0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

银迁移失效现象

方齐炜 来源:jf_48691434 2024-10-27 10:21 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

银迁移现象及其对电子产品可靠性的影响

在现代电子技术中,材料的稳定性和可靠性是产品设计和制造过程中的关键因素。银迁移作为一种潜在的故障现象,对电子产品的稳定性和可靠性构成了严重威胁。银迁移是指在特定的电化学条件下,金属银从阳极向阴极移动,并在阴极重新沉积形成树枝状结构的现象。这种现象的发生不仅会导致电子产品性能下降,还可能引发短路等严重故障。

银迁移的成因

银迁移的发生需要几个关键条件的共同作用。首先,必须存在电解质,通常是水,它能够促进金属银的电离。其次,阳极和阴极之间需要有电位差,这是银离子移动的动力。最后,银离子需要有路径从一个电极移动到另一个电极,这通常通过电路板或其他导电材料实现。

银迁移的过程可以分为以下几个步骤:

金属银在电位差和吸附的电解质(通常是水)的作用下电离成银离子。

银离子向阳极移动,在阳极形成氧化银(Ag2O),并呈胶体状分散。

氧化银与水反应,形成阴离子向阴极移动并沉淀,最终在阴极形成树枝状的金属银。

银迁移的影响

银迁移对电子产品的影响是多方面的。首先,它可能导致电路板上的短路,因为树枝状的金属银可能会连接原本不应该相连的电路。其次,银迁移还可能导致电阻变化,影响电子设备的信号传输和功率分配。此外,银迁移还可能影响电子设备的长期稳定性,因为树枝状的金属银可能会随着时间的推移而增长,进一步加剧故障。

银迁移的预防措施

为了防止银迁移的发生,可以采取以下措施:

气密性和密封处理:通过气密性处理和密封前烘烤等措施,避免引入电解液,从而减少银迁移的可能性。

合理布线:在电路设计时,保证足够的间距,减少电势差,从而降低银迁移的风险。

表面涂层:在电路板表面涂上聚合物薄膜层,以阻断银迁移路径,防止银离子的移动。

环境影响

除了对电子产品的影响外,银迁移还可能对环境造成影响。例如,纳米银的迁移转化可能会对环境微生物产生毒性影响。因此,了解和控制银迁移现象对于确保电子产品的可靠性和环境保护都非常重要。

结论

银迁移是一种复杂的电化学现象,它对电子产品的稳定性和可靠性构成了严重威胁。通过了解银迁移的成因、影响和预防措施,我们可以采取有效的策略来减少这种现象的发生,从而提高电子产品的性能和可靠性。同时,对银迁移的环境影响的认识也有助于我们在设计和制造过程中采取更加环保的措施,保护我们的生态环境。

通过深入研究和不断改进,我们可以更好地控制银迁移现象,确保电子产品的长期稳定运行,同时也为环境保护做出贡献。随着科技的不断进步,我们有理由相信,通过不断的努力和创新,我们能够有效地解决银迁移带来的挑战,为电子产品的可靠性和环境的可持续性提供坚实的保障。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 电子产品
    +关注

    关注

    6

    文章

    1261

    浏览量

    60194
  • 电阻
    +关注

    关注

    88

    文章

    5738

    浏览量

    178578
  • 电路板
    +关注

    关注

    140

    文章

    5255

    浏览量

    106499
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    焊材导致的功率器件焊接失效的“破局指南”

    SnSb10Ni焊片或胶,中压晶闸管适配SnAg3.5锡膏,高压晶闸管需铜钎料,高功率SiC模块依赖纳米烧结,均需匹配功率、电压、温循等需求。焊材引发的失效主要有虚
    的头像 发表于 12-04 10:03 587次阅读
    焊材导致的功率器件焊接<b class='flag-5'>失效</b>的“破局指南”

    破解铜/迁移难题:纳米级离子捕捉剂在先进封装中的工程化应用

    在追求更高I/O密度和更快信号传输的驱动下,铜互连与浆印刷已成为先进封装的标准配置。然而,Cu²⁺和Ag⁺在电场下的迁移速度是Al³⁺的5-8倍,极易引发枝晶生长导致短路失效。本文聚焦这一行业痛点,系统阐述纳米级离子捕捉剂IX
    的头像 发表于 12-01 16:53 279次阅读
    破解铜/<b class='flag-5'>银</b><b class='flag-5'>迁移</b>难题:纳米级离子捕捉剂在先进封装中的工程化应用

    PCB 迁移 “终结者”:日本东亚合成 IXE 如何守护精密电路安全?

    ,银离子脱离线路形成 “导电桥”,引发短路失效。而日本东亚合成株式会社研发的 IXE 离子捕捉剂,凭借独特的离子锁定技术,成为破解这一行业痛点的核心方案,让精密电路的可靠性实现质的飞跃。 一、迁移:精密 PCB 的 “致命隐患
    的头像 发表于 11-12 16:07 278次阅读
    PCB <b class='flag-5'>银</b><b class='flag-5'>迁移</b> “终结者”:日本东亚合成 IXE 如何守护精密电路安全?

