onsemi FDMA1023PZ:双P沟道MOSFET的卓越性能与应用分析
在如今的电子设备设计中,尤其是在手机等超便携式设备的电池充电开关设计里,对高性能MOSFET的需求日益增长。onsemi的FDMA1023PZ双P沟道MOSFET,凭借其出色的性能和特性,成为了众多工程师的理想选择。接下来,我们就深入剖析这款MOSFET的特点和应用。
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一、产品概述
FDMA1023PZ专为手机和其他超便携式应用中的电池充电开关设计,采用单封装解决方案。它包含两个独立的P沟道MOSFET,具有低导通电阻,能有效降低传导损耗。当采用典型的共源配置连接时,可实现双向电流流动。其MicroFET 2x2封装在物理尺寸上具有卓越的热性能,非常适合线性模式应用。
二、关键特性
2.1 低导通电阻
FDMA1023PZ在不同的栅源电压($V{GS}$)和漏极电流($I{D}$)条件下,展现出低导通电阻($R_{DS(on)}$)特性:
- 在$V{GS}=-4.5 V$,$I{D}=-3.7 A$时,最大$R_{DS(on)}=72 mOmega$;
- 在$V{GS}=-2.5 V$,$I{D}=-3.2 A$时,最大$R_{DS(on)}=95 mOmega$;
- 在$V{GS}=-1.8 V$,$I{D}=-2.0 A$时,最大$R_{DS(on)}=130 mOmega$;
- 在$V{GS}=-1.5 V$,$I{D}=-1.0 A$时,最大$R_{DS(on)}=195 mOmega$。
这种低导通电阻特性能够显著降低功耗,提高设备的效率。大家可以思考一下,在实际应用中,低导通电阻对于延长电池续航时间能起到多大的作用呢?
2.2 低外形设计
采用MicroFET 2x2 mm新封装,最大厚度仅为0.8 mm,有利于实现设备的轻薄化设计,满足超便携式设备对空间的要求。
2.3 ESD保护
HBM ESD保护等级 > 2 kV,能有效防止静电对器件的损伤,提高设备的可靠性。
2.4 环保特性
该器件不含卤化物和氧化锑,无铅、无卤化物,符合RoHS标准,符合环保要求。
三、绝对最大额定值
| Symbol | Parameter | Ratings | Unit |
|---|---|---|---|
| $V_{DS}$ | Drain to Source Voltage | -20 | V |
| $V_{GS}$ | Gate to Source Voltage | ± 8 | V |
| $I_{D}$ | Drain Current – Continuous (Note 1a) – Pulsed | -3.7 -6 | A |
| $P_{D}$ | Power Dissipation (Note 1a) (Note 1b) | 1.5 0.7 | W |
| $T{J}$, $T{STG}$ | Operating and Storage Junction Temperature Range | –55 to +150 | ° C |
需要注意的是,超过这些最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。在设计过程中,我们必须严格遵守这些参数限制。
四、引脚连接与订购信息
4.1 引脚连接
| 该器件采用WDFN6 2x2, 0.65P封装,引脚连接如下: | Pin | Name |
|---|---|---|
| 1 | S1 | |
| 2 | G1 | |
| 3 | D2 | |
| 4 | D1 | |
| 5 | G2 | |
| 6 | S2 |
4.2 订购信息
| Device | Package | Shipping † |
|---|---|---|
| FDMA1023PZ | WDFN6 (Pb - Free, Halide Free) | 3000 / Tape & Reel |
对于卷带规格的详细信息,可参考Tape and Reel Packaging Specification Brochure, BRD8011/D。
五、电气特性
5.1 关断特性
