FDB2614 N-Channel PowerTrench® MOSFET:性能、应用与注意事项
在电子设计领域,MOSFET 是一种常见且关键的器件,它在众多电路中发挥着重要作用。今天,我们来深入了解一下 FDB2614 N-Channel PowerTrench® MOSFET。
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1. 品牌与系统整合说明
Fairchild Semiconductor 已成为 ON Semiconductor 的一部分。由于系统要求,部分 Fairchild 可订购的零件编号需要更改,原编号中的下划线(_)将改为破折号(-)。大家可在 ON Semiconductor 网站上核实更新后的器件编号,最新的订购信息也可在该网站获取。若对系统集成有疑问,可发邮件至 Fairchild_questions@onsemi.com。
2. FDB2614 MOSFET 概述
2.1 基本参数
FDB2614 是一款 N 沟道 MOSFET,耐压 200V,电流可达 62A,导通电阻典型值为 27mΩ。当 (V{GS}=10V)、(I{D}=31A) 时,(R_{DS(on)}) 典型值为 22.9mΩ。
2.2 特点
- 高性能沟槽技术:能实现极低的 (R_{DS(on)}),有效降低导通损耗。
- 低栅极电荷:有助于提高开关速度,减少开关损耗。
- 高功率和电流处理能力:可适应高功率应用场景。
2.3 应用领域
3. 绝对最大额定值
| 符号 | 参数 | FDB2614 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DS}) | 漏源电压 | 200 | V |
| (V_{GS}) | 栅源电压 | ± 30 | V |
| (I_{D}) | 漏极电流(连续,(T_{C}=25^{circ}C)) | 62 | A |
| (I_{D}) | 漏极电流(连续,(T_{C}=100^{circ}C)) | 39.3 | A |
| (I_{DM}) | 漏极脉冲电流(注 1) | 见 Figure 9 | A |
| (E_{AS}) | 单脉冲雪崩能量(注 2) | 145 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二极管恢复 (dv/dt)(注 3) | 4.5 | V/ns |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 260 | W |
| (P_{D}) | 25°C 以上降额 | 2.1 | W/°C |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和存储温度范围 | -55 至 +150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接用最大引脚温度(距外壳 1/8”,5 秒) | 300 | °C |
注:
- 重复额定值:脉冲宽度受最大结温限制。
- (L = 1mH),(I{AS}=17A),(V{DD}=50V),(R{G}=25Ω),起始 (T{J}=25^{circ}C)。
- (I{SO} ≤62A),(di/dt ≤100A/μs),(V{DD} ≤BV{DSS}),起始 (T{J}=25^{circ}C)。
大家在设计电路时,一定要严格遵循这些额定值,避免器件因过压、过流等情况损坏。思考一下,如果实际应用中的参数接近或超过这些额定值,会对器件和电路产生怎样的影响呢?
4. 热特性
| 符号 | 参数 | FDB2614 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 结到外壳的热阻(最大) | 0.48 | °C/W |
| (R_{θJA}) | 结到环境的热阻(2oz 铜最小焊盘,最大) | 62.5 | °C/W |
| (R_{θJA}) | 结到环境的热阻(1in² 2oz 铜焊盘,最大) | 40 | °C/W |
热特性对于 MOSFET 的性能和可靠性至关重要。在设计散热方案时,需要根据这些热阻参数来合理安排散热措施,以确保器件在正常温度范围内工作。大家在实际设计中,是如何考虑散热问题的呢?
