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电子发烧友网>制造/封装>ST与Soitec合作开发碳化硅衬底制造技术

ST与Soitec合作开发碳化硅衬底制造技术

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国产碳化硅行业加速发展

碳化硅产业链主要分为衬底、外延、器件和应用四大环节,衬底与外延占据 70%的碳 化硅器件成本。根据中商产业研究院数据,碳化硅器件的成本构成中,衬底、外延、前段、 研发费用和其他分别占比为 47%,23%,19%,6%,5%,衬底+外延合计约 70%
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揭秘碳化硅芯片的设计和制造

众所周知,对于碳化硅MOSFET(SiC MOSFET)来说,高质量的衬底可以从外部购买得到,高质量的外延片也可以从外部购买到,可是这只是具备了获得一个碳化硅器件的良好基础,高性能的碳化硅器件对于器件的设计和制造工艺有着极高的要求,
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碳化硅技术壁垒是什么?碳化硅技术壁垒有哪些?

SiC 生产过程分为 SiC 单晶生长、外延层生长及器件制造三大步骤,对应的是产业链衬底、外延、器件与模组四大环节。 主流制造衬底的方式首先以物理气相升华法,在高温真空环境下将粉料升华,通过温场的控制在籽晶表面生 长出碳化硅晶体。
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国内碳化硅衬底生产企业盘点

碳化硅产业链中,碳化硅衬底制造碳化硅产业链技术壁垒最高、价值量最大的环节,是未来碳化硅大规模产业化推进的核心环节。 碳化硅衬底的生产流程包括长晶、切片、研磨和抛光四个环节。
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碳化硅器件的生产流程,碳化硅有哪些优劣势?

中游器件制造环节,不少功率器件制造厂商在硅基制造流程基础上进行产线升级便可满足碳化硅器件的制造需求。当然碳化硅材料的特殊性质决定其器件制造中某些工艺需要依靠特定设备进行特殊开发,以促使碳化硅器件耐高压、大电流功能的实现。
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8英寸碳化硅衬底产业化进展

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碳化硅产业链图谱

共读好书 碳化硅产业链主要由衬底、外延、器件、应用等环节组成。碳化硅晶片作为半导体衬底材料,根据电阻率不同可分为导电型、半绝缘型。导电型衬底可用于生长碳化硅外延片,制成耐高温、耐高压的碳化硅二极管
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山东粤海金与山东有研半导体正式签署碳化硅衬底片业务合作协议

1月23日,山东有研硅半导体表示已与山东粤海金于1月17日正式签署了《碳化硅衬底片业务合作协议》,该协议旨在充分发挥双方各自优势,创新业务合作模式,共同拓展碳化硅衬底片市场与客户。
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全国最大8英寸碳化硅衬底生产基地落地山东?

作为技术应用最成熟的衬底材料,碳化硅衬底在市场上“一片难求”。碳化硅功率器件在新能源汽车中的渗透率正在快速扩大,能显著提升续航能力与充电效率,并降低整车成本。
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X-Fab与Soitec携手推进碳化硅功率器件生产

近日,纯晶圆代工厂X-Fab与Soitec宣布将开展深度合作,共同推动碳化硅(SiC)功率器件的生产。此次合作将依托X-Fab位于德克萨斯州拉伯克的工厂,利用Soitec的SmartSiC技术生产碳化硅功率器件。
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近日,汽车电子领域的佼佼者意法半导体(简称ST)与全球知名汽车及新能源汽车制造商吉利汽车集团宣布了一项重要合作。双方已签署碳化硅(SiC)器件的长期供应协议,标志着双方在原有合作基础上,对碳化硅器件的联合研发与应用将迈入新的阶段。
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一、碳化硅衬底修边处理的作用与挑战 修边处理是碳化硅衬底加工中的一个关键步骤,主要用于去除衬底边缘的毛刺、裂纹和不规则部分,以提高衬底的尺寸精度和边缘质量。然而,修边过程中由于机械应力、热应力以及
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一、碳化硅衬底TTV控制的重要性 碳化硅衬底的TTV是指衬底表面各点厚度最高点与最低点之间的差值。TTV的大小直接影响后续研磨、抛光工序的效率和成本,以及最终产品的质量和性能。因此,在碳化硅衬底
2024-12-26 09:51:54465

