该ADS9810是一个八通道数据采集(DAQ)系统,基于同步采样、18位逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)。该ADS9813为每个通道提供完整的模拟前端 (AFE),并带有输入钳位。该器件还具有 1MΩ 输入阻抗和具有用户可选带宽选项的可编程增益放大器 (PGA)。高输入阻抗允许直接与传感器和变压器连接,从而消除了对外部驱动电路的需求。配置ADS9813以接受±12V、±10V、±7V、±5V、±3.5V和±2.5V双极性输入,输入共模电压高达±12V。
支持1.2V至1.8V工作的数字接口使ADS9813无需外部电压电平转换器即可使用。
*附件:ads9810.pdf
特性
- 8通道、18位ADC,带模拟前端:
- 同时采样
- 恒定的 1MΩ 输入阻抗前端
- 可编程模拟输入范围:
- ±12V、±10V、±7V、±5V、±3.5V和±2.5V
- 单端和差分输入
- 共模电压范围:±12V
- 输入过压保护:高达 ±18V
- 用户可选择的模拟输入带宽:
- 22.7kHz 和 700kHz
- 集成低漂移精度基准:
- ADC基准电压源:4.096V
- 2.5V 基准输出,用于外部电路
- 全通量下的出色交流和直流性能:
- DNL:±0.35LSB,INL:±0.8LSB
- 信噪比:90.3dBFS,总谐波扰:–113dB
- 电源:
- 模拟和数字:5V 和 1.8V
- 数字接口:1.2V 至 1.8V
- 温度范围:–40°C 至 +125°C
参数

方框图

一、产品基础信息与核心差异对比
ADS9810、ADS9811、ADS9813 同属 ADS981x 系列,核心架构均为 18 位 8 通道同步采样 ADC,共享集成模拟前端、宽输入范围等特性,主要差异集中在采样速率与功耗,具体参数对比如下:
| 参数分类 | 参数名称 | ADS9810 | ADS9811 | ADS9813 | 系列共同特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| 基础性能 | 最大采样速率 | 1MSPS / 通道 | 1MSPS / 通道 | 2MSPS / 通道 | 1. 18 位分辨率无失码,INL±0.8LSB(典型值)、DNL±0.35LSB(典型值),全温度范围(-40°C 至 125°C)INL 最大 ±4LSB2. 集成模拟前端:每通道含输入钳位(支持 ±18V 过压保护)、PGA(可编程增益)、低通滤波器(22.7kHz/700kHz 可选)3. 宽输入特性:支持 ±2.5V/±3.5V/±5V/±7V/±10V/±12V 双极性输入,共模电压范围 ±12V,输入阻抗恒定 1MΩ4. 低噪声性能:低带宽模式下 SNR 典型 90.3dBFS,THD 典型 - 113dBc,无杂散动态范围(SFDR)102dB5. 内置基准:4.096V ADC 基准(温度漂移 7-20ppm/°C)、2.5V 外部基准输出(REFOUT_2V5),支持内外基准切换6. 数字接口:支持 2 路 / 4 路 CMOS 输出,SDR/DDR 模式,数据随机化功能(降低地弹噪声) |
| 基础性能 | 典型总功耗(满速) | 177mW | 177mW | 244mW | |
| 电源与电流 | AVDD_5V 电流(满速) | 21.3-25mA | 21.3-25mA | 28.3-32mA | |
| 电源与电流 | VDD_1V8 电流(满速) | 35-43mA | 35-43mA | 52-70mA | |
| 信号处理 | 模拟输入带宽(-3dB) | 低带宽 22.7kHz / 宽带宽 221-700kHz | 低带宽 22.7kHz / 宽带宽 221-700kHz | 低带宽 22.7kHz / 宽带宽 221-700kHz |
二、关键功能特性详解
1. 模拟前端与输入特性
1.1 输入保护与范围配置
- 输入钳位保护 :每通道集成钳位电路,可承受 ±18V 过压,过压时钳位电流≤±10mA,需串联电阻限制电流;支持 AC/DC 耦合,输入电压范围 - 17V 至 17V(工作)、-18V 至 18V(绝对最大)。
- 可编程输入范围 :通过寄存器(0xC2/C3)独立配置每通道输入范围,支持 ±2.5V(LSB=19.07μV)至 ±12V(LSB=91.55μV),适配不同幅值信号采集。
