0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

关于硅光电应用下的on-chip ESD的性能分析和介绍

弘模半导体 来源:djl 2019-09-09 09:27 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

2006年前英特尔高级副总裁帕特·基尔辛格说:“今天,光学是一个非常小的细分技术,明天,它将成为我们制造每一个芯片的主流。” 事实上,光互连对于内部和数据中心之间的高速通信是非常重要的。

关于硅光电应用下的on-chip ESD的性能分析和介绍

最近公司接触的项目中,因为所有其他功都能高度集成在一个CMOS芯片上,外部只需要激光二极管。为了让CMOS高速通信芯片和激光二极管之间实现高速通信,片上ESD(静电保护)保护的寄生电容必须尽可能的小。在过去5年当中,公司在不同的光互联项目中,一直使用公司自创的TAKE CHARGE 工具,得到了很好的结果。当通用的或者半导体厂的在片ESD不符合您的需求时,采用公司的TAKE CHARGE是非常理智的选择。因为,TAKE CHARGE在数千个IC商业应用芯片上已经证明,它能提供一个快速,可靠的方式来平衡ESD保护与成本之间的关系,同时发挥最大的IC性能。

设计无约束

保护接口与最敏感的节点,如GATE,核心器件等

高速电路的低寄生电容

200fF,100fF甚至低于15fF

缩短几个月量产和上市的时间

现有低寄生电容可用的on-chip ESD 解决方案ESD

TSMC: 180nm down to 28nm

UMC: 130nm, 65nm, 28nm

GF: 65nm

SMIC: 40nm

Several other foundries, …

针对其他技术节点或者半导体厂的私人定制EOS / ESD解决方案,可在几天内交货

大幅降低IC成本

已经在硅产品上被证明的ESD解决方案有助于降低IC开发成本和时

兼容所有的标准工艺流程

已经和欧洲,美国的大客户在光互连项目方面取得很多合作和经验

公司所有合作的客户:

如果你在硅光电这块或者高速电路这块有涉足,那么公司的on-chip ESD 解决方案,会给贵公司产品带来更多的附加价值。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 半导体
    +关注

    关注

    336

    文章

    30004

    浏览量

    258494
  • 硅光电
    +关注

    关注

    0

    文章

    5

    浏览量

    7550
  • 高速电路
    +关注

    关注

    8

    文章

    165

    浏览量

    24806
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    探索ESD7424:超低电容ESD保护二极管的卓越性能

    在电子设备的设计中,静电放电(ESD)和瞬态电压事件是影响电压敏感组件稳定性的重要因素。ON Semiconductor的ESD7424超低电容ESD保护二极管,为解决这一问题提供了出色的解决方案。今天,我们就来深入了解一
    的头像 发表于 12-02 09:37 181次阅读
    探索<b class='flag-5'>ESD</b>7424:超低电容<b class='flag-5'>ESD</b>保护二极管的卓越<b class='flag-5'>性能</b>

    ESD测试的详细解释

    ESD测试,即静电放电测试(Electrostatic Discharge Testing),是一种用于评估电子设备或组件在静电放电环境性能稳定性和可靠性的测试方法。以下是关于
    发表于 11-26 07:37

    带宽7.2Tb/s!海思光电推出HI-ONE光引擎

    电子发烧友网综合报道 在最近,海思光电发布了其全新的HI-ONE光引擎,这是基于其III-V光芯片、基半导体芯片技术和先进光电封装平台能力,面向AI时代的高密度
    的头像 发表于 10-27 06:50 4981次阅读

    判定高电阻率的导电类型:基于氢氟酸HF处理结合扩展电阻SRP分析的高效无损方法

    高电阻率因其低损耗和高性能特点,在电信系统中的射频(RF)器件应用中备受关注。尤其是作为绝缘(SOI)技术的理想基板,高电阻率的需求日益增加。然而,确定高电阻率
    的头像 发表于 09-29 13:04 595次阅读
    判定高电阻率<b class='flag-5'>硅</b>的导电类型:基于氢氟酸HF处理结合扩展电阻SRP<b class='flag-5'>分析</b>的高效无损方法

    传感器走向“AI on-chip”与低功耗集成化

    、应用落地、行业挑战及未来趋势四方面综合分析: 一、AI on-chip的技术驱动与创新 存算一体架构突破瓶颈 冯·诺伊曼瓶颈的解决 :传统架构中数据在处理器与存储器间频繁搬运导致高功耗和延迟。存内计算(In-Memory Computing)通过直接在存储器中嵌入计算单
    的头像 发表于 07-16 20:41 2316次阅读

    聚智姑苏,共筑光电子产业新篇 — “光电子技术及应用”暑期学校圆满落幕!