碳化硅衬底的环吸方案相比其他吸附方案,对于测量碳化硅衬底 BOW/WARP 的影响

在半导体领域,随着碳化硅(SiC)材料因其卓越的电学性能、高热导率等优势逐渐崭露头角,成为新一代功率器件、射频器件等制造的热门衬底选择,对碳化硅衬底质量的精准把控愈发关键。其中,碳化硅衬底的 BOW
2025-01-13 14:36:13394

不同的碳化硅衬底的吸附方案,对测量碳化硅衬底 BOW/WARP 的影响

在当今蓬勃发展的半导体产业中,碳化硅(SiC)衬底作为关键基础材料,正引领着高性能芯片制造迈向新的台阶。对于碳化硅衬底而言,其 BOW(弯曲度)和 WARP(翘曲度)参数犹如精密天平上的砝码,细微
2025-01-14 10:23:10400

碳化硅衬底的生产过程

碳化硅(SiC)作为一种宽禁带半导体材料,因其出色的物理和化学特性,如高硬度、高熔点、高热导率和化学稳定性,在半导体产业中得到了广泛的应用。SiC衬底制造高性能SiC器件的关键材料,其生产过程复杂
2025-02-03 14:21:001981

碳化硅衬底的特氟龙夹具相比其他吸附方案,对于测量碳化硅衬底 BOW/WARP 的影响

一、引言 随着碳化硅在半导体等领域的广泛应用,对其衬底质量的检测愈发关键。BOW(翘曲度)和 WARP(弯曲度)是衡量碳化硅衬底质量的重要参数,准确测量这些参数对于保证器件性能至关重要。而不同的吸附
2025-01-23 10:30:54286

碳化硅薄膜沉积技术介绍

多晶碳化硅和非晶碳化硅在薄膜沉积方面各具特色。多晶碳化硅以其广泛的衬底适应性、制造优势和多样的沉积技术而著称;而非晶碳化硅则以其极低的沉积温度、良好的化学与机械性能以及广泛的应用前景而受到关注。
2025-02-05 13:49:121953

CREE(Wolfspeed)的垄断与衰落及国产碳化硅衬底崛起的发展启示

)的垄断与衰落 技术垄断期:Wolfspeed(原CREE)曾长期主导全球碳化硅衬底市场,其物理气相传输法(PVT)生长技术及6英寸衬底工艺占据绝对优势。2018年特斯拉采用碳化硅后,Wolfspeed市值一度飙升,但此后因技术迭代缓慢、成本高企及中国企业的竞争,市值暴
2025-03-05 07:27:051295

切割进给量与碳化硅衬底厚度均匀性的量化关系及工艺优化

引言 在碳化硅衬底加工过程中,切割进给量是影响其厚度均匀性的关键工艺参数。深入探究二者的量化关系,并进行工艺优化,对提升碳化硅衬底质量、满足半导体器件制造需求具有重要意义。 量化关系分析 切割机
2025-06-12 10:03:28537

基于进给量梯度调节的碳化硅衬底切割厚度均匀性提升技术

碳化硅衬底切割过程中,厚度不均匀问题严重影响其后续应用性能。传统固定进给量切割方式难以适应材料特性与切割工况变化,基于进给量梯度调节的方法为提升切割厚度均匀性提供了新思路,对推动碳化硅衬底加工技术
2025-06-13 10:07:04524

超薄碳化硅衬底切割自动对刀精度提升策略

超薄碳化硅衬底
2025-07-02 09:49:10483

碳化硅晶圆特性及切割要点

01衬底碳化硅衬底是第三代半导体材料中氮化镓、碳化硅应用的基石。碳化硅衬底碳化硅粉末为主要原材料,经过晶体生长、晶锭加工、切割、研磨、抛光、清洗等制造过程后形成的单片材料。按照电学性能
2025-07-15 15:00:19961