- 共模电压控制 :支持 ±1V/±RANGE/2/±6V/±12V 共模范围,通过 CM_CTRL_EN(0xC5 [4])与 CM_RNG_CHx(0xC4 [9:6])配置,满足宽共模场景需求。
1.2 信号调理模块
- 可编程增益放大器(PGA) :集成 PGA 用于信号增益调节,配合输入范围配置实现不同幅值信号适配,增益精度高,增益误差最大 ±0.038% FSR,温度漂移最大 3ppm/°C。
- 低通滤波器(LPF) :每通道含可配置 LPF,支持两种带宽模式:
- 低带宽模式:固定 22.7kHz,适合低噪声高精度采集;
- 宽带宽模式:随输入范围变化(±2.5V 时 221kHz 至 ±7V 时 700kHz),适合中高频信号采集。
- 输入阻抗特性 :输入阻抗恒定 1MΩ,不受采样速率、输入范围影响,无需外部驱动电路,可直接连接传感器或变压器。
2. 数据处理与接口功能设计
2.1 数据平均与随机化
- 数据平均 :支持两种平均模式,提升 SNR:
- 简单平均:2 倍平均,输出速率降至 1/2(如 ADS9813 从 2MSPS 降至 1MSPS),SNR 提升至 113dB;
- 移动平均:无输出速率损失,通过 EN_MVG_AVG(0x0D [0])使能,适配需保持速率的场景。
- 数据随机化 :通过 XOR_EN(0x12 [3])使能,将 ADC 结果与 PRBS bit 或自身 LSB 异或,降低数字接口地弹噪声对模拟性能的干扰。
2.2 数字接口
- 接口模式 :支持 2 路 / 4 路 CMOS 输出,SDR/DDR 数据速率,通过 DATA_LANES(0xC1 [9])与 DATA_RATE(0xC1 [8])配置:
- 4 路 DDR:ADS9813 满速时 DCLK=48MHz,每通道数据分 4 路输出;
- 2 路 DDR:ADS9813 满速时 DCLK=96MHz,每通道数据分 2 路输出;
- 数据格式:18 位结果以 24 位数据包输出(MSB 优先,后 6 位补 0),支持二进制 / 二进制补码(DATA_FORMAT,0x0D [13])。
- 同步功能 :通过 SMPL_SYNC 引脚实现多器件同步采样,需在 SMPL_CLK 下降沿前后满足 10ns 建立 / 保持时间,确保多 ADC 通道对齐。
2.3 特殊工作模式
- 掉电模式 :支持全局掉电(PD_CHIP,0xC4 [0])与通道组掉电(PD_CH,0xC0 [1:0]),掉电时 AVDD_5V 电流降至 0.2-2mA,VDD_1V8 电流降至 0.2-8mA,降低功耗。
- 速升模式(Speed-Boost) :仅 ADS9813 支持,选择 1 组通道对(如 CH1&CH8、CH2&CH7 等),采样速率提升至 8MSPS,其他通道闲置,适配高速率单组通道采集场景。
3. 基准与温度传感器
3.1 基准配置
- 内部基准 :默认启用 4.096V 内部基准,REFIO 引脚输出,需外接 10μF 陶瓷去耦电容,基准电压范围 4.092V-4.1V,输出阻抗 1kΩ。
- 外部基准 :通过 PD_REF(0xC1 [11])禁用内部基准,REFIO 引脚接入 4.088V-4.104V 外部基准(推荐 REF7040),需同样外接 10μF 去耦电容,提升精度。
- 2.5V 基准输出 :REFOUT_2V5 引脚提供 2.5V 基准,用于外部电路,需外接 10μF 去耦电容,温度漂移低,适配高精度外部调理电路。
3.2 温度传感器
- 集成 10 位温度传感器 :用于监测器件内部温度,通过固定寄存器序列读取:
- 向 Bank2 的 0x92 寄存器写入 0x0002,加载温度数据;
- 读取相关寄存器获取温度值,转换公式为,测量范围覆盖工作温度区间。
三、电气规格详情(典型值,TA=25°C,AVDD_5V=5V,VDD_1V8=1.8V)
3.1 供电与电流特性
| 器件型号 | AVDD_5V 电流(满速) | AVDD_5V 电流(掉电) | VDD_1V8 电流(满速) | VDD_1V8 电流(掉电) | IOVDD 电流(满速) | IOVDD 电流(掉电) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ADS9810 | 21.3-25mA | 0.2-2mA | 35-43mA | 0.2-8mA | 4-7mA | 0.1-2mA |
