ADS114S06B和ADS114S08B是精密的 16 位 Δ-Σ 模数转换器 (ADC),具有低功耗和许多集成功能,可降低测量小信号传感器应用中的系统成本和元件数量。
这些ADC具有数字滤波器,可提供低延迟转换结果和50Hz或60Hz抑制,适用于嘈杂的工业环境。低噪声、可编程增益放大器 (PGA) 提供 1 至 128 的增益范围,以放大电阻桥或热电偶应用的低电平信号。此外,这些器件还集成了低漂移的 2.5V 基准电压源,可减少印刷电路板 (PCB) 面积。最后,两个可编程激励电流源 (IDAC) 可实现简单、准确的 RTD 偏置。
*附件:ads114s06b.pdf
输入多路复用器支持12个ADS114S08B输入和6个ADS114S06B输入,可任意组合连接到ADC,以实现设计灵活性。此外,这些器件还包括传感器烧毁检测、热电偶电压偏置、系统监控和四个通用 I/O (GPIO) 等功能。
这些器件采用无引脚VQFN-32或TQFP-32封装。
特性
- 低功耗:低至 280 μA
- 可编程增益:1 至 128
- 可编程数据速率:2.5 SPS至4 kSPS
- 在 20 SPS ≤下
同时实现 50 Hz 和 60 Hz 抑制,采用低延迟数字滤波器 - 具有 12 (ADS114S08B) 或 6 (ADS114S06B) 个独立可选输入的模拟多路复用器
- 用于传感器激励的双匹配可编程电流源:10 μA 至 2000 μA
- 内部基准电压源:2.5 V,8 ppm/°C(典型值)漂移
- 内部振荡器:4.096 MHz,2% 精度
- 内部温度传感器
- 自偏置和系统校准
- 四个通用 I/O
- SPI 兼容接口
- 模拟电源:单极性(2.7 V 至 5.25 V)或双极性(±2.5 V)
- 数字电源:2.7 V 至 3.6 V
- 工作温度:–40°C 至 +125°C
- 与ADS114S0x引脚兼容
参数
方框图

一、产品基础信息
ADS114S06B 与 ADS114S08B 是德州仪器推出的低功耗、高集成度 16 位 ΔΣ 模数转换器(ADC),文档版本为 SBAS852A,首次发布于 2017 年 8 月,2020 年 2 月修订,核心差异在于输入通道数量,适用于小信号传感器测量场景,可大幅降低系统成本与元件数量。
二、核心特性与参数
(一)基础性能
- 精度与分辨率 :16 位无失码分辨率,积分非线性(INL)典型值 2 ppm FSR,输入失调电压低至 2 µV(增益 16-128 时),增益误差典型值 0.025%。
- 增益与输入 :可编程增益 1-128 倍,ADS114S06B 提供 6 路模拟输入,ADS114S08B 提供 12 路模拟输入,支持单端、伪差分和全差分信号测量。
- 数据速率与滤波 :数据速率范围 2.5 SPS-4 kSPS,≤20 SPS 时可同时抑制 50 Hz/60 Hz 工频噪声,数字滤波器为低延迟设计,单周期稳定。
(二)供电与功耗
- 模拟供电支持单极性(2.7 V-5.25 V)或双极性(±2.5 V),数字核心供电(DVDD)2.7 V-3.6 V,数字 I/O 供电(IOVDD)2.7 V-5.25 V。
- 典型工作电流低至 280 µA,掉电模式电流仅 0.1 µA,功耗表现优异。
(三)集成功能
- 内置 2.5 V 电压基准,温度漂移典型值 8 ppm/°C;集成内部温度传感器,温度系数 403 µV/°C。
- 配备 2 个匹配可编程激励电流源(IDAC),电流范围 10 µA-2000 µA,支持传感器激励;集成 4 个通用 I/O 引脚(GPIO),部分可复用为模拟输入。
- 采用 SPI 兼容接口,支持 8-N-1 格式,支持多设备级联,通信稳定可靠。
三、封装与工作环境
