本文介绍如何利用先进的测试平台来对ADSL芯片的某些关键参数进行测试，从而使半导体制造商能够降低ADSL器件的测试成本。
2011-11-21 17:49:28
1805 ，然高瓦数的SMU往往价格昂贵，有鉴于此，美商国家仪器（NI）发布新一代PXI模组化 SMU仪器，助力客户大幅降低测试成本。
2014-02-18 09:46:131086 NI今天推出的全新HIL仿真仪基于开放的商用现成平台，可降低开发和测试风险，而且无需牺牲灵活性，满足今天日益紧迫的开发时间要求、不断变化的测试需求、以及人手缩减等各种挑战。
2016-08-03 11:32:211011 目前的雷达系统往往需经过进阶测试与验证，才能确保该系统可在复杂且混乱的通讯环境下正常运作，同时确定该系统完全符合效能规格，并可进一步充分发挥其效能特性。工程师在针对雷达系统设定自动化测试时，评估系统
2017-10-30 13:55:323723 日前，在SEMICON China 2019展期间，NI重点展示了其在半导体芯片和制造方面的测试方案，包括电源管理、5G射频以及量产半导体?测试系统(STS)，NI工程师向电子发烧友详细介绍了这些测试领域面临的挑战以及NI的解决方案。
2019-03-28 11:00:396326 NI 提供了高速、灵活、精确的RF硬件，并搭配功能强大的NI LabVIEW软件，以适应无线通信领域日新月异的需求，并且贯穿了从设计、验证到生产的所有工程设计阶段。
2019-08-16 07:10:03
概述NI 提供了高速、灵活、精确的RF硬件，并搭配功能强大的NI LabVIEW软件，以适应无线通信领域日新月异的需求，并且贯穿了从设计、验证到生产的所有工程设计阶段。为了能满足不断发展的通讯标准
2019-06-04 08:19:03
不止STS（半导体测试系统），NI更多半导体测试方案来袭，附技术白皮书《5G新空口物理层介绍》
2021-01-18 06:59:56
NICompactDAQ 系统通过一个USB接口可以同时传送高速模拟输入、模拟输出、数字输入和数字输出数据。NI CompactDAQ的性能优势灵活的特性在适应变化的测试需求方面，NI CompactDAQ
2009-02-25 23:22:46
现代高集成度的芯片有着“射频到比特流”(“RF-to-bits”)或“射频到模拟基带”的构架。射频部分集成度提高带来最大的冲击之一是测试模式的转移，即使得系统级的测试成为可能。
2019-09-03 06:45:33
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心产品事业部执行业务经理 在半导体测试领域，管理成本依然是最严峻的挑战之一，因为自动化测试设备(ATE)是一项重大的资本支出。那么，有没有能够降低每片晶圆的成本，从而提升竞争优势的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
无严格要求的特点。因此，目前检测半导体材料电阻率，尤其对于薄膜样品来说，四探针是较常用的方法。 四探针技术要求使用四根探针等间距的接触到材料表面。在外边两根探针之间输出电流的同时，测试中间两根探针的电压差。最后，电阻率通过样品的几何参数，输出电流源和测到的电压值来计算得出。
2021-01-13 07:20:44
对于手机产品，要想使价格具有竟争力，在设计时采用低成本元器件仅仅是第一步。生产过程成本，特别是最终测试过程中所发生的成本对于最终产品价格有同样重要的影响。而且，设计工程师经常会低估生产过程所增加的成本。由于这些原因，生产工程师和设计工程师必须密切协作才能保证准确达到生产成本目标。
2019-06-04 07:00:35
SRCNEW，增强了一项也就是自适应，实现了跑流，测试设备干扰规避开。
需要新增增强测试项，请问如何测试SRRC？
客户：IDPRT
操作系统：RTOS
PN: CYW43438
请问是使用以下方法吗？
2024-03-01 08:46:31
为降低多重通讯产品的测试成本而设计，是一个创新的兼容多个无线标准的测试设备。它可以同时测试多种无线通讯的性能，与单项逐一测试的方法相比，可节约多达75%的时间。特别是基于序列的测试可以缩短Tx和Rx
2018-02-28 17:10:16
挑战，5G测试系统的设计人员需要采用一种能够在广泛的频带中适应极端多信道测试环境的射频组件，同时这种组件又不能显著增加设备的尺寸和重量，尤其是成本。这意味着需要更高的集成度并采用一种全新的系统设计方案
2018-07-04 10:20:48
的测试内容进行全面测试，提高生产效率，降低测试成本。 测试系统适用于各种电子、电器产品的PCBA功能全自动功能模拟测试。改变传统的依赖人手操作眼观、耳听的测试方式为采用机械手、机器视觉、数据采集卡自动测试
2013-10-09 10:33:14
表征。 超快速：FS-Pro系列较传统半导体参数测试系统，其测试速度高达10倍，业界首创AI测试加速卡，体验强大速度提升，同时保持测试精度。 模块化架构：PXI模块化架构，可轻松扩展支持生产测试（如