| ADS9811 | 21.3-25mA | 0.2-2mA | 35-43mA | 0.2-8mA | 4-7mA | 0.1-2mA |
| ADS9813 | 28.3-32mA | 0.2-2mA | 52-70mA | 0.2-8mA | 5-10mA | 0.1-2mA |
3.2 AC 性能指标(低带宽模式,fIN=2kHz,±12V 输入)
| AC 性能参数 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 信噪比(SNR) | 88.1 | 90.3 | - | dBFS |
| 信号噪声失真比(SINAD) | 88 | 90.2 | - | dB |
| 总谐波失真(THD) | - | -113 | - | dBc |
| 无杂散动态范围(SFDR) | - | 102 | - | dB |
| 共模抑制比(CMRR) | -70 | - | - | dB |
| 通道隔离度(Crosstalk) | -100 | - | - | dB |
| 模拟输入带宽(-3dB) | - | 22.7 | - | kHz |
3.3 数字接口电气特性
| 接口类型 | 参数名称 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| CMOS 输入(CS/SCLK/SDI) | 低电平输入电压(VIL) | - | -0.3 | - | 0.3×IOVDD | V |
| CMOS 输入(CS/SCLK/SDI) | 高电平输入电压(VIH) | - | 0.7×IOVDD | - | IOVDD | V |
| CMOS 输出(D0-D3/SDO) | 低电平输出电压(VOL) | IOL=200μA | 0 | 0.2×IOVDD | - | V |
| CMOS 输出(D0-D3/SDO) | 高电平输出电压(VOH) | IOH=200μA | 0.8×IOVDD | IOVDD | - | V |
| 采样时钟输入 | 差分高电平(VTH) | AC 耦合 | 100 | - | - | mV |
| 采样时钟输入 | 差分低电平(VTL) | AC 耦合 | - | - | -100 | mV |
| 采样时钟输入 | 共模电压(VICM) | - | 0.5 | 1.2 | 1.4 | V |
四、寄存器配置体系
器件包含 3 个寄存器组(Bank 0/1/2),核心寄存器功能分类如下:
4.1 Bank 0:基础配置寄存器
| 寄存器地址 | 寄存器名称 | 核心功能 | 关键字段说明 |
|---|---|---|---|
| 0x00 | 复位与 SPI 模式寄存器 | 器件复位、SPI 模式选择 | - RESET(bit0):1b 时复位所有寄存器- SPI_MODE(bit2):0b 菊花链模式,1b 传统模式- SPI_RD_EN(bit1):1b 使能寄存器读(仅传统模式) |
| 0x01 | 菊花链长度寄存器 | 配置 SPI 菊花链设备数量 | - DAISY_CHAIN_LEN(bit6-2):0=1 个 ADC,31=32 个 ADC |
| 0x03 | 寄存器组选择寄存器 | 选择待操作寄存器组 | - REG_BANK_SEL(bit7-0):0=Bank0,2=Bank1,16=Bank2 |
| 0x04 | 初始化配置寄存器 | 器件初始化控制 | - INIT_1(bit3-0):初始化写 0011b,正常运行写 0000b |
4.2 Bank 1:功能配置寄存器
| 寄存器地址 | 寄存器名称 | 核心功能 | 关键字段说明 |
|---|---|---|---|
| 0x0D | 数据格式与平均控制寄存器 | 数据格式、平均使能 | - DATA_FORMAT(bit13):0 = 二进制,1 = 二进制补码- EN_AVG(bit6):1b 使能数据平均- EN_MVG_AVG(bit0):1b 使能移动平均 |
| 0x12 | 数据随机化控制寄存器 | 数据异或使能与模式 | - XOR_EN(bit3):1b 使能数据异或- XOR_PRBS(bit4):0 = 与 PRBS 异或,1 = 与自身 LSB 异或 |