5. 电气特性
5.1 关断特性
- (BV_{DSS})(漏源击穿电压):(V{GS}=0V),(I{D}=250μA),(T_{J}=25°C) 时为 200V。
- (Delta BV{DSS} / Delta T{J})(击穿电压温度系数):(I_{D}=250μA),参考 25°C 时为 0.2V/°C。
- (I_{DSS})(零栅压漏极电流):(V{DS}=200V),(V{GS}=0V) 时,常温下最大为 1μA,(T_{J}=125°C) 时最大为 500μA。
- (I_{GSSF})(正向栅体泄漏电流):(V{GS}=30V),(V{DS}=0V) 时最大为 100nA。
- (I_{GSSR})(反向栅体泄漏电流):(V{GS}=-30V),(V{DS}=0V) 时最大为 -100nA。
5.2 导通特性
- (V_{GS(th)})(栅极阈值电压):(V{DS}=V{GS}),(I_{D}=250μA) 时,范围为 3.0 - 5.0V,典型值 4.0V。
- (R_{DS(on)})(静态漏源导通电阻):(V{GS}=10V),(I{D}=31A) 时,典型值 22.9mΩ,最大值 27mΩ。
- (g_{FS})(正向跨导):(V{DS}=10V),(I{D}=31A) 时为 72S。
5.3 动态特性
- (C_{iss})(输入电容):(V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1.0MHz) 时,典型值 5435pF,最大值 7230pF。
- (C_{oss})(输出电容):典型值 505pF,最大值 675pF。
- (C_{rss})(反向传输电容):典型值 110pF,最大值 165pF。
5.4 开关特性
- (t_{d(on)})(导通延迟时间):(V{DD}=100V),(I{D}=62A),(V{GS}=10V),(R{GEN}=25Ω) 时,典型值 77ns,最大值 165ns。
- (t_{r})(导通上升时间):典型值 284ns,最大值 560ns。
- (t_{d(off)})(关断延迟时间):典型值 103ns,最大值 220ns。
- (t_{f})(关断下降时间):典型值 162ns,最大值 335ns。
- (Q_{g})(总栅极电荷):(V{DS}=100V),(I{D}=62A),(V_{GS}=10V) 时,典型值 76 - 99nC。
- (Q_{gs})(栅源电荷):典型值 35nC。
- (Q_{gd})(栅漏电荷):典型值 18nC。
5.5 漏源二极管特性和最大额定值
- (I_{S})(最大连续漏源二极管正向电流):62A。
- (I_{SM})(最大脉冲漏源二极管正向电流):186A。
- (V_{SD})(漏源二极管正向电压):(V{GS}=0V),(I{S}=62A) 时最大为 1.2V。
- (t_{rr})(反向恢复时间):(V{GS}=0V),(I{S}=62A),(dI_{F}/dt =100A/μs) 时为 145ns。
- (Q_{rr})(反向恢复电荷):0.81μC。
这些电气特性是我们在设计电路时选择和使用该 MOSFET 的重要依据。大家在实际应用中,是否遇到过因电气特性不匹配而导致的问题呢?
6. 典型性能特性
文档中还给出了一系列典型性能特性的图表,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化、瞬态热响应曲线等。这些图表能帮助我们更直观地了解该 MOSFET 在不同条件下的性能表现,在设计时可根据实际需求参考这些图表进行参数调整。
7. 机械尺寸
FDB2614 采用 D2 - PAK 封装,文档提供了 TO - 263 2L(D2PAK)的机械尺寸图。需要注意的是,封装图纸可能会随时更改,大家要及时核实最新版本。
8. 商标与免责声明
文档中列出了 Fairchild Semiconductor 及其全球子公司拥有的众多商标。同时,强调了公司有权对产品进行更改,不承担因产品应用或使用导致的任何责任,产品不适合用于生命支持系统等特定应用场景。
9. 产品状态定义
| 数据手册标识 | 产品状态 | 定义 |
|---|---|---|
| 提前信息 | 形成/设计中 | 数据手册包含产品开发的设计规格,规格可能随时更改。 |
| 初步 | 首次生产 | 数据手册包含初步数据,后续会发布补充数据,公司有权随时更改设计。 |
| 无需标识 | 全面生产 | 数据手册包含最终规格,公司有权随时更改设计。 |
| 过时 | 停产 | 数据手册包含已停产产品的规格,仅供参考。 |
了解产品状态对于我们的设计和采购决策非常重要。大家在选择器件时,是否会特别关注产品状态呢?
综上所述,FDB2614 N - Channel PowerTrench® MOSFET 具有多种优良特性和广泛的应用场景,但在使用过程中需要严格遵循其各项参数和注意事项,以确保电路的稳定和可靠运行。希望这篇文章能对大家在电子设计中使用该 MOSFET 有所帮助。
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