2020-07-01 10:02:55
减压器降低了电压，增强了电流，是通过什么原理来实现的？给个原理图好吗，小弟研究一下谢谢了
2019-06-17 04:36:10
使用 ENA 系列安捷伦网络分析仪降低测试成本测试成本 (COT) 的定义是特定时间内为生产线测试流程中的设备所花费的总成本。设备在其使用寿命中的不同阶段，COT 会发生变化。在设备购得之时 (t0
2021-08-18 11:01:08
等标准将继续增加无线设备的复杂性。使用NI PXIe、STS、VTS等NI的软硬件系统完成的测试方案有哪几种呢？
2019-02-13 14:09:43
进行测试，最多只能对一个相近系列的产品进行测试。随着产品生命周期的缩短和制造成本的不断下降，专用测试系统变得越来越不经济。为了降低产品的测试成本，测试系统现在必须能够测试多种产品，以确保每种产品都能
2019-06-04 06:11:59
变速驱动的需求是什么兼顾性能、成本的高压功率半导体驱动IC应用
2021-04-21 07:06:40
在全球竞争和经济因素环境下，当今高技术产品利润和销售在不断下滑，工程设计团队在向市场推出低成本产品方面承受了很大的压力。新产品研发面临两种不同的系统挑战：利用最新的技术和功能开发全新的产品，或者采用
2019-08-09 07:41:27
的性能，MIMO测试在进行多信道测试时的要求更复杂、规范更严格、测试成本更高，所需要的测试时间也更长。 本文提供一些MIMO功率测量的要点及建议，能够降低测试成本、缩短测试时间，以及提高测试精度
2019-06-03 06:44:36
不同的治疗头来实现不同光斑大小的切换。导致一台设备具有多个治疗手柄的情况，增加了成本同时还降低了临床医疗的便捷性。本文在此背景下研究半导体激光器的原理及封装形式、激光脱毛医疗原理及特点，并系统性深入研究
2022-01-10 14:30:55
并降低测试成本。EXT是一款综合测试仪，内含矢量信号分析仪、矢量信号发生器、高速序列分析仪和多制式硬件。它提供了非常强大的功能，可满足未来的LTE TDD测试需求，例如：高达3.8GHz的全蜂窝频段范围（包括LTE TDD 43频段）；并支持最新芯片组中实施的快速序列测试模式。
2019-06-06 07:04:28
NI TestStand 和LabVIEW应用当今企业所面临的挑战之一是测试成本越来越高。由于设备的复杂性不断增加，所以测试这些设备的成本也在不断提高。因为测试对于产品质量至关重要,而更加复杂
2019-04-08 09:42:12
的测试工程师面临的挑战是创建新的测试方法和系统，可以提供显着降低的测试成本，以及解决对可配置，灵活的测试解决方案的需求。 COTS（现成商业）硬件在半导体ATE解决方案中总是扮演一些角色 - 有时扩充
2017-04-13 15:40:01
对于手机产品，要想使价格具有竟争力，在设计时采用低成本元器件仅仅是第一步。生产过程成本，特别是最终测试过程中所发生的成本对于最终产品价格有同样重要的影响。而且，设计工程师经常会低估生产过程所增加的成本。由于这些原因，生产工程师和设计工程师必须密切协作才能保证准确达到生产成本目标。
2019-09-29 07:04:50
如何确保GPS测试完整性？如何实现GPS较短的测试时间和较低的测试成本？
2021-04-15 06:57:09
数十亿台5G设备将面世，如何有效降低5G测试成本？
2021-02-22 08:15:00
和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类，RF开关卡规格，和有助于测试工程师提高测试吞吐量并降低测试成本的RF开关设计中需要考虑的问题。
2019-07-10 08:02:09
和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类，RF开关卡规格，和有助于测试工程师提高测试吞吐量并降低测试成本的RF开关设计中需要考虑的问题。
2019-07-10 06:34:58
随着移动通信设备的复杂性与功能性以指数方式（由摩尔定律得出）的增长，测试它们的成本也在增加。工程师们面临的挑战是：需要寻找一种方法，最大程度的降低测试成本，但是有一种方法就是可以用更少的资源来完成更多的测试。那么，并行且便携式的测试系统有哪些作用呢？
2019-08-09 06:55:57
由于业界正在不断寻求更低的测试成本，许多RF测试工程师必须继续地缩短测量时间。如你所知，无线网络（WLAN）装置的测试操作也必须要迎合这个趋势。无论是用于设计检验的自动化测试系统或者是最终产品的测试
2019-08-08 08:28:40
半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频（RF）测试解决方案。这套新的解决方案可提供经济、有效又可靠的射频量测能力
2019-06-21 06:23:57
