忆联正式推出面向PCIe 5.0的自研M.2 SLT测试系统

SLT(System Level Test)测试系统是半导体制造与电子工业的核心质量关口，对于固态硬盘(SSD)而言，该系统不仅是生产流程中的必要环节，更是确保产品最终性能、可靠性与终端用户体验的关键支撑。忆联历经多轮技术攻坚与系统性迭代，正式推出面向PCIe 5.0的自研M.2 SLT测试系统，该系统在硬件架构设计与软件平台开发上实现全链路自主化。

1深度自动化与智能化

推动测试向“决策智能化”跨越，实现从用例生成、环境部署到故障诊断与报告生成全链路的智能覆盖。

2全栈一体化支持

构建从测试开发、执行、监控到分析的一站式平台，显著降低跨团队协作成本与技术操作门槛。

3自主系统级测试能力

攻克超大规模场景仿真与高可靠验证核心技术，实现从测试策略到诊断系统的全栈自主，为极端负载下的性能稳定与数据完整性提供可靠保障。

SSD作为高性能存储设备，其本质是一项高度依赖硬件与固件深度协同的系统工程。二者的紧密耦合与高效协同，是实现存储性能释放、高可靠运行及综合成本优化的核心架构基础。

忆联SLT测试系统通过与其自研智能制造装备深度融合，构建具备“软硬协同，智能闭环”特征的系统级验证平台，实现了从底层硬件到上层固件的全链路智能保证。

硬件筑基

构建高性能测试底座

核心控制单元：采用高性能服务器主板作为系统控制中枢，具备工业级稳定性和模块化扩展能力，为测试平台提供可靠的控制与数据处理基础。

高速数据交换：集成自研多通道交换板卡，实现测试数据的高速并发交换与传输，确保数据链路的实时性、完整性与准确性。

精准适配工装：开发M.2自研测试工装，专为PCIe SSD接口优化设计，支持快速插拔与精准电气连接，显著提升设备兼容性与测试部署灵活性。

高并发测试能力：单台设备满载支持200+测试端口并行运行，系统吞吐量与测试效率较前代显著提升，可充分满足大规模量产环境下的高吞吐测试需求。

软件驱动

构建智能高效可扩展体系

•平台集成与智能化管理：深度集成自研智能制造平台，实现对测试资源的统一调度、状态远程监控、全流程数据追溯及大数据智能分析，构建高效闭环的质量控制体系。

•高速协议测试能力：全面支持PCIe 5.0高速协议，精确适配高性能SSD的严苛测试要求，确保接口性能与信号完整性达标。

•关键特性专项验证：全面覆盖PLP断电保护测试、多级低功耗模式验证及SMBus通信协议测试等关键可靠性验证项目，确保产品在真实应用场景中功能完备、运行稳定。

•前瞻性架构与可扩展设计：采用模块化平台架构，支持功能灵活扩展与协议平滑演进，已为PCIe 6.0等未来技术标准预留集成空间，保障长期投资价值与技术路线前瞻性。

端到端闭环体系

为客户构建可靠高效的存储支撑

测试效率突破：通过深度自动化测试流程，将测试覆盖率提升至90%以上，平均执行时间缩短10%，支持7×24小时持续验证，显著加速产品上市进程。

◎忆联与行业友商TU测试在测试耗时上的对比分析

质量管控前置：依托全场景精准测试能力，可提前发现深层潜在缺陷，早期缺陷检出率提升超20%，帮助客户在产品开发阶段实现质量闭环，从源头保障产品可靠性与长期稳定运行。

◎对比友商早期缺陷拦截率提升20%

安全与技术自主：构建从数据、算法到知识产权的端到端闭环体系，在杜绝敏感数据外泄的同时，彻底摆脱对外部测试装备的依赖，为客户建立安全可靠、自主可控的研发与供应链支撑能力。

◎端到端闭环体系

SSD作为核心数据资产的关键载体，其可靠性直接关系到数据安全保障的根基。忆联始终以更高的质量标准为准则，持续追求产品卓越。自研SLT系统的推出，既是研发团队经年累月技术攻坚与跨部门高效协同的成果，更是公司“技术立身、创新驱动”核心理念的生动实践。我们坚信，唯有坚持自主研发、持续迭代优化，才能实现从“造得出”“造得好”到“用得稳”“走得远”的完整价值闭环，真正为数据存储的长期可靠运行保驾护航。