自动测试设备 (ATE)对PLL（锁相环）进行测试时，我们首先要明白PLL在系统级芯片（SoC）中的重要性。
2023-11-01 15:43:10
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当SoC上有超过80%的芯片面积被各种形式的存储器占用之时，存储器的DFT测试已经变得非常重要。
2023-12-09 09:56:551205 
片上芯片SoC挑战传统测试方案,SoC生产技术的成功，依靠的是厂商以最低的生产成本实现大量的生产能力
2012-01-28 17:14:431834 
DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本
2021-07-23 07:28:32
。但是对质量没有把握的芯片能够交付使用吗?这些问题的答案对产品的成功非常重要。 为了确保一定的测试覆盖率以及尽可能缩短产品测试时间， 图3：DFT分析、BIST扫描和边界扫描应该与新的SoC集成电路
2011-12-15 09:53:14
DFT是什么？DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Test)， 可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始
2012-01-11 14:33:22
DFT是什么？DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Test)， 可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始
2012-01-11 14:28:06
量也大为减小.DFT与FFT相比还具有变换点数或采样率选择更灵活、实时性更好、更容易控制溢出和动态范围、运算编程简单、可方便地在非DSP芯片中编程实现等优点.因此在实际应用中可以从具体条件出发
2014-05-22 20:43:36
下面以我所做过的一款SOC芯片来说明SOC芯片集成一个DCDC, 该DCDC具有动态电压调节，可以通过配置寄存器调节输出电压大小，另外DCDC输出的电压可能有偏差，通过TRIM值可以调节精度。SOC
2021-11-15 09:05:39
SoC测试技术传统的测试方法和流程面临的挑战是什么？SoC测试技术一体化测试流程是怎样的？基于光子探测的SoC测试技术是什么？有什么目的？
2021-04-15 06:16:53
全面测试。SoC 设备的测试已经成为一个越来越具有挑战性的任务，因为这些设备已经变得非常复杂。SoC 芯片是逐块构造的，因此当它也是逐块进行测试时，测试是有效的。设计者可以安装一个专门的，可配
2022-04-01 11:18:18
请问为什么SoC的发展能够将测试与测量设备带入芯片领域？
2021-04-15 06:02:34
SoC，系统级芯片，片上系统，是一个有专用目标的集成电路，其中包含完整系统并有嵌入软件的全部内容。同时它又是一种技术，用以实现从确定系统功能开始，到软/硬件划分，并完成设计的整个过程。从狭义角度讲
2016-05-24 19:18:54
dft可测试性设计，前言可测试性设计方法之一：扫描设计方法可测试性设计方法之二：标准IEEE测试访问方法可测试性设计方法之三：逻辑内建自测试可测试性设计方法之四：通过MBIST测试寄存器总结...
2021-07-22 09:10:42
soc芯片即System-on-a-Chip，简单解释就是系统级芯片。它是一个产品,是一个有专用目标的集成电路,其中包含完整系统并有嵌入软件的全部内容。同时它又是一种技术,用以实现从确定系统功能
2022-01-25 07:42:31
参考文件：一文了解BLDC与PMSM的区别 BLDC和PMSM电机区别 STM32 FOC BLDC与PMSM的区别PS：总结语句用红色标出，看红色字体即可。现代电机与控制
2021-08-30 08:38:10
“本文大部分内容来自LVGL官方文档，手翻版，如有错误欢迎指正。”系列文章目录一、LVGL系列（一）一文了解LVGL的学习路线轻松了解LVGL的全部二、LVGL系列（二）之一 LVGL必读介绍
2021-12-07 12:55:03
一文了解透传云基础知识讲透传云，我们先了解它的定义，首先了解下****透传透传： 透明传输。即在传输过程中，不管所传输的内容、数据协议形式，不对数据做任何处理，只是把需要传输的内容数据传输到目的。透
