储】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。

审核编辑：彭菁