概述
ADRF5130是一款高功率、反射式、0.7 GHz至3.5 GHz、单刀双掷(SPDT)硅开关,采用无引脚、表贴封装。该开关非常适合高功率和蜂窝基础设施应用,如长期演进(LTE)基站。ADRF5130具有43 dBm(典型值)高功率处理能力、0.6 dB低插入损耗、68 dBm(典型值)输入线性度三阶交调截点和46 dBm下的0.1 dB压缩点(P0.1dB)。片内电路在5 V单正电源电压下工作,典型偏置电流为1 mA,使其成为基于引脚二极管开关的理想替代器件。
该器件采用符合RoHS标准的紧凑型24引脚、4 mm × 4 mm LFCSP封装。
数据表:*附件:ADRF5130 0.7GHz至3.5GHz高功率、44W峰值、硅SPDT、反射式开关技术手册.pdf
应用
- 蜂窝/4G基础设施
- 无线基础设施
- 军事和高可靠性应用
- 测试设备
- 引脚二极管替代器件
特性 - 反射式50 Ω设计
- 低插入损耗:0.6 dB(典型值,2 GHz)
- 高隔离度:50 dB(典型值,2 GHz)
- 高功率处理
- 连续平均功率:43 dBm
- 峰值功率:46.5 dBm
- 高线性度
- 0.1 dB压缩(P0.1dB):>46 dBm(典型值)
- 输出三阶交调截点(IP3):68 dBm(典型值,2 GHz)
- ESD额定值
- 人体模型(HBM):2 kV,2级
- 充电器件模型(CDM):待定
- 单正电源
- V DD :5 V
- 正控制,TTL兼容
- V CTL : 0 V 或 5 V
- 24引脚、4 mm × 4 mm LFCSP封装 (16 mm ^2^ )
框图
引脚配置
典型性能特征
利用适当的RF电路设计技术,生成用于图11所示应用电路的评估PCB。RF端口的信号线必须具有50欧姆阻抗,封装接地引脚和背面接地片必须直接连接到接地层,如图14所示。
ADRF5130评估板有八个金属层,各层之间有电介质(见图12)。顶部和底部金属层具有2盎司(2.7密耳)的铜厚度,而它们之间的金属层具有1盎司(1.3密耳)的铜厚度。顶部介电材料为10密耳RogersRO4350,具有极低的导热系数,可控制电路板的温升。其他金属层之间的电介质为FR-4。整个板的厚度达到62密耳。图13显示了ADRF5130评估板的俯视图。
顶层铜层具有所有RF和dc走线,而其他七层提供良好的接地,有助于处理评估板上由ADRF5130高功率引起的温升。此外,为了实现适当的热接地,在传输线路周围和封装裸露焊盘下方提供了许多过孔。ADRF5130评估板上的RF传输线路采用共面波导设计,宽度为18密耳,接地间距为13密耳。为了控制高温和高功率下ADRF5130评估板的温升,建议使用散热装置和微型直流风扇。
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