【新启航】如何解决碳化硅衬底 TTV 厚度测量中的各向异性干扰问题

摘要 本文针对碳化硅衬底 TTV 厚度测量中各向异性带来的干扰问题展开研究,深入分析干扰产生的机理,提出多种解决策略,旨在提高碳化硅衬底 TTV 厚度测量的准确性与可靠性,为碳化硅半导体制造工艺提供
2025-08-08 11:38:30659

激光干涉法在碳化硅衬底 TTV 厚度测量中的精度提升策略

提供理论与技术支持。 引言 随着碳化硅半导体产业的蓬勃发展,对碳化硅衬底质量要求日益严苛,晶圆总厚度变化(TTV)作为关键质量指标,其精确测量至关重要。激光干涉法
2025-08-12 13:20:16778

碳化硅衬底 TTV 厚度测量数据异常的快速诊断与处理流程

,为半导体制造工艺的稳定运行提供支持。 引言 在碳化硅半导体制造过程中,TTV 厚度测量数据是评估衬底质量的关键依据。然而,受测量设备性能波动、环境变化、样品特性
2025-08-14 13:29:381027

【新启航】国产 VS 进口碳化硅衬底 TTV 厚度测量仪的性价比分析

本文通过对比国产与进口碳化硅衬底 TTV 厚度测量仪在性能、价格、维护成本等方面的差异,深入分析两者的性价比,旨在为半导体制造企业及科研机构选购测量设备提供科学依据,助力优化资源配置。 引言 在
2025-08-15 11:55:31707

【新启航】碳化硅衬底 TTV 厚度测量中表面粗糙度对结果的影响研究

摘要 本文聚焦碳化硅衬底 TTV 厚度测量过程,深入探究表面粗糙度对测量结果的影响机制,通过理论分析与实验验证,揭示表面粗糙度与测量误差的关联,为优化碳化硅衬底 TTV 测量方法、提升测量准确性提供
2025-08-18 14:33:59454

【新启航】探针式碳化硅衬底 TTV 厚度测量仪的操作规范与技巧

摘要 本文围绕探针式碳化硅衬底 TTV 厚度测量仪,系统阐述其操作规范与实用技巧,通过规范测量流程、分享操作要点,旨在提高测量准确性与效率,为半导体制造过程中碳化硅衬底 TTV 测量提供标准化操作
2025-08-20 12:01:02552

探针式碳化硅衬底 TTV 厚度测量仪的操作规范与技巧

本文围绕探针式碳化硅衬底 TTV 厚度测量仪,系统阐述其操作规范与实用技巧,通过规范测量流程、分享操作要点,旨在提高测量准确性与效率,为半导体制造过程中碳化硅衬底 TTV 测量提供标准化操作指导
2025-08-23 16:22:401083

碳化硅衬底 TTV 厚度测量中边缘效应的抑制方法研究

摘要 本文针对碳化硅衬底 TTV 厚度测量中存在的边缘效应问题,深入分析其产生原因,从样品处理、测量技术改进及数据处理等多维度研究抑制方法,旨在提高 TTV 测量准确性,为碳化硅半导体制造提供可靠
2025-08-26 16:52:101093

碳化硅衬底 TTV 厚度测量技术的最新发展趋势与未来展望

摘要 本文聚焦碳化硅衬底晶圆总厚度变化(TTV)厚度测量技术,剖析其在精度提升、设备小型化及智能化测量等方面的最新发展趋势,并对未来在新兴应用领域的拓展及推动半导体产业发展的前景进行展望,为行业技术
2025-09-01 11:58:10840

2023年国内主要碳化硅衬底供应商产能现状

碳化硅衬底长期供货协议。ST还与三安合资建设碳化硅器件工厂,并由三安配套供应碳化硅衬底。   另一方面产能扩张速度也较快,今年以来国内碳化硅衬底产能逐步落地,多家厂商的扩产项目都在2023年实现量产或是在产能爬坡过程中。与之
2024-01-08 08:25:345166

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