SuperViewW1白光干涉仪分析步骤介绍:
1.将样品放置在载物台镜头下方;
2.检查电机连接和环境噪声,确认仪器状态;
3.使用操纵杆调节Z轴,找到样品表面干涉条纹;
4.微调XY轴,找到待测区域,并重新找到干涉条纹;
5.完成扫描设置和命名等操作;
6.点击开始测量(进入3D视图窗口旋转调整观察一会);
7.台阶样品分析第一步:校平;
8.进入数据处理界面,点击“校平”图标,和平面样品不同,台阶样品需手动选取基准区域,选好基准区域后,先“全部排除”再“包括”;
9.若样品表面有好几处区域均为平面且高度一致,可多选择几个区域作为基准面进行校平;
10.台阶高度测量:线台阶高度测量
11.进入分析工具界面,点击“台阶高度”图标,即可直接获取自动检测状态下的面台阶高度相关数据;
12.在右侧点击“手动检测”,根据需求选择合适的形状作为平面1和平面2的测量区域,数据栏可直接读取两个区域的面台阶高度数值;
13.台阶高度测量:线台阶高度测量
14.进入数据处理界面,点击“提取剖面”图标,使用合适方向的剖面线,提取目标位置的剖面轮廓曲线;
15.进入分析工具界面,点击“台阶高度”图标,由于所测为中间凹槽到两侧平面高度,因此点击右侧工具栏,测量条对数选择“2”,将红色基准线对放置到凹槽平面中间,两对测量线对分别放置在两侧平面,即可在数据缆读取台阶高度数据。
SuperViewW1
白光干涉仪
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