惠瑞捷半导体科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频（RF）测试解决方案。这套新的解决方案可提供经济、有效又可靠的射频量测能力，是测试新式的高
2019-06-27 06:31:28
(Prober)对接机制。这样的紧凑型设计减少了占地空间，降低了功耗，减轻了传统ATE测试员的维护负担，从而节约了测试成本。 此外，半导体测试系统采用开放的模块化设计，使您可以利用最新的工业标准PXI模块
2018-07-11 11:00:40
，降低成本变得更具挑战性。半导体制造商如何提高其最终产品的复杂性，同时降低测试成本？测试系统未标准化从广义上讲，半导体开发过程包括设计、制造和测试。今天，IC 设计人员使用 EDA（电子设计自动化）软件
2022-03-15 11:30:40
对半导体测试有何要求？对半导体测试有哪几种方式？如何对数字输出执行VOH、VOL和IOS测试？
2021-07-30 06:27:39
一、无线数字设备发射机特性测试技术 移动终端和个人电脑的无线数据功能已发展为多频带、多系统结构，导致对前端器件需求的迅速增加。目前，简单易用、轻便及低成本终端已成为市场趋势，由此引起市场对小巧
2019-06-05 08:12:26
测试成本，同时满足不断变化的测试需求。 本装置集成了器件电气和功能测试所需的各种元件，包括为了检验传感器是否正常工作而需要的设备。 MEMS 器
2022-10-09 14:39:53
NI 全新交互式测量软件SignalExpress 使设计与测试走向融合
该软件扩展了虚拟仪器技术，增强了工作台上的测量功能2004 年10 月--美国国
2009-06-12 10:55:48717 NI加强了数字音频测试功能
美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)近日宣布在NI AudioMASTER套件上推出其最新的高性能软件和硬件组件。该模拟和数字音频的验证
2010-01-13 11:23:45974 吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案——S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件（KTE V5.4）的支持，S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以
2012-03-30 11:05:19836 越来越小的利润空间正驱使元器件制造商降低生产成本，包括测试成本在内。采用具有嵌入式测试排序器的仪器会起到作用。为了采取更有效的测试手段来提高利润空间，制造商要考虑
2012-04-26 10:22:31707 
NI矢量网络分析仪（VNA）凭借其快速自动化测量、功能强大的仪器结构和经简化的测试系统开发过程，可降低测试成本。还集成了高级矢量网络分析仪的测量功能，形成基于PXI的测试系统
2012-12-04 13:47:131293 2013 年 9月 —— 美国国家仪器有限公司（National Instruments， 简称NI）- NIWeek - 近日发布了数款基于NI LabVIEW可重配置I/O（RIO）架构的新产品，为用户提供灵活性，帮助他们应对现代自动化测试系统的挑战并降低总测试成本。
2013-09-11 09:54:00784 在摩尔定律的发展极限之下，产生更多装置连结与资料分析的需求。也由于物联网与智慧手机的发展，使得类比与RF讯号更显得重要。未来的讯号，将不再以纯类比讯号为主，而是更为复杂的类比与RF混合讯号，这使得传统ATE（半导体自动化测试设备）系统出现了瓶颈。
2014-09-05 10:46:241159 “2012年NI推出了业界第一款具有支持LabVIEW FPGA的矢量信号收发仪（VST），帮助工程师加速工程设计并降低测试成本，从而重新定义了仪器仪表，”Frost＆Sullivan通信测试与测量
2016-07-13 15:09:531095 在多个大趋势的推动下，推动世界对半导体需求的技术繁荣依然强劲。无线基础设施、物联网、人工智能、数据中心和电动汽车是推动对先进半导体 IC 需求增加的应用示例。随着每个单独的 IC 中包含更多功能，测试要求也会增加，降低成本变得更具挑战性。半导体制造商如何提高其最终产品的复杂性，同时降低测试成本？
2022-03-23 13:34:003461 NI半导体测试技术创新论坛，关注探讨如何在实验室V&V验证、晶圆及封装测试中进一步降低成本、提高上市时间，针对RFIC、ADC等混合信号芯片，探讨如何通过PXI平台化方法降低从实验室到量产的测试成本、以及提高测试效率等。
2018-08-22 11:29:393806 针对于RFIC、ADC等混合信号芯片探讨如何通过PXI平台化方法降低从实验室到量产测试成本、提高测试效率等，NI与合作伙伴，华兴源创，全球仪器，博达微科技共同邀请您参与此次研讨会，共建良好半导体测试生态体系。
