ZEISS蔡司工业CT机METROTOM 1500原理

ZEISS蔡司工业CT机METROTOM 1500的基本原理是当经过准直且能量I0的射线束穿过被检物时，根据各个透射方向上各体积元的衰减系数不同，探测器接收到的透射能量I也不同。

当X射线穿过被检测的样品时，不同物质在透射方向上衰减系数不同，探测器接收到的透射能量也不同。通过一定的图像重建算法，可以获得被检工件截面一薄层无影像重叠的断层扫描图像。重复这一过程，又可获得新的断层图像。当测得足够多的二维断层图像，就可以重建出三维图像。

ZEISS蔡司工业CT机METROTOM 1500

按照一定的图像重建算法，即可获得被检工件截面一薄层无影像重叠的断层扫描图像，重复上述过程又可获得一个新的断层图像。当测得足够多的二维断层图像就可重建出三维图像。当单能射线束穿过非均匀物质后，其衰减遵从比尔定律。

一幅M×N个像素组成的图像，必须有M×N个独立的方程才能解出衰减系数矩阵内每一点的μ值。当射线从各个方向透射被检物体，通过扫描探测器可得到MXN个射线计数和值，按照一定的图像重建算法，即可重建出MXN个μ值组成的二维ZEISS蔡司工业CT机METROTOM 1500灰度图像。