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技术爆炸急需测试技术的进步

hAR7_OPPOOIA 来源:广州虹科电子科技有限公 作者:广州虹科电子科技 2021-08-10 10:55 次阅读
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技术爆炸急需测试技术的进步

我们生活在一个技术爆炸发展的年代,每天都会有新的app在汽车、PC、家电中诞生,工业领域创新和智能化的速度是以前所无法想象的。每年都会有更加智能和方便的产品和系统问世,这些新兴产品不仅技术更加先进,深得人们喜爱。消费者购买新产品推动了经济的发展,而技术正是推动经济发展的无形的手。

新兴技术的发展离不开测试技术的进步,当今的测试技术及其实施策略也必须与时俱进。当今的测试要求包括诸如增加传感器仿真、故障插入、更高数据速率和更高精度等。所有这些因素都必须在同时提高测试吞吐量和降低成本的同时实现。这些测试策略对电子行业来说一直是一个艰巨的挑战,而将这些先进的测试方法应用到当今日新月异的技术上似乎更是难上加难。

幸运的是,测试和测量行业一直在开发新的解决方案来满足这些需求。在许多情况下, PXI(用于仪器的 PCI 扩展)模块化仪器架构能为你提供合适的解决方案。在过去的 17 年中,PXI 系统联盟 (PXISA) 的60 多个成员不断创新并开发可以满足最新技术的模块。它已证明自己是一个非常灵活的平台。PXI 正在开发独特的测试和测量解决方案,这些解决方案在其他测试平台中不可用。

PXI专为测试助力

在丰富的实际应用与产品中,PXI的成功不是没有原因的。

1.丰富的软件选择—众多编程语言的选择,包括实时操作系统,以及针对 HILS(硬件在环仿真)等应用程序的专注软件,使实施 PXI 变得更加容易。

2.良好的连接性—即便产品硬件再好,您也必须将其连接到 UUT(被测单元)进行测试来加以证明。幸运的是,有很多供应商已经构建了与 PXI 配合良好的大规模互连。

3.高性能的测试方案—1997年PXI规范发布时,3U的小尺寸被视为不利因素。人们认为,小尺寸,尤其是与VXI相比时,PXI可能会限制可以实现的带宽和密度。不过事实胜于雄辩,单个矩阵中4,000到8,000个继电器的开关密度、1,000伏隔离和高达26 GHz及更高频率的射频仪器有效地回击了质疑者的声音。

4.高兼容性的测试平台—在许多情况下,混合测试系统是常态。这可能是出于以下原因:测试和测量设备的可用性、测试预算强制硬件重复使用以及部分现有测试系统的改造/升级。PXI已被证明在这些环境中运行良好。

5.优秀的系统集成度—许多测试行业已经将 PXI 平台作为许多应用的解决方案。他们使用PXI用于测试是企业迈向成功的重要一步。

广州虹科电子科技有限公司携手知名PXI系统生产商Pickering Interfaces为您提供最专业的PXI测试平台的解决方案。

虹科PXI成功案例

1.汽车ECU故障插入—PXI通过和大量硬件的结合,可以实现专有系统的最灵活和最具成本效益的故障注入方案。PXI 的模块化和开放性使集成商能够设计具有大量发展潜力的高度可扩展的解决方案。

2.卫星有效负载测试—很多专业的领域不拘泥于传统工具和策略。这些领域往往更注重在预算内测试方案的灵活性。PXI系统同样能为其提供专属的解决方案。有效的PXI解决方案通常符合客户的要求,而不是客户的要求必须符合解决方案。

3.柴油发动机温度仿真—发动机温度的仿真,PXI中已经为测试提供了各种测量和激励模块,并且支持RTOS软件,因此 PXI 被视为新产品设计平台的自然选择。开发的解决方案是一个 3U PXI 模块(型号 40-262),它支持 6 个 RTD 模拟通道(在一个插槽中)或 18 个通道(在两个插槽中)。

从上面列出的应用中可以看出,PXI 产品可以模拟各种应用领域所需的信号,包括消费、运输和航空航天等。PXI 可以实现使系统在测试台上更易于管理,所需的参数,准确度足以满足客户需求,并支持 RTOS 等专业环境。

责任编辑:haq

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原文标题:虹科PXI解决方案将测试测量难题化繁为简

文章出处:【微信号:OPPOOIA,微信公众号:OPPOstory】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

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