- 漏源击穿电压($BVDSS$):在$I{D}=-250 mu A$,$V{GS}=0 V$时,为 -20 V。
- 击穿电压温度系数:在$I_{D}=-250 mu A$,参考温度为25°C时,为 -11 mV/°C。
- 零栅压漏极电流($IDSS$):在$V{DS}=-16 V$,$V{GS}=0 V$时,为 -1 μA。
- 栅源泄漏电流($IGSS$):在$V{GS}=±8 V$,$V{DS}=0 V$时,为 ±10 μA。
5.2 导通特性
- 栅源阈值电压:在$I{D}=-250 mu A$,参考温度为25°C时,$Delta V{GS(th)}$为2.5 mV/°C。
- 导通电阻($R{DS}(on)$):在不同条件下有不同的值,如$V{GS}=-4.5 V$,$I{D}=-3.7 A$,$T{J}=125^{circ} C$时,为72 mΩ等。
- 正向跨导:在$I{D}=-3.7 A$,$V{DS}=-5 V$时给出相应特性。
5.3 动态特性
- 输入电容($Ciss$):在$V{DS}=-10 V$,$V{GS}=0 V$,$f = 1 MHz$时,为490 - 655 pF。
- 输出电容($Coss$):为100 - 135 pF。
- 反向传输电容($Crss$):为90 - 135 pF。
5.4 开关特性
- 开关时间:如在$V{GS}=-4.5 V$,$R{GEN}=6 Omega$时,上升时间为9 ns等。
- 总栅极电荷($Qg(TOT)$):在$V{DD}=-10 V$,$I{D}=-3.7 A$时给出相应值。
- 栅源栅极电荷($Qgs$):为0.7 nC。
- 栅漏“米勒”电荷($Qgd$):为2.0 nC。
这些电气特性是我们在设计电路时必须考虑的重要因素,只有充分了解这些特性,才能确保电路的性能和稳定性。
六、热特性
热特性对于MOSFET的性能和可靠性至关重要。该器件的热阻($R_{theta JA}$)与安装方式有关:
- 单操作时,安装在1 $in^2$ 2 oz铜焊盘(1.5” x 1.5” x 0.062”厚PCB)上,$R{theta JA}=86^{circ} C / W$;安装在最小2 oz铜焊盘上,$R{theta JA}=173^{circ} C / W$。
- 双操作时,安装在1 $in^2$ 2 oz铜焊盘(1.5” x 1.5” x 0.062”厚PCB)上,$R{theta JA}=69^{circ} C / W$;安装在最小2 oz铜焊盘上,$R{theta JA}=151^{circ} C / W$。
在实际设计中,我们需要根据具体的应用场景和散热要求,选择合适的安装方式,以确保器件的温度在安全范围内。
七、典型特性曲线
文档中给出了多个典型特性曲线,如导通区域特性、归一化导通电阻与漏极电流和栅极电压的关系、归一化导通电阻与结温的关系、导通电阻与栅源电压的关系、传输特性、源漏二极管正向电压与源电流的关系、栅极电荷特性、电容特性、正向偏置安全工作区、单脉冲最大功率耗散和瞬态热响应曲线等。这些曲线直观地展示了器件在不同条件下的性能表现,为我们的设计提供了重要的参考依据。
八、机械尺寸与封装
该器件采用WDFN6 2x2, 0.65P封装,文档中给出了详细的机械尺寸和推荐的焊盘图案。在进行PCB设计时,我们需要严格按照这些尺寸和要求进行布局,以确保器件的正确安装和电气连接。
九、总结与思考
onsemi的FDMA1023PZ双P沟道MOSFET以其低导通电阻、低外形设计、ESD保护和环保特性等优势,在超便携式设备的电池充电开关等应用中具有很大的潜力。在设计过程中,我们需要充分考虑其绝对最大额定值、电气特性、热特性等因素,合理选择安装方式和PCB布局。同时,通过参考典型特性曲线,我们可以更好地优化电路性能。大家在实际应用中,是否遇到过类似MOSFET的使用问题呢?又是如何解决的呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
希望这篇文章能为电子工程师们在使用FDMA1023PZ MOSFET进行设计时提供一些帮助和参考。
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