一、开通延时。

t1时刻Vge上升到10%,t2时刻Ic上升到10%,开通延时td(on)=t2-t1。
二、关断延时。

t1时刻Vge下降到90%,t2时刻Ic下降到90%,关断延时td(off)=t2-t1。
三、上升时间。

t1时刻Ic上升到10%,t2时刻Ic上升到90%(不算过冲部分),上升时间tr=t2-t1。
四、下降时间。

t1时刻Ic下降到90%,t2时刻Ic下降到10%,下降时间tr=t2-t1。
五、Vce饱和电压。

IGBT导通时,CE两端呈现低阻抗,所以压降也很小。
六、Vces。

IGBT截止时,CE两端的最大击穿电压。
七、开通耗损和关断耗损。

IGBT开通时Vce减少,Ic增大,虚线之间,Eon=Vce、Ic、t所围成的面积;
IGBT关断时Vce增大,Ic减少,虚线之间,Eoff=Vce、Ic、t所围成的面积。
八、输入电容。

输出短路(CE短接),输入电容Cies=CGC+CGE。

九、输出电容。

输入短路(GE短接),输出电容Coes=CGC+CEC。
十、米勒电容。

跨接在G、C之间的电容,叫米勒电容Cres,也叫反向传输电容。

十一、门极电荷。

也称栅极电荷,用于衡量驱动门极,所需要能量。
十二、SOA。
安全工作区。分为FBSOA(正偏安全工作区)、RBSOA(反偏安全工作区)、SCSOA(短路安全工作区)。
FBSOA,与工艺相关,得到电压-电流密度曲线,如下图所示。

RBSOA,与Vce电压、Ic电流相关,得到电压-电流曲线,曲线所包围的面积为安全工作区,如下图所示。

SCSOA,与门极开通时间、Ic电流相关。逐步增大门极开通时间,再测Ic电流,得到时间-电流曲线,如下图所示。

十三、结温。
IGBT内部的温度。
十四、壳温。
IGBT外壳的温度。
十五、短路电流。

10us内瞬时流过IGBT,CE两端的最大电流。
十六、集电极重复峰值电流。

可以重复地让IGBT,CE两端在短时间内导通,所能承受的最大电流。
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