概述
ADRF5160 是一款硅基高功率 0.7 GHz 到 4.0 GHz 硅单刀双掷 (SPDT) 反射开关,采用无引线的表面安装式封装。此开关适用于高功率和蜂窝基础设施应用,例如长期演进 (LTE) 基站。ADRF5160 具有 41 dBm 的高功率处理能力(长期(>10 年)典型平均值 8 dB PAR LTE)、0.7 dB(典型值)至 2.0 GHz 的低插入损耗、70 dBm 的输入 3 阶交调点 (IP3)(典型值)和 47 dBm 的 0.1 dB 压缩点 (P0.1dB)。片内电路使用 5 V 的单一正电源工作,典型电源电流为 1.1 mA,使得 ADRF5160 成为基于 Pin 二极管的开关的理想替代方案。
ADRF5160 采用符合 RoHS 指令的紧凑式 32 引脚 5 mm × 5 mm LFCSP 封装。
数据表:*附件:ADRF5160 0.7 GHz至4.0 GHz高功率88W峰值硅SPDT反射开关技术手册.pdf
应用
- 无线基础设施
- 军事和高可靠性应用
- 测试设备
- Pin 二极管替代方案
特性 - 反射式 50 Ω 设计
- 低插入损耗:0.7 dB(典型值)至 2.0 GHz
- TCASE= 105°C 下具有高功率处理能力
- 长期(>10 年)平均值
- 连续波功率:43 dBm
- 峰值功率:49 dBm
- LTE 平均功率 (8 dB PAR):41 dBm
- 单一事件(<10 秒)平均值
- LTE 平均功率 (8 dB PAR):44 dBm
- 长期(>10 年)平均值
- 高线性度
- P0.1dB:47 dBm(典型值)
- IP3:70 dBm(典型值)
- ESD 额定值
- HBM:4 kV(3A 级)
- CDM:1.25 kV
- 单一正电源:5 V
- 正控制,CMOS/TTL 兼容
- 32 引脚 5 mm × 5 mm LFCSP 封装
框图
引脚配置
接口示意图
ADRF5160-EVALz可以承受器件工作的高功率水平和温度。ADRF5160-EVALZ评估板由八层金属层和层间电介质构成,如图13所示。每个金属层具有1盎司(1.3密耳)的铜厚度,并且外层被电镀到2盎司。顶部介电材料为10密耳Rogers RO4350,具有较低的导热系数,可控制电路板的温升。其他金属层之间的电介质为FR4。整个板的厚度为62密耳。
顶部铜层具有所有RF和dc走线。其他七层提供足够的接地,有助于处理ADRF5160-EVALZ的温升。此外,在传输线路周围和封装裸露焊盘下方提供过孔,如图15所示,以实现适当的散热接地。板上的RF传输线路采用共面波导设计,宽度为18密耳,接地间距为13密耳。
为确保最大散热并降低电路板上的温升,一些应用考虑因素至关重要。评估板必须连接到板底部的铜支撑板上。ADRF5160-EVALZ附带此支撑板附件。在所有高功率操作期间,使用散热膏将该评估板及其支撑板连接到散热器上。图14显示了板温度。RF功率输入在上述条件和注意事项下进行测试(评估板和支撑板连接到散热器)。在高达48 dBm的RF功率输入下,温升小于8 ℃,在高功率水平下工作时可提供所需的散热。
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