探索MAX9963/MAX9964:低功耗高速ATE驱动/比较器的卓越之选
在电子测试领域,对高性能、低功耗的测试设备需求与日俱增。MAXIM推出的MAX9963/MAX9964四通道低功耗、高速引脚电子驱动和比较器IC,无疑为这一需求提供了出色的解决方案。今天,我们就来深入了解这款芯片的特点、性能及应用。
文件下载:MAX9963AJCCQ+TD.pdf
一、芯片概述
MAX9963/MAX9964是一款四通道的IC,每个通道都集成了三电平引脚驱动器、双比较器和可变钳位电路。其驱动器具备宽电压范围和高速操作能力,拥有高阻和有源端接(第三级驱动)模式,即使在低电压摆幅下也具有高度线性。双比较器在各种输入条件下都能提供低色散(定时变化)。当设备配置为高阻抗接收器时,钳位电路可对高速被测设备(DUT)波形进行阻尼。
芯片提供与ECL、LVPECL、LVDS和GTL电平兼容的高速差分控制输入,比较器则有ECL/LVPECL或灵活的开集电极输出可供选择。此外,还有A、B两个版本,A版本为驱动器和比较器提供紧密匹配的增益和偏移,适用于对成本敏感且多通道共享参考电平的系统;B版本为每个通道提供独立参考电平,成本更低。
二、关键特性
(一)小尺寸与低功耗
- 小尺寸:在 0.4 平方英寸的空间内集成了四个通道,有效节省了电路板空间。
- 低功耗:每个通道的功耗仅为 825mW(典型值),大大降低了系统的整体功耗。
(二)高速性能
能够实现 500Mbps 的数据速率(3VP - P),满足高速测试的需求。
(三)低定时色散
双比较器在各种输入条件下都能保持低色散,确保测试结果的准确性。
(四)宽工作电压范围
工作电压范围为 - 1.5V 至 +6.5V,适应不同的测试环境。
(五)有源端接模式
提供有源端接(第三级驱动)模式,增强了信号的传输质量。
(六)低泄漏模式
低泄漏模式下的最大泄漏电流仅为 15nA,减少了不必要的电流损耗。
(七)集成钳位电路
集成的钳位电路可有效阻尼高速 DUT 波形,提高测试的稳定性。
(八)易于接口
能够轻松与大多数逻辑系列接口,方便系统集成。
(九)数字可编程压摆率
通过 3 线、低电压、CMOS 兼容的串行接口对压摆率进行数字编程,增加了设计的灵活性。
(十)内部逻辑端接电阻
内部集成的逻辑端接电阻减少了电路板上的分立元件数量,简化了设计。
(十一)低增益和偏移误差
A 版本提供紧密匹配的增益和偏移,降低了误差,提高了测试精度。
三、电气特性
(一)电源特性
- 正电源(VCC):典型值为 9.75V,范围在 9.5V 至 10.5V 之间。
- 负电源(VEE):典型值为 - 5.25V,范围在 - 6.5V 至 - 4.5V 之间。
- 电源电流:正电源电流(ICC)典型值为 165mA,负电源电流(IEE)典型值为 - 320mA。
- 功耗:典型功耗为 3.3W,最大为 4.0W。
(二)DUT 特性
- 工作电压范围:最大为 - 1.5V 至 +6.5V。
- 泄漏电流:高阻模式下,泄漏电流最大为 ±1.5μA;低泄漏模式下,最大为 ±15nA。
- 电容:驱动器在端接模式下电容为 3pF,高阻模式下为 5pF。
(三)驱动特性
- 直流输出特性:输出偏移电压在不同版本下有所不同,A 版本最大为 ±15mV,B 版本最大为 ±100mV;增益在 0.960 至 1.001V/V 之间;线性误差最大为 ±5mV。
- 动态输出特性:驱动模式过冲在不同电压下有所不同,端接模式过冲为 0mV;3V 阶跃下,稳定到 25mV 内的时间为 10ns,稳定到 5mV 内的时间为 20ns。
(四)比较器特性
- 直流特性:输入电压范围为 - 1.5V 至 +6.5V,差分输入电压为 ±8V,滞后为 0mV,输入偏移电压 A 版本最大为 ±15mV,B 版本最大为 ±100mV。
- 交流特性:最小脉冲宽度在不同型号下有所不同,传播延迟典型值为 2.2ns。
(五)其他特性
- 温度监测:在 TJ = +70°C 时,标称电压为 3.43V,温度系数为 +10mV/°C。
- 串行接口时序:SCLK 频率最大为 50MHz。
四、应用领域
- 闪存测试仪:高速、低功耗的特性使其能够满足闪存测试的需求。
- 商品 DRAM 测试仪:可对 DRAM 进行高效测试。
- 低成本混合信号/片上系统测试仪:适用于各种低成本测试系统。
- 有源老化系统:在老化测试中发挥重要作用。
- 结构测试仪:可用于对设备结构进行测试。
五、订购信息
MAX9963/MAX9964 提供多种型号,工作温度范围为 0°C 至 +70°C,采用 100 引脚、14mm x 14mm 封装,引脚间距为 0.5mm 的 TQFP 封装,部分型号带有暴露的管芯焊盘,方便散热。
六、总结
MAX9963/MAX9964 以其小尺寸、低功耗、高速、低色散等诸多优点,为电子测试领域提供了一个优秀的解决方案。无论是在闪存测试、DRAM 测试还是其他测试应用中,都能展现出出色的性能。电子工程师在设计测试设备时,不妨考虑这款芯片,相信它能为你的设计带来更多的便利和优势。你在实际应用中是否遇到过类似芯片的使用问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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