0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

NSAT-1000测试系统与ACCRETECH探针台对接,助力晶圆芯片批量自动化测试

纳米软件(系统集成) 来源:纳米软件(系统集成) 作者:纳米软件(系统集 2024-03-25 16:07 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

矢量网络分析仪作为射频领域的重要测量仪器,常用来测试S参数、增益、损耗、阻抗、隔离度等指标。但对于大批量研发、生产测试的企业来说,手动测试或者半自动化测试程序复杂、效率低,无法满足大批量测试的需求。因此,网络分析仪全自动化测试逐渐成为客户首选的测试方式。

ATECLOUD作为一个智能自动化测试平台,从用户测试需求出发,不断迭代升级,开发出NSAT-1000测试系统,解决用户测试痛点。系统可针对射频天线滤波器放大器、衰减器等射频器件进行大批量测试,测试项目包括S参数、增益、损耗等指标。纳米软件致力于为企业的生产、研发测试提供一站式自动化测试解决方案。从仪器选型到系统开发、再到数据洞察、最终导出数据报告,帮助企业实现智能测试和数字化管理。

wKgaomYBMAiAF7BeAAB6BzkEIqE520.png

NSAT-1000测试系统

北京某芯片公司需要用矢量网络分析仪和探针台测试晶圆的S参数,由于一张晶圆上有一万左右的芯片,之前使用的半自动化测试系统效率低,测试速度慢,测试成本高,因此急需一个全自动化测试系统,提高测试效率。

在用NSAT-1000系统测试时,实现了测试系统与ACCRETECH探针台和网络分析仪之间的通讯,通过探针台获取产品状态、位置信息,配合网络分析仪完成产品测试。

首先,测试系统会读取探针台的状态,判断是否可以开始测试;

其次,在测试过程中,系统会采集网络分析仪的数据,通过系统预设的流程完成S参数自动化测试,并将测试结果回传给探针台,从而实现晶圆的批量测试,判断晶圆S参数是否达标。

最后,系统的数据洞察功能会对晶圆的S参数进行多图表类型的自动化分析,节省人工分析时间和成本。此外,系统也会自动生成数据报告,报告模板可根据需求自定义,满足用户对报告的需求。

通过NSAT-1000测试系统,矢量网络分析仪能够更加智能、高效地完成测试任务,节省用户的时间和精力。

审核编辑 黄宇

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 芯片
    +关注

    关注

    463

    文章

    54463

    浏览量

    469711
  • 测试
    +关注

    关注

    9

    文章

    6429

    浏览量

    131700
  • 自动化测试
    +关注

    关注

    0

    文章

    273

    浏览量

    27849
  • 晶圆
    +关注

    关注

    53

    文章

    5451

    浏览量

    132782
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    通用自动化测试系统:FCT、ATE、ICT、PCBA功能测试

    制造商完成对每一件产品的高效检测和精准判定。为了满足这些需求,通用的自动化测试管理系统应运而生,提供了一个全面的解决方案。系统概述我们的通用测试
    发表于 04-13 14:54

    ATE测试是什么?电源企业为什么必须上自动化测试

    在电源行业快速发展的年代,产品质量、生产效率与成本控制成为企业竞争的关键。很多电源厂家都在关注ATE 测试,但不少人仍不清楚 ATE测试是什么,也不明白自动化测试对于电源生产的重要意义
    的头像 发表于 03-24 14:37 364次阅读
    ATE<b class='flag-5'>测试</b>是什么?电源企业为什么必须上<b class='flag-5'>自动化</b><b class='flag-5'>测试</b>?

    「直驱技术」破解测试精度瓶颈:雅科贝思超精密运动平台如何实现±0.5um重复定位?

    探针设备是半导体后道测试环节中的核心装备,主要由输送
    的头像 发表于 02-27 14:24 309次阅读
    「直驱技术」破解<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b><b class='flag-5'>测试</b>精度瓶颈:雅科贝思超精密运动平台如何实现±0.5um重复定位?

    芯片CP测试与FT测试的区别,半导体测试工程师必须知道

    本文聚焦芯片CP 测试与FT 测试的核心区别,助力半导体测试工程师厘清二者差异。CP 测试是封装
    的头像 发表于 01-26 11:13 943次阅读

    PCB板ATE测试探针卡设计和生产的核心技术要求,你知道多少?

