Xfilm埃利测量通过高精度电阻检测技术助力TOPCon电池工艺革新。针对传统Ag/Al浆料在DH85湿热环境下铝腐蚀引发的接触电阻暴增(ΔRs=13,000%)与PCE衰减92%问题,借助Xfilm的高灵敏度电阻检测系统赋能激光辅助烧结技术(JSIM)采用无铝浆料体系,结合低温烧结工艺使DH85测试中PCE衰减率降至3.6%,FF损失减少86%。SEM-EDS界面分析证实JSIM技术有效消除铝腐蚀,接触电阻波动率<±5%,为TOPCon量产提供稳定可靠的接触界面解决方案。

图1 (a)TOPCon太阳能电池示意图 (b)TOPCon模组 (c)实验流程
所有实验样品均基于G10 n型Cz硅片(182mm×182mm)制备。如图1(a)所示,实验组与对照组均采用Jolywood开发的POPAID技术制备TOPCon前驱体,差异主要体现在正面金属化工艺:JSIM组采用定制化银浆结合激光辅助烧结(1030nm/1000Hz)形成低阻接触,而对照组使用传统Ag/Al浆料。两组样本保持相同丝网印刷设计,并封装成含144半片电池的G-B组件(图1(b)),封装材料采用POE/EPE复合结构。
实验流程如图1(c)所示:电池经去离子水清洗、氮气干燥后,通过0.3g 0.9wt% NaCl溶液喷洒模拟污染环境,垂直放置于PTFE盒中避免交叉污染。DH85测试在恒温恒湿箱中进行,每10小时进行室温循环。电性能测试分别采用Halm在线系统(产线端)和LOANA系统(加速测试端),组件输出通过GIV-200DS2616闪测仪评估。结合PL/RS成像、TLM接触电阻测试及冷冻FIB-SEM截面分析(图7)系统研究性能退化机制,EDS分析揭示铝腐蚀动力学。
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实测对比:JSIMvs传统工艺
/Xfilm
- 电池性能

图2 JSIM和基线电池生产线中I-V相关参数的箱线图
表1JSIM和基准TOPCon太阳能电池的批次平均I-V结果
图2和表1展示了JSIM和基准TOPCon太阳能电池的I-V测试结果。JSIM电池平均PCE为25.1%,略高于基线组的25.0%。两者JSC(41.0mA/cm²)和VOC(723.3mV)接近,但JSIM填充因子(FF=83.2%)优于基线(FF=82.9%),表明激光辅助烧结工艺提升了金属-半导体接触质量。
加速DH85测试

图3 测试中PCE、Jsc、Voc、FF和Rs的相对变化情况
经40小时DH85测试后,JSIM组性能稳定,而基线TOPCon样品PCE下降92.0%,其NaCl电池Rs激增1.3×104%,高阻损耗致Jsc降低。JSIM样本表现优异,PCE仅衰减3.6%,Rs增幅(+240%)显著低于TOPCon电池。数据表明JSIM结构具有更强湿热稳定性(图3)。

图4 TOPCon太阳能电池在40小时DH85测试前后的PL图像

图
5 TOPCon太阳能电池在40小时DH85测试前后Rs图像
PL与Rs图像分析表明,JSIM与基线电池在DH85测试后呈现显著差异。PL图像显示基线电池母线附近出现暗区,表明硅-金属界面局部复合增加,而JSIM样本未现整体复合变化。基线NaCl组经40h DH85后Rs全域激增(与图3 I-V特性恶化关联),金属接触面受NaCl严重侵蚀。相比之下,JSIM-NaCl样本仅局部Rs微增(+240%),接触面维持低阻态,证实其结构可有效阻隔NaCl腐蚀,使TOPCon电池在湿热环境中保持稳定电接触性能。
- 接触电阻演化

图6 接触电阻(ρc)在DH85测试20h前后的对比
20小时DH85测试后,JSIM组接触电阻(ρc)从2.9mΩ·cm²微增至3.1mΩ·cm²,而基线组ρc从1.3mΩ·cm²剧增至200.6mΩ·cm²(图6)。数据表明JSIM技术通过无铝浆料体系与激光工艺协同作用,使抗腐蚀能力提升两个数量级。
失效机制分析

图740h DH85处理后TOPCon正面样品截面SEM及元素分布
FIB-SEM截面显示(图7):
◇ 基线电池Al颗粒分散化,EDS检测到Al-O-Cl腐蚀产物
◇ JSIM电池保持完整Ag接触界面,无Al残留
◇ 激光处理形成均匀Ag-Si欧姆接触,消除电偶腐蚀风险。
模块级验证

图8 DH85测试后电池制造的玻璃背板组件的参数相对变化
经1000小时DH85测试后(图8):
◇ JSIM模块Pmax衰减2.1%,FF损失0.6%
◇ 基线模块Pmax衰减7.3%,FF损失4.9%
电致发光成像(图9)显示基线模块沿焊带出现失效条纹,JSIM模块保持均匀发光。

图9 JSIM和基准模块在1000小时DH85测试前后的电致发光图像
该研究证实JSIM技术通过工艺创新(无Al浆料兼容性、接触稳定性提升)解决了TOPCon电池湿热失效难题,为低成本高效光伏应用提供关键技术支撑。
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产业变革:光伏技术“可靠+高效”
/Xfilm
JSIM 技术通过优化金属化工艺,使得接触界面的电阻更低、稳定性更高,从而有效减少了能量损耗,提高了电池的转换效率。TOPCon凭借效率与成本的平衡,正加速替代PERC,并成为HJT的有力竞争者。随着工艺成熟和规模效应释放,其在光伏市场的地位将日益巩固,为光伏产业的发展开辟新的篇章。
原文出处:《Enhancing the reliability of TOPCon technology by laser-enhancedcontact firing 》
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