- 封装类型 :提供 32 引脚 TQFP(5.0 mm×5.0 mm)和 32 引脚 VQFN(5.0 mm×5.0 mm)两种封装,均为无铅设计,符合 RoHS 标准。
- 工作温度 :指定工作环境温度范围为 -40°C 至 +125°C,满足工业级严苛环境需求。
四、功能模块详解
(一)输入多路选择器(MUX)
可灵活配置输入通道组合,支持将任意模拟输入选为 PGA 的正 / 负输入,还可路由激励电流源至输入引脚;集成系统监测功能,可测量电源电压、内部温度,支持传感器烧断检测。
(二)可编程增益放大器(PGA)
- 低噪声、低漂移设计,增益 1-4 倍可仅通过开关电容电路实现,8-128 倍由 PGA 与开关电容电路协同实现,增益 64/128 倍时包含数字缩放环节。
- 输入电压需满足范围要求,增益≤16 时,AINP、AINN 电压范围为 AVSS+0.15 V 至 AVDD-0.15 V;增益>16 时需结合最大差分输入电压调整,避免 PGA 输出超出线性范围。
- 支持旁路模式,此时输入电压范围扩展至 AVSS-0.05 V 至 AVDD+0.05 V,可测量单端接地信号。
(三)转换与工作模式
- 转换模式 :包括连续转换和单次转换。连续转换模式下,完成一次转换后立即启动下一次;单次转换模式下,执行一次转换后进入待机模式,降低功耗。
- 工作模式 :分为掉电模式(关闭大部分电路,保留寄存器配置)、待机模式(无转换时自动进入,低功耗)、转换模式(执行信号采样与转换)。
(四)数据完整性与接口
- 支持系统偏移校准、系统增益校准和自偏移校准,校准样本数可配置(1/4/8/16 个样本),提升测量精度。
- SPI 接口支持模式 1(CPOL=0,CPHA=1),通过 CS、SCLK、DIN、DOUT/DRDY、DRDY 引脚通信,可简化为 3 线接口(CS 常低),支持多设备共享总线。
五、典型应用场景
- 工业传感 :现场变送器(温度、压力、应变、流量)、PLC/DCS 模拟输入模块、温度控制器、气候箱、工业烤箱。
- 传感器测量 :电阻温度检测器(RTD)、热电偶、热敏电阻、电阻桥(称重传感器、应变片)等低电平信号采集。
- 精密监测 :需要低噪声、低功耗、高稳定性的信号测量场景,如工业过程控制、设备状态监测等。
六、设计与使用要点
(一)电源与去耦
- 模拟电源(AVDD)需并联 330 nF 去耦电容至 AVSS,DVDD 和 IOVDD 需并联 0.1 µF 去耦电容至 DGND,电容尽量贴近引脚,减少寄生参数。
- 电源 sequencing 无严格顺序,但建议 IOVDD 与 DVDD 同步上电或提前上电,避免通信异常。
(二)输入处理与校准
- 建议在模拟输入端添加一阶 RC 低通滤波器,截止频率设为输出数据率或其 10 倍,抑制混叠和 EMI 干扰,电阻值建议 100 Ω-10 kΩ。
- 测量前需进行校准:偏移校准可将输入短路至中点电压((AVDD+AVSS)/2),增益校准需输入满量程标准信号,校准结果存储于专用寄存器。
(三)寄存器配置
设备包含 18 个 8 位配置寄存器,涵盖输入通道选择、增益设置、数据速率配置、参考源选择、IDAC 配置等功能,复位后寄存器恢复默认值,可通过 SPI 接口读写配置。
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为什么ADS114S08的Input-referred noise恰好为1LSB?
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ADS114S08通过SPI读不到寄存器的值是怎么回事?
ADS114S08是不是必须自己配置寄存器来控制模数转换的通道号?
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