功率MOSFET——NVTFS6H888N:为紧凑型设计带来高效解决方案
在电子设计领域,功率MOSFET作为关键元件,其性能直接影响到整个系统的效率和稳定性。今天,我们就来深入了解一款具有出色性能的单N沟道功率MOSFET——NVTFS6H888N。
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产品概述
NVTFS6H888N是一款耐压80V、导通电阻低至55 mΩ、连续漏极电流可达13A的单N沟道功率MOSFET。它具有诸多突出特点,非常适合各种紧凑型设计应用。
产品特点
- 小尺寸设计:采用3.3 x 3.3 mm的小封装尺寸,为紧凑型设计提供了可能,有助于节省电路板空间。
- 低导通电阻:低RDS(on)能够有效降低导通损耗,提高系统效率。
- 低电容特性:低电容可以减少驱动损耗,进一步提升系统的整体性能。
- 可焊侧翼产品:NVTFS6H888NWF带有可焊侧翼,方便焊接和检测。
- 汽车级认证:通过AEC - Q101认证,具备PPAP能力,适用于汽车电子等对可靠性要求较高的应用场景。
- 环保合规:该器件无铅且符合RoHS标准,符合环保要求。
关键参数与性能
最大额定值
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | VDSS | 80 | V |
| 栅源电压 | VGS | ±20 | V |
| 连续漏极电流(TC = 25°C) | ID | 12 | A |
| 连续漏极电流(TC = 100°C) | ID | 8.3 | A |
| 功率耗散(TC = 25°C) | PD | 18 | W |
| 功率耗散(TC = 100°C) | PD | 9.2 | W |
| 脉冲漏极电流(TA = 25°C,tp = 10 s) | IDM | 47 | A |
| 工作结温和存储温度范围 | TJ, Tstg | -55 to +175 | °C |
| 源极电流(体二极管) | IS | 15 | A |
| 单脉冲漏源雪崩能量(IL(pk) = 0.6 A) | EAS | 47 | mJ |
| 焊接用引脚温度(距外壳1/8″,10 s) | TL | 260 | °C |
热阻参数
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 结到外壳热阻(稳态) | RJC | 8.2 | °C/W |
| 结到环境热阻(稳态) | RJA | 51.5 | °C/W |
电气特性
关断特性
- 漏源击穿电压(V(BR)DSS):在VGS = 0 V,ID = 250 μA的条件下,最小值为80 V。
- 零栅压漏极电流(IDSS):在VGS = 0 V,TJ = 25°C,VDS = 80 V时,最大值为10 μA;在TJ = 125°C时,最大值为250 μA。
- 栅源泄漏电流(IGSS):在VDS = 0 V,VGS = 20 V时,最大值为100 nA。
导通特性
- 栅极阈值电压(VGS(TH)):在VGS = VDS,ID = 15 A的条件下,最小值为2.0 V,最大值为4.0 V。
- 漏源导通电阻(RDS(on)):在VGS = 10 V,ID = 5 A时,典型值为45.7 mΩ,最大值为55 mΩ。
- 正向跨导(gFS):在VDS = 15 V,ID = 10 A时,典型值为18.5 S。
电荷和电容特性
- 输入电容(Ciss):在VGS = 0 V,f = 1.0 MHz,VDS = 40 V时,典型值为220 pF。
- 输出电容(Coss):典型值为35 pF。
- 反向传输电容(Crss):典型值为3.0 pF。
- 阈值栅极电荷(QG(TH)):在VGS = 10 V,VDS = 40 V,ID = 10 A时,典型值为1.0 nC。
- 栅源电荷(QGS):典型值为1.7 nC。
- 栅漏电荷(QGD):典型值为0.9 nC。
- 总栅极电荷(QG(TOT)):在VGS = 10 V,VDS = 40 V,ID = 10 A时,典型值为4.7 nC。
开关特性
在VGS = 10 V,VDS = 64 V,ID = 10 A的条件下:
- 开启延迟时间(td(on)):典型值为7.0 ns。
- 上升时间(tr):典型值为15 ns。
- 关断延迟时间(td(off)):典型值为11 ns。
- 下降时间(tf):典型值为11 ns。
漏源二极管特性
- 正向二极管电压(VSD):在VGs = 0V,Is = 5A,TJ = 25°C时,典型值为0.85 V,最大值为1.2 V;在TJ = 125°C时,典型值为0.73 V。
- 反向恢复时间(tRR):在VGs = 0 V,dIs/dt = 100 A/μs,Is = 10A时,典型值为25 ns。
- 充电时间(ta):典型值为18 ns。
- 放电时间(to):典型值为6.0 ns。
- 反向恢复电荷(QRR):典型值为17 nC。
典型特性曲线
文档中还给出了一系列典型特性曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻与栅源电压关系、导通电阻与漏极电流和栅极电压关系、导通电阻随温度变化、漏源泄漏电流与电压关系、电容变化、栅源电压与总电荷关系、电阻性开关时间随栅极电阻变化、二极管正向电压与电流关系、最大额定正向偏置安全工作区、IPEAK与雪崩时间关系以及热特性等。这些曲线有助于工程师更直观地了解该MOSFET在不同工作条件下的性能表现。
订购信息
| 器件型号 | 标记 | 封装 | 包装数量 |
|---|---|---|---|
| NVTFS6H888NTAG | 888N | WDFN8 3.3x3.3, 0.65P (无铅) | 1500 / 卷带包装 |
| NVTFS6H888NWFTAG | 88NW | WDFNW8 3.3x3.3, 0.65P (全切割8FL WF) (无铅,可焊侧翼) | 1500 / 卷带包装 |
机械尺寸与封装
文档详细给出了WDFN8 3.3x3.3, 0.65P(CASE 511AB)和WDFNW8 3.3x3.3, 0.65P(Full - Cut 8FL WF)(CASE 515AN)两种封装的机械尺寸图和具体尺寸参数,包括各引脚的位置和尺寸公差等信息,方便工程师进行电路板设计和焊接。
总结
NVTFS6H888N凭借其小尺寸、低导通电阻、低电容等优势,为电子工程师在紧凑型设计中提供了一个高效、可靠的功率MOSFET解决方案。无论是在汽车电子、工业控制还是其他对空间和效率要求较高的应用场景中,它都能发挥出色的性能。在实际应用中,工程师可以根据具体的设计需求,结合文档中的各项参数和特性曲线,合理选择和使用该器件,以实现系统的最佳性能。
大家在使用NVTFS6H888N的过程中,有没有遇到过什么特别的问题或者有独特的应用经验呢?欢迎在评论区分享交流。
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