    成本。检测是指在出厂后进行封装前,通过探针测试
    发表于 12-15 15:09

    海绵冲击疲劳试验机的自动化批量测试与数据采集

    在海绵材料检测场景中,自动化批量测试与高效数据采集是提升检测效率、保障结果一致性的核心手段。海绵冲击疲劳试验机的自动化功能,能有效减少人工干预,降低操作误差,同时实现
    的头像 发表于 11-21 09:39 389次阅读
    海绵冲击疲劳试验机的<b class='flag-5'>自动化</b><b class='flag-5'>批量</b><b class='flag-5'>测试</b>与数据采集

    测试小白3分钟上手,零代码自动化测试平台,15分钟搭建自动化测试方案

    还在为不懂代码、搭建测试方案耗时久而发愁?ATECLOUD 零代码自动化测试平台,专为自动化测试量身打造,小白3 分钟就能轻松上手,15 分
    的头像 发表于 09-22 17:52 1057次阅读
    <b class='flag-5'>测试</b>小白3分钟上手,零代码<b class='flag-5'>自动化</b><b class='flag-5'>测试</b>平台,15分钟搭建<b class='flag-5'>自动化</b><b class='flag-5'>测试</b>方案

    同惠LCR测试仪如何实现高效批量自动化测量

    在电子元器件生产与品质检测中,同惠LCR测试仪凭借高精度与稳定性备受青睐。为提升批量测试效率,降低人力成本,通过软硬件协同优化可实现高效自动化测量,以下是具体方法:   一、硬件准备与
    的头像 发表于 09-17 16:26 685次阅读
    同惠LCR<b class='flag-5'>测试</b>仪如何实现高效<b class='flag-5'>批量</b><b class='flag-5'>自动化</b>测量

    TOKYO SEIMITSU UF 系列二手探针 UF2000|现场验机测试服务

    UF2000 探针,依托品牌的技术积淀,通过专业的现场验机测试服务,为客户提供设备性能的全面评估,助力客户在成本与可靠性之间找到平衡,满足多样
    的头像 发表于 09-13 11:05 1652次阅读

    季丰电子嘉善测试厂如何保障芯片质量

    在半导体产业飞速发展的今天,芯片质量的把控至关重要。浙江季丰电子科技有限公司嘉善测试厂(以下简称嘉善
    的头像 发表于 09-05 11:15 1532次阅读

    电源模块的短路保护如何通过自动化测试软件完成测试

    搭建 自动化测试软件运行于特定测试系统架构之上。以国产测试平台ATECLOUD电源模块进行重复
    的头像 发表于 09-03 19:10 1047次阅读
    电源模块的短路保护如何通过<b class='flag-5'>自动化</b><b class='flag-5'>测试</b>软件完成<b class='flag-5'>测试</b>

    射频芯片该如何测试?矢网+探针实现自动化测试

    要求也逐渐提升,如何准确快速的完成射频芯片批量测试则成了众多射频芯片企业面临的难题。   射频
    的头像 发表于 07-24 11:24 844次阅读
    射频<b class='flag-5'>芯片</b>该如何<b class='flag-5'>测试</b>?矢网+<b class='flag-5'>探针</b><b class='flag-5'>台</b>实现<b class='flag-5'>自动化</b><b class='flag-5'>测试</b>

    射频芯片自动化测试解决方案案例分享

    背景介绍: 北京某公司是一家专注于高性能SAW滤波器和双工器等系列射频前端芯片的研发设计、生产和销售的企业。企业在测试芯片产品时,由于
    的头像 发表于 07-23 15:55 839次阅读
    射频<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>自动化</b><b class='flag-5'>测试</b>解决方案案例分享

    现代测试:飞针技术如何降低测试成本与时间

    半导体器件向更小、更强大且多功能的方向快速演进,对测试流程提出了前所未有的要求。随着先进架构和新材料重新定义芯片布局与功能,传统
    的头像 发表于 07-17 17:36 1218次阅读
    现代<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圆</b><b class='flag-5'>测试</b>:飞针技术如何降低<b class='flag-5'>测试</b>成本与时间

    UTP系统通过ModBus协议对温度传感器的自动化测试介绍

    一、UTP系统简介 宏控UTP协同自动化测试系统(简称UTP测试系统)是一款通用的
    的头像 发表于 06-07 15:12 991次阅读
    UTP<b class='flag-5'>系统</b>通过ModBus协议对温度传感器的<b class='flag-5'>自动化</b><b class='flag-5'>测试</b>介绍