2023-02-25 10:32:23
一文带你了解步进电机的相关知识：相、线、极性和步进方式2017-09-07 16:45这里不说步进电机的 “细分” 实验，只说一下有关步进电机的基础概念以及步进电机的三种工作方式——单拍、双拍、单双
2021-07-08 06:48:29
导读：UPS是系统集成项目中常用到的设备，也是机房必备的设备。本文简单介绍了UPS的种类、功能、原理，品质选择与配置选择方式，基础维护等相关的内容。一文搞懂UPS本文主要内容：UPS种类、功能
2021-09-15 07:49:53
控制原因，除了纯粹的测试数据外，收集诊断信息也是一种良好的汽车行业实践。设计师和技术专家必须从故障设备中得到准确的诊断结果，以便通过在源头上识别和纠正相关问题来得出正确的维修策略结论，对错误行为作出反应
2022-09-07 15:08:41
有关运放全功率带宽的问题，全功率带宽应该怎么测试？ADA4857和AD8479两款运放全功率带宽的测试条件不一样，一个输出电压峰峰值为2V，另一个输出电压峰峰值为20V，应该如何确定这个值？
2023-11-21 08:21:30
全基因组CNV分析的策略是什么？
2021-10-27 06:43:48
损坏芯片。当然还有很多很多手段，不一而足，未来专栏讲解。测试类别与测试手段关系图总结与展望芯片测试绝不是一个简单的鸡蛋里挑石头，不仅仅是“挑剔”“严苛”就可以，还需要全流程的控制与参与。从芯片设计开始
2021-01-29 16:13:22
判断题：DRAM上电时存储单元的内容是全0，而Flash上电时存储单元的内容是全1
2017-08-23 09:29:31
TD-HSDPA准入策略的外场测试的目的是什么？TD-HSDPA准入策略的外场测试有哪些步骤？TD-HSDPA准入策略的外场测试的结论和部署建议是什么？
2021-05-26 06:49:15
， RISC-V操作系统，YoC基础软件平台，软件站,嵌入式操作系统一基础介绍YoC (Yun on Chip)基础软件平台，以AliOS Things为基础，为芯片开发者提供统一的底层抽象CSI接口，同时也为业务
2021-09-01 15:05:44
基于扫描的DFT方法扫描设计的基本原理是什么？扫描设计测试的实现过程是怎样的？基于扫描的DFT对芯片测试的影响有哪些？
2021-05-06 09:56:36
你好。我需要帮助和想法如何使用ML505测试我的AES全定制芯片。我想用它来给我的芯片提供测试向量，clk，复位信号，然后在LCD中显示数据输出。我想用VHDL来设计这个测试电路。谢谢
2019-08-29 10:24:35
如何使用迪文串口屏与stm32做一个通讯测试？
2022-02-18 07:57:46
SoC芯片结构及物理实现流程介绍SoC芯片时序约束设计的关键在于功耗管理控制模块的时序约束时钟树设计的内容有哪些？
2021-04-13 06:45:17
正在学习Real-Time DSP和图像处理的内容，遇到一个问题，如何能在Labview中实现二维DFT？我知道对于一个N*N的矩阵，进行二维DFT时，实际上是先对该矩阵的每个列向量进行DFT运算
2012-06-27 05:23:25
提高DFT设计测试覆盖率的有效方法是什么
2021-05-07 06:37:41
就是此类辅助性设计之一。本期的公众号文章就来帮助大家了解Scan技术的具体内容。在深入了解scan技术之前，我们先来比较下分别针对组合电路和时序电路的测试过程。很显然，在芯片制造出来后，我们只能通过其
2016-06-14 14:20:20
急招DFT工程师，职位JD如下，有兴趣简历请投递1736253011@qq.comDFT工程师Responsibilities: 1. Participate in SoC level
2017-04-14 14:11:16
的到底是芯片，我们可以怎么把它分类一下？它大体上有哪些？第二部分，我会给大家讲一下芯片或者叫硬件，它和软件之间我们怎样构成一个系统？第三部分，数字SOC芯片一个全流程概述，第四部分，我们会从它的需求，也就
2020-12-07 17:39:10
请问一下，如何利用AMSVF来进行混合信号SoC的全芯片验证？
2021-05-06 07:56:08
汽车电子的测试挑战和策略是什么
2021-05-12 06:55:18