    关于NTC热敏芯片的迁移现象

    目前,市面上常用的NTC热敏芯片为电极NTC热敏芯片,其电极层所使用到的导电浆,因其性价比高成为最早被使用的导电浆料之一。导电浆其作为一种功能性导电材料被广泛应用于电子产品中,
    的头像 发表于 11-05 11:09 166次阅读
    关于NTC热敏芯片的<b class='flag-5'>银</b><b class='flag-5'>迁移</b><b class='flag-5'>现象</b>

    氮化镓芯片无压烧结膏的脱泡手段有哪些?

    压力远大于外部环境,会迅速膨胀并迁移至表面破裂。 方法: 膏体真空处理 :将装有膏的注射器放入真空箱中脱泡后再进行点胶或印刷。 基板真空处理:在丝网印刷或点胶后,立即将整个基板放入真空箱中进行短暂
    发表于 10-04 21:13

    无压烧结膏应该怎样脱泡,手段有哪些?

    方法。将待涂覆的膏(如在注射器中)或已印刷好膏的基板,放入真空腔室内,抽至高真空(通常要求达到 10⁻² Pa 甚至更高 的真空度)。在低气压下,气泡内部压力远大于外部环境,会迅速膨胀并迁移至表面
    发表于 10-04 21:11

    电子元器件为什么会失效

    电子元器件失效是指其在规定工作条件下,丧失预期功能或性能参数超出允许范围的现象失效可能发生于生命周期中的任一阶段,不仅影响设备正常运行,还可能引发系统级故障。导致失效的因素复杂多样,
    的头像 发表于 08-21 14:09 800次阅读
    电子元器件为什么会<b class='flag-5'>失效</b>

    电化学迁移(ECM):电子元件的“隐形杀手” ——失效机理、环境诱因与典型案例解析

    前言在电子设备中,有一种失效现象常被称为“慢性病”——电化学迁移(ECM)。它悄无声息地腐蚀电路,最终导致短路、漏电甚至器件烧毁。尤其在高温高湿环境下可能导致电路短路失效。本文将深入解
    的头像 发表于 08-14 15:46 2805次阅读
    电化学<b class='flag-5'>迁移</b>(ECM):电子元件的“隐形杀手” ——<b class='flag-5'>失效</b>机理、环境诱因与典型案例解析

    芯片封装失效的典型现象

    本文介绍了芯片封装失效的典型现象:金线偏移、芯片开裂、界面开裂、基板裂纹和再流焊缺陷。
    的头像 发表于 07-09 09:31 1334次阅读

    用硅胶封装、导电胶粘贴的垂直倒装芯片易出现漏电现象

    失效现象剖析这是因为,硅胶具有吸水透气的物理特性,易使导电胶受潮,水分子侵入后在含导体表面电解形成氢离子和氢氧根离子,胶中的
    的头像 发表于 06-09 22:48 768次阅读
    用硅胶封装、导电<b class='flag-5'>银</b>胶粘贴的垂直倒装芯片易出现漏电<b class='flag-5'>现象</b>

    新能源汽车焊接材料五大失效风险与应对指南——从焊点看整车可靠性

    本文从厂家视角解析新能源汽车焊接封装材料四大失效模式:机械失效(热循环与振动导致焊点疲劳)、热失效(高温下焊点软化与散热不足)、电气失效(电迁移
    的头像 发表于 06-09 10:36 1969次阅读
    新能源汽车焊接材料五大<b class='flag-5'>失效</b>风险与应对指南——从焊点看整车可靠性

    元器件失效分析有哪些方法?

    失效分析的定义与目标失效分析是对失效电子元器件进行诊断的过程。其核心目标是确定失效模式和失效机理。失效
    的头像 发表于 05-08 14:30 813次阅读
    元器件<b class='flag-5'>失效</b>分析有哪些方法?

    芯片失效分析的方法和流程

    、物理分析、材料表征等多种手段,逐步缩小问题范围,最终定位失效根源。以下是典型分析流程及关键方法详解:       前期信息收集与失效现象确认 1. 失效背景调查 收集芯片型号、应用场
    的头像 发表于 02-19 09:44 2544次阅读

    HarmonyOS Next 应用元服务开发-应用接续动态配置迁移保持迁移连续性

    保证迁移连续性,由于迁移加载时,目标端拉起的应用可能执行过自己的迁移状态设置命令(如:冷启动时目标端在onCreate中设置了INACTIVE;热启动时对端已打开了不可迁移的页面,
    发表于 12-30 10:30

    EBSD失效分析策略

    材料失效分析在材料科学和工程实践中,失效分析扮演着至关重要的角色,它致力于探究产品或构件在实际使用过程中出现的失效现象。这些现象可能表现为由
    的头像 发表于 12-24 11:29 1049次阅读
    EBSD<b class='flag-5'>失效</b>分析策略