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PCB元器件推力测试怎么做?推拉力测试机厂家实拍测试操作流程

科准测控 来源:科准测控 作者:科准测控 2026-03-24 09:36 次阅读
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最近,我们接待了一位做PCB元器件制造的客户,他们遇到了一个棘手的质量问题:同样是0201规格的贴片,在不同批次的电路板上表现出的焊接强度差异很大,有的轻轻一碰就掉,有的怎么推都推不掉。客户想知道,究竟是焊接工艺出了问题,还是元器件本身存在差异?带着这个疑问找到了我们,希望通过专业的推拉力测试,对两块板相同位置的元器件进行对比分析,找到问题根源。本文科准测控小编将基于PCB板及元器件的实际测试案例,为您详细解读如何通过推拉力测试机精准评估PCB板元器件的焊接强度,帮助有需要的朋友建立科学的质量管控体系。

一、测试原理

PCB元器件推力测试(又称芯片剪切力测试)的核心原理是剪切力学原理,通过对元器件侧面施加平行于PCB板面的推力,直至元器件从焊盘上脱落,记录整个过程中的力值变化。

二、测试标准

  1. IPC-TM-650 试验方法手册:国际电子工业联接协会发布的测试方法标准,其中涉及元器件剪切强度的测试方法,是行业内最通用的参考标准。
  2. JESD22-B117A 半导体器件剪切强度测试方法
  3. MIL-STD-883 微电子器件测试方法标准
  4. GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法

三、测试设备与条件

1.Beta-S100****推拉力测试机
image.png
image.png

设备简介:

配置5kg量程传感器,满足0201微小器件推力测试需求,精度等级0.5级,最小分辨率可达0.1g,确保微小力值精准测量,四轴运动平台,位移控制精度高,可精准定位微小器件,高倍率CCD摄像头,具备十字激光对中功能,精准定位器件位置。

2.测试条件

测试速度:200μm/s

剪切高度:10μm(设置为元器件厚度的1/3处)

测试类型:破坏性测试

合格力值标准:1000g(根据客户要求设定)

环境温度:常温(23±2℃)

3.测试样品

PCB板(客户提供的两块板,分别为光板试样和焊接元器件试样)

四、测试步骤

步骤一:样品检查与准备

检查PCB样品外观,确认元器件位置标记清晰。用无尘布轻轻擦拭样品表面,去除可能影响测试的灰尘和污染物。将样品固定在测试平台的真空吸附夹具上,确保板面水平无晃动。

步骤二:推刀安装与对中

安装平头推刀。通过光学系统将推刀移动至待测器件长边中心位置。设置剪切高度10μm(约为器件厚度的1/3)。

步骤三:设备参数设置

在测试软件中设置以下参数:

  • 测试模式:破坏性测试
  • 测试速度:200μm/s
  • 剪切高度:10μm
  • 传感器量程:5kg
  • 合格力值:1000g
  • 数据记录:开启推力-时间曲线记录

步骤四:执行测试

  1. 启动测试程序,推刀以200μm/s速度匀速推动器件
  2. 实时观察推力-时间曲线变化
  3. 测试持续至器件脱落,设备自动记录最大推力值
  4. 保存测试数据,记录失效分类代码

步骤五:失效模式观察

取下测试后的样品,用显微镜观察焊点破坏形态,记录失效模式分类:

  • 分类1:焊接界面失效(器件与焊盘界面分离)
  • 分类2:焊料内聚失效(焊锡部分残留在器件和焊盘两侧)
  • 分类3:元器件本体破坏(器件碎裂)
  • ungraded:无法明确分类

步骤六:重复测试

按步骤四至五依次完成同块板其他位置及第二块板的测试。

image.png

以上就是科准测控小编分享的PCB元器件推力测试相关内容了,希望可以给大家带来帮助!如果您还想了解更多关于SMT焊接质量检测方法、推拉力测试机选型指南、微小器件推力测试夹具定制方案、失效模式分析技巧和IPC测试标准等问题,欢迎您关注我们,也可以给我们私信和留言,科准测控技术团队为您免费解答!

审核编辑 黄宇

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