声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
-
电源
+关注
关注
185文章
18992浏览量
264666 -
纳米
+关注
关注
2文章
731浏览量
42668
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
我们该如何理解“微加工”,纳米级精度技术构成的重新解读
结构变化、微裂纹、甚至失效。而在纳米级尺度上,这些问题被无限放大。
于是,“冷加工”成为必然方向。以飞秒激光为例,它的脉冲宽度极短,短到能量还没来得及扩散,材料就已经被“剥离”。这不是传统意义上的熔化或
发表于 03-16 16:27
晶圆表面的纳米级缺陷光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪
1 、引言 晶圆作为半导体器件制造的核心基材,其表面质量直接决定芯片制备良率与器件性能。在晶圆切割、抛光、清洗等制程中,易产生划痕、凹陷、凸起、残留颗粒等纳米级缺陷,这些缺陷会导致后续光刻图案转移
光刻机的“精度锚点”:石英压力传感器如何守护纳米级工艺
在7纳米、3纳米等先进芯片制造中,光刻机0.1纳米级的曝光精度离不开高精度石英压力传感器的支撑,其作为“隐形功臣”,是保障工艺稳定、设备安全与产品良率的核心部件。本文聚焦石英压力传感器在光刻机中
决战纳米级缺陷!东亚合成IXEPLAS纳米离子捕捉剂如何助力先进封装?
随着芯片制程不断微缩,先进封装中的离子迁移问题愈发凸显。传统微米级添加剂面临分散不均、影响流动性等挑战。本文将深度解析日本东亚合成IXEPLAS纳米级离子捕捉剂的技术突破,及其在解决高密度封装可靠性难题上的独特优势。
破解铜/银迁移难题:纳米级离子捕捉剂在先进封装中的工程化应用
在追求更高I/O密度和更快信号传输的驱动下,铜互连与银浆印刷已成为先进封装的标准配置。然而,Cu²⁺和Ag⁺在电场下的迁移速度是Al³⁺的5-8倍,极易引发枝晶生长导致短路失效。本文聚焦这一行业痛点,系统阐述纳米级离子捕捉剂IXEPLAS的工程解决方案,包含作用机理、量化
如何用FIB技术定位纳米级缺陷?关键操作与案例解析
FIB技术以其独特的纳米级加工能力,在半导体芯片、材料科学等领域展现出精准切割、成像和分析的强大功能。样品制备样品制备是FIB测试的首要环节,其质量直接影响最终测试结果的准确性。对于不同类型的样品
中国团队成功创制亚纳米级关键材料
据科技日报报道;安徽师范大学传来好消息,安徽师范大学校长熊宇杰教授联合中国科学技术大学相关科研团队,在温和条件下利用激光辐照所激发的等离激元光热效应和热电子效应,成功创制出亚纳米级高熵合金,这一
毫米行程柔性驱动压电纳米定位台:超大行程,纳米级精度
至1mm,同时延续纳米级精度与高稳定性,为更大范围的精密应用提供全新解决方案。 一、P15.XY1000S/K:超大行程与高精度的双重突破 作为P15系列的大行程新成员,P15.XY1000S/K在保留系列核心优势的基础上,针对大范围精密运动需求做了关键升级,核心亮点集中
共聚焦显微镜原理:纳米级成像技术的关键
在微观世界中,细节决定成败。共聚焦显微镜技术,作为一项突破性的成像技术,正引领着纳米级成像的新纪元。它不仅提供了前所未有的高分辨率和对比度,而且能够在无需样品预处理的情况下,清晰地揭示样品
触针式轮廓仪 | 台阶仪 | 纳米级多台阶高度的精准测量
纳米级三台阶高度样本(8nm/18nm/26nm)的高精度测量。并应用于薄膜沉积速率的计算与验证,结果显示轮廓仪与光谱椭偏仪的沉积速率测量结果一致。1触针轮廓仪测量f
多摩川17位绝对式编码器实现伺服系统纳米级定位精度
在工业自动化的浪潮中,伺服系统的定位精度就像是一把精准的手术刀,决定着生产的质量和效率。而多摩川 17 位绝对式编码器,无疑是这把手术刀上最为锋利的刃口,它实现了伺服系统纳米级的定位精度,为工业生产带来了质的飞跃
Keithley 2450数字源表纳米级材料测试的精密利器
、操作复杂性高等问题亟待解决。美国吉时利(Keithley)推出的2450数字源表,凭借高精度、多功能及智能化设计,为纳米级材料测试提供了突破性解决方案,成为科研与工业领域的精密利器。 一、核心技术特性:精密测量的基石
AWK6943ABTER:车规级高可靠电源解决方案
AWK6943ABTER以车规级可靠性+极简设计成为工业/汽车电源首选,其宽压输入、纳米级响应及打嗝式保护技术,为高可靠系统提供国产化高性能替代方案。
关于纳米级电源解决方案介绍
评论