，较强的沟通能力,8、了解嵌入式软件设计，能够使用汇编语言和C语言。资深DFT技术专家 岗位职责描述1.参与芯片的方案设计，主要负责DFM，DFT等与制造和测试相关工作。2. 负责芯片量产测试程序开发
2013-02-25 17:20:47
现代PCB测试的策略 随着自动测试设备成为电子装配过程整体的一部分，DFT必须不仅仅包括传统的硬件使用问题，而且也包括测试设备诊断能力的知识。 为测试着想的设计(DFT, design
2018-08-23 10:15:10
，分别为 SoC(System On Chip)以及 SiP(System In Packet)。但要将不同芯片整合在一颗晶片中，首先就要了解不同芯片的功能及核心技术，芯片解密或将在SoC与SiP中发
2017-06-28 15:38:06
蓝牙SOC芯片有哪个坛友对乐鑫的蓝牙SOC芯片熟悉的？封装最好是QFN24的不能比这个封装大。需要蓝牙5.0+MCU集成了，蓝牙有内置巴伦电路，一根线拉出来就可以，不需要用被动器件调匹配电路！至少有两个ADC口，一个IIC，一个UART，需要低功耗推荐下，只想用国产
2021-09-09 17:25:33
netlist功能一致，实现了特定的设计功能。 需要注意的是DFT的方法并不能百分百检测出功能正确的芯片(因为没有覆盖百分百的电路结构)，我们需要通过叠加板(board)级系统测试等方法来达到接近
2016-05-25 15:32:58
DFT是什么原理？
2021-06-17 08:54:06
`其中的分辨率f△代进去以后DFT表达式就变成了x[n]exp(-j2pi*n*k*fs/N),和DSP课本上的DFT公式不一样啊，为什么和fs有关呢？`
2013-05-30 01:02:42
（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试
2011-12-15 09:32:30
以复用为基础，通过测试访问机制（TAM, Test Access Mechanism）实现对深嵌在SOC（System On Chip）内部的IP 核（Intellectual Property, 知识产权模块）的测试，是解决SOC 测试的根本方法。本文将
2009-08-27 14:39:54
8 随着集成电路设计复杂度的提高和产品上市时间压力的增大，基于IP 核复用的SoC 设计已成为一种重要的设计方法。在SoC 中集成的IP 核越来越多时，IP 核的互连策略和方法就成
2009-11-28 14:40:468 本文简单描述了 SOC 芯片测试技术的复杂性，模数转换器(ADC)是SOC 芯片中的重要模块，随着器件时钟频率的不断提高，高效、准确地测试ADC 的动态参数和静态参数是当今SOC 芯
2009-12-23 15:50:2113 随着自动测试设备成为电子装配过程整体的一部分，DFT必须不仅
2006-04-16 22:05:43283 DFT:数字电路(fpga/asic)设计入门之可测试设计与可测性分析,离散傅里叶变换,(DFT)Direct Fouriet Transformer
可测试性技术（Design For Testability-
2010-06-07 11:00:4829875 本文通过对一种控制芯片的测试，证明通过采用插入扫描链和自动测试向量生成(ATPG)技术，可有效地简化电路的测试，提高芯片的测试覆盖率，大大减少测试向量的数量，缩
2010-09-02 10:22:522024 
什么是soc芯片
SoC（System on Chip）。SoC是在一个芯片上由于广泛使用预定制模块IP而得以快速开发的集成电路。
2010-09-10 22:50:5145585 
ASIC设计的平均门数不断增加，这迫使设计团队将20%到50%的开发工作花费在与测试相关的问题上，以达到良好的测试覆盖率。尽管遵循可测试设计(DFT)规则被认为是好做法，但对嵌入式R
2011-05-28 11:56:591357 
DFT在数字信号处理中有很重要的作用，如频谱分析、FIR DF的实现、线性卷积等。一个重要的原因是DFT有高效算法。 为了了解高效算法的重要以及实现高效算法的思路，先介绍DFT的运算特
2011-09-07 23:59:5557 首先给大家提供DFT和FFT的运算量的教程，内容有直接用DFT计算运算量与用FFT计算的运算量比较和多种DFT算法(时间抽取算法DIT算法，频率抽取算法DIF算法等.
