深入解析安森美 NTHD4102P 双P沟道 MOSFET
作为一名电子工程师,在设计电路时,选择合适的 MOSFET 至关重要。今天就来深入分析一下安森美(onsemi)的 NTHD4102P 双 P 沟道 MOSFET,探讨它的特性、应用、参数以及性能曲线等内容。
文件下载:NTHD4102P-D.PDF
一、器件特性
封装优势
NTHD4102P 采用 ChipFET 封装,这种封装具有诸多优点。它提供了超低导通电阻($R_{DS(ON)}$)解决方案,并且其占位面积比 TSOP−6 小 40%。同时,它的外形高度较低(<1.1mm),能够轻松应用于如便携式电子设备等超薄环境中。
设计简化
该器件不需要额外的栅极电压升压电路,简化了电路设计。它可以在标准逻辑电平栅极驱动下工作,并且便于未来在相同基本拓扑结构下向更低电平迁移。此外,还有无铅封装可供选择。
二、应用领域
NTHD4102P 主要针对便携式设备的电池和负载管理应用进行了优化,例如 MP3 播放器、手机和个人数字助理(PDA)等。它还可用于电池充电器的充电控制以及降压和升压转换器等电路中。
三、最大额定值
电压和电流额定值
| 符号 | 参数 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| $V_{DSS}$ | 漏源电压 | -20 | V |
| $V_{GS}$ | 栅源电压 | ±8.0 | V |
| $I_{D}$ | 连续漏极电流 ($T_{A}=25^{circ} C$) | -2.9 | A |
| 连续漏极电流 ($T_{A}=85^{circ} C$) | -2.1 | A | |
| 脉冲漏极电流 ($tleq10s$,$T_{A}=25^{circ} C$) | -4.1 | A | |
| $I_{DM}$ | 脉冲漏极电流 ($t_{p}=100 mu s$) | -16 | A |
| $I_{S}$ | 源极电流(体二极管) | -1.1 | A |
功率和温度额定值
| 符号 | 参数 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| $P_{D}$ | 功率耗散 (稳态,$T_{A}=25^{circ}C$) | 1.1 | W |
| 功率耗散 ($tleq10s$) | 2.1 | W | |
| $T{J}, T{STG}$ | 工作结温和存储温度 | -55 至 150 | °C |
| $T_{L}$ | 焊接用引脚温度 (距外壳 1/8",10 s) | 260 | °C |
需要注意的是,超过最大额定值表中列出的应力可能会损坏器件。如果超出这些限制,不能保证器件的功能,可能会发生损坏并影响可靠性。
四、电气特性
关断特性
- $V_{(Br)DSS}$:漏源击穿电压,在 $V{GS} = 0 V$,$I{D} = -250 mu A$ 时为 -20 V。
- $V{(Br)DSS}/T{J}$:漏源击穿电压温度系数为 -15 mV/°C。
- $I_{DSS}$:零栅压漏极电流,在 $V{GS} = 0 V$,$T{J} = 25^{circ}C$,$V{DS} = -16 V$ 时为 -1.0 $mu A$;在 $T{J} = 85^{circ}C$ 时为 -5.0 $mu A$。
- $I_{GSS}$:栅源泄漏电流,在 $V{DS} = 0 V$,$V{GS} = 8.0 V$ 时为 100 nA。
导通特性
- $V_{GS(TH)}$:栅极阈值电压,在 $V{GS}=V{DS}$,$I_{D}=-250 mu A$ 时,最小值为 -0.45 V,最大值为 -1.5 V。
- $V{GS(TH)}/T{J}$:栅极阈值温度系数为 2.7 mV/°C。
- $R_{DS(ON)}$:漏源导通电阻,在不同的 $V{GS}$ 和 $I{D}$ 条件下有不同的值。例如,在 $V{GS}=-4.5 V$,$I{D}=-2.9 A$ 时,典型值为 64 mΩ,最大值为 80 mΩ。
- $g_{Fs}$:正向跨导,在 $V{DS}=-10 V$,$I{D}=-2.9 A$ 时,典型值为 7.0 S。
电荷、电容和栅极电阻
| 符号 | 参数 | 典型值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| $C_{ISS}$ | 输入电容 | 750 | pF |
| $C_{OSS}$ | 输出电容 | 100 | pF |
| $C_{RSS}$ | 反向传输电容 | 45 | pF |
| $Q_{G(TOT)}$ | 总栅极电荷 | 7.6 - 8.6 | nC |
| $Q_{GS}$ | 栅源电荷 | 1.3 | nC |
| $Q_{GD}$ | 栅漏电荷 | 2.6 | nC |
开关特性
| 符号 | 参数 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| $t_{d(ON)}$ | 导通延迟时间 | 5.5 | 10 | ns |
| $t_{r}$ | 上升时间 | 12 | 25 | ns |
| $t_{d(OFF)}$ | 关断延迟时间 | 32 | 40 | ns |
| $t_{f}$ | 下降时间 | 23 | 35 | ns |
漏源二极管特性
| 符号 | 参数 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|
| $V_{SD}$ | 正向二极管电压 | -0.8 | - | -1.2 | V |
| $t_{RR}$ | 反向恢复时间 | 20 | - | 40 | ns |
| $t_{a}$ | 充电时间 | 15 | - | - | ns |
| $t_{b}$ | 放电时间 | 5 | - | - | ns |
| $Q_{RR}$ | 反向恢复电荷 | 0.01 | - | - | $mu$C |
五、典型性能曲线
文档中给出了一系列典型性能曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻与漏极电流和栅极电压的关系、导通电阻随温度的变化、漏源泄漏电流与电压的关系、电容变化、栅源和漏源电压与总栅极电荷的关系、电阻开关时间随栅极电阻的变化、二极管正向电压与电流的关系以及最大额定正向偏置安全工作区等。这些曲线对于工程师在实际设计中评估器件性能非常有帮助。
六、机械尺寸和引脚连接
封装尺寸
ChipFET CASE 1206A−03 封装有详细的尺寸规格,包括不同引脚的尺寸范围等,并且对尺寸标注和公差等有明确要求。
引脚连接
该器件有多种引脚连接风格,如 STYLE 1 - 6,不同风格的引脚定义有所不同。例如 STYLE 2 的引脚定义为:1. 源极 1;2. 栅极 1;3. 源极 2;4. 栅极 2;5. 漏极 2;6. 漏极 2;7. 漏极 1;8. 漏极 1。
七、订购信息
| 器件型号 | 封装 | 包装方式 |
|---|---|---|
| NTHD4102PT1 | ChipFET | 3,000 / 卷带包装 |
| NTHD4102PT1G | ChipFET(无铅) | 3,000 / 卷带包装 |
综上所述,安森美 NTHD4102P 双 P 沟道 MOSFET 凭借其独特的封装优势、简化的设计以及良好的电气性能,在便携式设备等领域有着广泛的应用前景。作为电子工程师,在设计相关电路时,可以根据具体需求合理选择该器件,并结合其各项参数和性能曲线进行优化设计。大家在实际应用中是否遇到过类似 MOSFET 的选型和设计问题呢?欢迎一起交流探讨。
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