    盛夏姑苏,群贤荟萃。2025年7月7日至10日,由度亘核芯光电技术(苏州)股份有限公司主办,西交利物浦大学协办,爱杰光电科技有限公司承办的“光电子技术及应用”暑期学校,在苏州西交利
    的头像 发表于 07-11 17:01 919次阅读
    聚智姑苏,共筑<b class='flag-5'>硅</b>基<b class='flag-5'>光电</b>子产业新篇 — “<b class='flag-5'>硅</b>基<b class='flag-5'>光电</b>子技术及应用”暑期学校圆满落幕!

    在ModusToolbox2.3,基于BTSDK3.1开发cyw20719b2程序,是否可以像wiced studio一样设置?

    请问在ModusToolbox2.3,基于BTSDK3.1开发cyw20719b2程序,是否可以像wiced studio一样设置: APP_XIP=1 将程序中的函数从on-chip flash运行?如果可以,应该怎么设置?
    发表于 07-08 06:52

    ESD技术文档:芯片级ESD与系统级ESD测试标准介绍和差异分析

    ESD技术文档:芯片级ESD与系统级ESD测试标准介绍和差异分析
    的头像 发表于 05-15 14:25 4036次阅读
    <b class='flag-5'>ESD</b>技术文档:芯片级<b class='flag-5'>ESD</b>与系统级<b class='flag-5'>ESD</b>测试标准<b class='flag-5'>介绍</b>和差异<b class='flag-5'>分析</b>

    概伦电子芯片级HBM静电防护分析平台ESDi介绍

    ESDi平台是一款先进的芯片级ESD(静电防护)验证平台,为设计流程的各个阶段提供定制化解决方案。该平台包括原理图级HBM(人体模型)检查工具ESDi-SC,芯片级HBM检查工具ESD
    的头像 发表于 04-22 10:25 917次阅读
    概伦电子芯片级HBM静电防护<b class='flag-5'>分析</b>平台<b class='flag-5'>ESD</b>i<b class='flag-5'>介绍</b>

    射频天线ESD防护多方案设计

    EMC小哥针对射频天线ESD防护方案从两个角度分析:1、根据频率高低不同,在保证信号完整性的情况,选择小于此结电容的ESD二极管。2、根据信号工作峰值电压不同,选择对应Vrwm(反向
    的头像 发表于 04-03 09:02 708次阅读
    射频天线<b class='flag-5'>ESD</b>防护多方案设计

    郭明錤展望光子技术前景:奇景光电或迎强劲增长

    近日,天风证券知名分析师郭明錤发布了最新的投资简报,其中深入探讨了光子技术的未来发展趋势,并特别提到了奇景光电(Himax)在该领域的潜在机遇。 郭明錤认为,奇景光电有望在台积电CO
    的头像 发表于 01-24 13:50 984次阅读

    集成电路电磁兼容性及应对措施相关分析(三)集成电路ESD 测试与分析

    测量对于确定IC的EMC特性是必要的。只有准确了解IC的EMC特性,才能在生产前采取有效的预防措施,提高产品的抗ESD能力和EMC性能,避免后期因ESD干扰导致的产品故障和成本增加等问题集成电路
    的头像 发表于 12-23 09:53 1363次阅读
    集成电路电磁兼容性及应对措施相关<b class='flag-5'>分析</b>(三)集成电路<b class='flag-5'>ESD</b> 测试与<b class='flag-5'>分析</b>

    集成电路电磁兼容性及应对措施相关分析(三)—集成电路ESD 测试与分析

    测量对于确定 IC 的 EMC 特性是必要的。只有准确了解 IC 的 EMC 特性,才能在生产前采取有效的预防措施,提高产品的抗 ESD 能力和 EMC 性能,避免后期因 ESD 干扰导致的产品故障
    的头像 发表于 12-20 09:14 1112次阅读
    集成电路电磁兼容性及应对措施相关<b class='flag-5'>分析</b>(三)—集成电路<b class='flag-5'>ESD</b> 测试与<b class='flag-5'>分析</b>

    集成电路电磁兼容性及应对措施相关分析(一) 电子系统性能要求与ESD问题

    此专题将从三个方面来分享:一、电子系统性能要求与ESD问题二、集成电路ESD问题应对措施三、集成电路ESD测试与分析工业、消费及汽车电子模块
    的头像 发表于 12-19 18:51 1063次阅读
    集成电路电磁兼容性及应对措施相关<b class='flag-5'>分析</b>(一) 电子系统<b class='flag-5'>性能</b>要求与<b class='flag-5'>ESD</b>问题

    集成电路电磁兼容性及应对措施相关分析(一) — 电子系统性能要求与ESD问题

    此专题将从三个方面来分享: 一、电子系统性能要求与ESD问题 二、集成电路ESD问题应对措施 三、集成电路ESD 测试与分析 工业、消费及汽
    的头像 发表于 12-17 09:24 808次阅读
    集成电路电磁兼容性及应对措施相关<b class='flag-5'>分析</b>(一) — 电子系统<b class='flag-5'>性能</b>要求与<b class='flag-5'>ESD</b>问题