2011-09-08 00:01:4871 现今流行的可测试性设计(DFT：Design For Testability)为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。
2012-04-20 09:39:056249 
可测试设计(DFT)是适应集成电路的发展要求所出现的一种技术，主要任务是对电路的结构进行调整，提高电路的可测性，即可控制性和可观察性。
2012-04-27 11:11:593154 
本内容介绍了DFT可测试性设计的相关知识，并列举了3中常见的可测性技术供大家学习
2012-05-30 16:42:277082 本节内容主要是为了让用户快速了解服务器测试策略与方法，能够用于选型测试中。在此仅仅以最重要的性能、内存缓存性能、数据库网络应用辅以基本对比测试来考察不同服务器间的
2012-06-14 17:34:411128 本专题为你简述片上系统SoC相关知识及设计测试。包括SoC定义，SoC设计流程，SoC设计的关键技术，SoC设计范例，SoC设计测试及验证方法，最新SoC芯片解决方案。
2012-10-12 17:57:20
电池SOC估算策略研究，又需要的下来看看。
2017-01-13 13:26:0311 内容中心网络的分层缓存策略研究_夏磊
2017-01-03 18:00:370 随着芯片规模的增大，低功耗不仅是在功能与性能方面对设计者的挑战越来越大，同时对于测试而言，随着SCAN CELL的增多，在SCAN测试时，芯片的功耗也会增大。功耗越大，则芯片的温度升高，导致芯片内部
2017-11-11 16:20:384 可测试性设计 （DFT） 在市场上所有的电子设计自动化 （EDA） 工具中是最不被重视的，纵然在设计阶段提高芯片的可测试性将会大幅缩减高昂的测试成本，也是如此。最近的分析数据表明，在制造完成后测试
2017-11-28 11:28:380 通过此视频可快速浏览 PADS DFT 审核的一些主要功能、优点和易用性。在设计流程的早期使用 PADS DFT 审核可大幅降低 PCB 的批量投产时间，确保 100% 的测试点覆盖和制造前所有网络的可测试性。
2019-05-21 08:06:002927 PADS 可测试性设计 (DFT) 审核可以缩短上市时间。了解如何尽早在设计流程中利用 PCB 测试点和 DFT 审核优化设计。
2019-05-14 06:26:003018 
DFT 可以降低通过问题器件的风险，如果最终在实际应用中才发现器件有缺陷，所产生的成本将远远高于在制造阶段发现的成本。它还能避免剔除无缺陷器件，从而提高良率。插入 DFT 亦能缩短与测试开发相关的时间，并减少测试装配好的芯片所需的时间。
2019-09-16 14:31:511648 
。可测性设计（DFT）给整个测试领域开拓了一条切实可行的途径，目前国际上大中型IC设计公司基本上都采用了可测性设计的设计流程，DFT已经成为芯片设计的关键环节。
2020-07-06 11:38:479188 
随着ASIC电路结构和功能的日趋复杂，与其相关的测试问题也日益突出。在芯片测试方法和测试向量生成的研究过程中，如何降低芯片的测试成本已经成为非常重要的问题。DFT（可测性设计）通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测性的逻辑，从而使芯片变得容易测试，大大降低了芯片的测试成本。
2020-08-18 14:57:132880 
用元素和测试点补充您的操作设计以促进电路板的功能测试被称为可测试性（ DFT ）设计。 DFT 与制造设计（ DFM ）不应混淆，尽管两者都是基于 CM 设备和过程能力的设计人员活动。 DFM
2020-10-12 20:42:173771 本文档的主要内容详细介绍的是Memory芯片的测试资料详细说明包括了：Memory芯片的重要性，Memory类型和结构特点， Memory失效机制， Memory测试标识缩写， Memory故障模型
2020-11-30 08:00:000 ，将其作为缓存替换的参考因子进行缓存替换决策，以提高重要内容的命中率和可用性。在 ndnsim仿真平台上的测试结果表明，相比LRU和FIFO策略，PF℃策略在不影响全局命中率和响应时延的情况下，可以明显提高重要内容的缓存占比与可用性。
2021-03-24 14:48:439 下面以我所做过的一款SOC芯片来说明SOC芯片集成一个DCDC, 该DCDC具有动态电压调节，可以通过配置寄存器调节输出电压大小，另外DCDC输出的电压可能有偏差，通过TRIM值可以调节精度。SOC