| 0xC0 | 带宽与通道掉电寄存器 | 输入带宽、通道掉电 | - ANA_BW(bit9-2):0 = 低带宽,1 = 宽带宽(每 bit 对应 1 个通道)- PD_CH(bit1-0):0 = 正常,1=CH5-8 掉电,2=CH1-4 掉电,3 = 全掉电 |
| 0xC1 | 基准与接口配置寄存器 | 基准选择、接口模式 | - PD_REF(bit11):1b 禁用内部基准- DATA_LANES(bit9):0=4 路输出,1=2 路输出- DATA_RATE(bit8):0=DDR,1=SDR |
| 0xC2/C3 | 输入范围配置寄存器 | 每通道输入范围 | - RANGE_CHx(bit15-12/11-8 等):0=±5V,1=±3.5V,2=±2.5V,3=±7V,4=±10V,5=±12V |
| 0xC4 | 共模与平均配置寄存器 | 共模范围、平均参数 | - CM_CTRL_EN(bit4):1b 使能自定义共模范围- CM_RNG_CHx(bit9-8/7-6):0=±RANGE/2,1=±6V,2=±12V- AVG_CFG1/2(bit1/5-4):配置简单平均参数 |
| 0x37 | 速升模式控制寄存器 | 速升模式使能与通道选择 | - EN_BOOST(bit0):1b 使能速升模式- BOOST_CH_SEL(bit2-1):选择通道对(0=CH1&CH8,1=CH2&CH7 等) |
五、应用设计与布局建议
5.1 典型应用场景
该系列 ADC 主要面向多通道高精度数据采集,具体场景包括:
- 半导体测试设备 :多通道电压 / 电流测量,需宽输入范围与高线性度;
- 参数测量单元(PMU) :Force-Voltage/Current 模式下的高精度采样,支持多路 DUT(被测器件)并行测试;
- 可编程直流电源 :多通道输出电压 / 电流监测,需低噪声与高稳定性。
5.1.1 PMU 应用方案
- 电路结构 :PMU 输出经分流电阻转换为电压信号,通过多路复用器(MUX)切换至 ADC 输入,ADC 每通道独立配置输入范围(如 ±5V 用于电流采样,±12V 用于电压采样),采用低带宽模式提升 SNR;FPGA 接收 ADC 数据并实现校准算法,补偿 offset 与 gain 误差。
- 关键参数 :校准后总未调整误差(TUE)<0.0015%(25°C±5°C),宽带宽模式下阶跃建立时间 7.5μs(99.95% FS),适配快速通道切换需求。
5.2 电源与布局设计要点
5.2.1 电源配置
- 供电体系 :需三路独立电源,模拟电源(AVDD_5V)4.75-5.25V,为模拟前端供电;核心数字电源(VDD_1V8)1.75-1.85V,为 ADC 核心与数字逻辑供电;接口电源(IOVDD)1.15-1.85V,为数字接口供电,无上电顺序要求。
- 去耦配置 :AVDD_5V、VDD_1V8、IOVDD 引脚均需并联 1μF+0.1μF 陶瓷电容,且靠近引脚布局;REFIO 与 REFOUT_2V5 引脚分别外接 10μF 去耦电容,降低基准噪声。
5.2.2 PCB 布局准则
- 分区布局 :将模拟部分(AINxP/AINxM、REFIO、REFOUT_2V5)与数字部分(D0-D3、DCLKOUT、SPI 接口)严格分区,模拟信号路径避免穿越数字区域,减少 EMI 干扰。
- 输入布线 :模拟输入差分对(AINxP/AINxM)需等长布线,长度差≤5mil,远离电源噪声源;输入串联电阻(如 50Ω)限制过压电流,配合电容构成抗混叠滤波器。
- 接地处理 :暴露热焊盘(Thermal Pad)必须接地,GND 与 REFM 单点连接,采用独立接地平面;电源平面与接地平面紧密耦合,降低电源噪声。
六、封装与订购信息
6.1 封装规格
- 封装类型 :56 引脚 VQFN(型号 RSH),尺寸 7mm×7mm,引脚间距 0.5mm,最大高度 1mm,暴露热焊盘(面积约 5.2mm×5.2mm)用于散热,热阻参数:RθJA=23.2°C/W,RθJB=6.1°C/W。
- 焊接要求 :MSL 等级 3(260°C 峰值回流,168 小时湿敏存储),推荐焊盘直径 0.4mm,钢网厚度 0.125mm,热焊盘焊接覆盖率≥70%,确保散热效率。
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