2021-11-08 12:36:0620 在本文中，我们检查了扫描压缩确实有助于减少 ASIC 设计中的测试时间 （DFT），但扫描通道减少也是一种有助于顶层测试时间的方法。
2022-06-02 14:25:091504 
昨天我们了解到芯片的CP测试是什么，以及相关的测试内容和方法，那我们今天趁热打铁，来了解一下CP测试的流程。
2022-07-13 17:49:147556 在市场上所有的电子设计自动化 (EDA) 工具中，可测试设计 (DFT) 可能是最不被重视的。即使在设计阶段将可测试性构建到芯片中也会显着降低高昂的测试成本。根据最近的分析，在制造后测试一批芯片以确定哪些部件没有制造缺陷的成本已达到制造芯片成本的 40% 的惊人阈值。
2022-08-22 14:26:30732 
高级测试设计 （DFT） 技术通过提高顺序翻牌的可控性和可观察性，提供高效的测试解决方案，以应对更高测试成本、更高功耗、测试面积和较低几何尺寸下的引脚数。这反过来又提高了SoC的良率，可靠性和可测试性是当今ASIC世界的重要因素。
2022-11-23 14:53:53672 
在本篇白皮书中，我们介绍了一个典型设计的 DFT 组件，并提出了多种可大幅改善 DFT 项目进度的智能 DFT 方法。我们展示了如何将结构化 DFT 和即插即用原则用于 DFT 基础结构，来支持与其他设计开发工作相似的并行 DFT 开发和集成。
2022-11-30 10:15:00575 相信很多ICer们在Light芯片的过程中无论前后端都听过DFT设计测试，DFT全称Design for Test(即可靠性设计)，众所周知，测试的目的是为了保证芯片成品的质量以及功能逻辑的可靠性的必须 措施。
2023-03-06 14:45:102413 DFT是确保芯片在制造过程中具有可测试性的一种技术。DFT友好的ECO是指在进行ECO时， 不会破坏芯片的DFT功能或降低DFT覆盖率的设计方法。
2023-03-06 14:47:071371 SOC是在同一块芯片中集成了CPU、各种存储器、总线系统、专用模块以及多种I/O接口的系统级超大规模集成电路。ASIC是专用于某一方面的芯片，与SOC芯片相比较为简单。
2023-04-03 16:04:164052 测试SoC芯片需要专业的测试设备、软硬件工具和测试流程，同时需要一定的测试经验和技能。并且在测试过程中需要注意安全问题，避免对芯片造成损坏。
2023-05-03 08:26:003600 DFT是确保芯片在制造过程中具有可测试性的一种技术。DFT友好的ECO是指在进行ECO时， 不会破坏芯片的DFT功能或降低DFT覆盖率的设计方法。DFT不友好的ECO会对芯片的测试和调试带来很大的困难，可能导致芯片测试效率降低甚至无法测试。
2023-05-05 15:06:371262 
将数个功能不同的芯片，整合成“一个”具有完整功能的芯片，再封装成“一个”集成电路，称为“系统级芯片（SoC：SystemonaChip）”。例如：将处理器变成“CPU单元”，北桥芯片变成“MCH单元
2023-04-26 15:17:242292 
景芯SoC项目是个付费培训项目，项目数据在服务器上。景芯SoC在tessent完成edt occ插入并且仿真OK后，去综合，然后做scan chain insertion就一堆error S1，首先是28个S1 violation报告出来，
2023-08-09 10:11:321398 
随着半导体技术的飞速发展，系统级芯片（SoC）设计已成为现代电子设备中的主流。在SoC设计中，可测试性设计（DFT）已成为不可或缺的环节。DFT旨在提高芯片测试的效率和准确性，确保产品质量和可靠性。
2023-09-02 09:50:101513 DFT PLL向量，ATE怎么用？ 自动测试设备（ATE）对PLL（锁相环）进行测试时，我们首先要明白PLL在系统级芯片（SoC）中的重要性。它是SoC中关键的时钟或信号同步部件，其性能直接影响
2023-10-30 11:44:17662 
芯片电学测试如何进行？包含哪些测试内容？ 芯片电学测试是对芯片的电学性能进行测试和评估的过程。它是保证芯片质量和可靠性的重要环节，通过测试可以验证芯片的功能、性能和稳定性，从而确保芯片可以在实际
2023-11-09 09:36:48677 近日，谷歌在半导体委外策略上迎来了一次重大转变，其自研手机系统单芯片（SoC）“Tensor”首次释出测试订单给台湾的京元电。这一举动打破了以往与三星合作的统包晶圆代工与封测的模式。
2024-01-18 15:28:00299
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