2018-08-26 09:14:005248 芯片量产测试解决方案可基于NI半导体测试系统（STS），STS在完全封闭的测试头里面继承了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试
2018-09-28 09:30:0012870 马自达使用软件定义的自动化测试系统，推进汽车的电气化，并且降低了90%的测试成本
2018-10-11 19:37:314050 半导体技术的要求通常会超出传统ATE所能为模拟、混合信号和RF测试提供的测试覆盖范围。半导体测试工程师需要更智能的解决方案来解决成本、可扩展性、设计和器件挑战。
2019-02-05 08:41:003190 也许你听过斯巴鲁借助NI软硬件平台，将总测试时间减少了94%的成功案例。在汽车智能化、电气化与网联化发展的浪潮下，系统复杂性日益增长导致测试难度加大，NI帮助很多厂商降低了测试成本。
2019-01-30 16:04:583644 也许你听过斯巴鲁借助NI软硬件平台，将总测试时间减少了94%的成功案例。在汽车智能化、电气化与网联化发展的浪潮下，系统复杂性日益增长导致测试难度加大，NI帮助很多厂商降低了测试成本。今天小编就为大家揭秘NI汽车测试解决方案的核心竞争力。
2019-02-18 15:57:243981 作为半导体产业的其中一个环节，半导体测试一直以来备受关注。随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要。
2019-04-11 09:12:5915047 半导体测试解决方案专业品牌蔚华科技今日宣布与美商NI（National Instruments 国家仪器）合作，未来将负责NI大中华区的半导体测试系统（STS， Semiconductor
2019-05-22 09:32:301137 国家仪器该公司于今日推出了STS软件的最新增强功能，这些功能可显著提升NI半导体测试系统的编程和调试体验，并大大提高测试执行速度、并行测试效率和整体设备效率。
2019-10-14 14:30:52910 National Instruments，（简称NI）近日与苏州纳芯微电子股份有限公司（简称纳芯微）、上海孤波科技有限公司（简称孤波）达成三方战略合作，开启在半导体测试领域的全新合作模式，引领半导体测试行业创新发展。
2019-11-04 15:31:442767 “NI是一家软件定义平台供应商，致力于帮助用户加快自动化测试和自动化测量系统的开发速度并提高其性能。该公司今天宣布推出全新4 GHz车载雷达测试系统（VRTS）。
2019-11-20 16:56:174077 Radio等标准将继续增加无线设备的复杂性。今天，我们将 为各位介绍6个使用NI PXIe、STS、VTS等NI的软硬件系统完成的测试方案。
2020-10-29 10:41:00
1 ●全面的RF、数字和直流仪器产品组合—您可以自定义新的STS配置并升级现有测试仪，以纳入您需要的仪器资源，同时保持测试程序和负载板的可移植性。
2020-07-27 16:05:461160 NI于2014年推出的NI STS，基于实验室仪表级别精度的模块化仪器，同时满足测试精度和量产测试覆盖率的需求。NI STS是基于模块化仪器的PXI平台，因此，NI STS可以不断扩展以满足日益增多以及定制化的测试需求。
2020-08-05 15:52:472172 
Express RIO 中频收发器。RIO技术不仅用于控制应用，强大的FPGA功能大大提高了测试吞吐量，使新的测试成为可能，从而增强了自动化测试系统。同时，现成可用的商业硬件平台以及LabVIEW为FPGA编程带来的简化，也大大降低了系统开发难度和成本。
2020-08-18 09:35:393370 
半导体封测解决方案专业品牌蔚华科技与合作伙伴NI共同宣布成功为安科诺（arQana）打造完整射频测试解决方案，从实验室开发至量产导入皆采用NI 半导体测试系统（STS），在航空与国防芯片的高标准测试
2020-10-20 15:33:371616 专板（Loadboard），季丰电子保持一贯的作风：一次设计生产成功，满足客户测试指标要求并准时交货。其他客户的STS专板也正在设计中，将于近期交付。 NI STS是一款直接可用于量产环境的ATE，具有高吞吐量、低成本等优势，适用于RF、混合信号和MEMS半导体器件的生产测试。STS可直
2020-12-15 17:29:231659 如今，半导体企业愈发关注产品上市前的测试环节。NI采用颠覆性的半导体测试方案，助力企业降低测试成本以及加速产品上市，这就是我们常说的“一个平台”战略，从实验室到量产测试，只需一个平台。安森美、英飞凌
2021-01-04 09:17:292004 
为了满足批量生产的需求，用户需要布置很多工位来调试这些器件的S参数指标。传统的做法是在每个工位独立配置一台二端口VNA，这样整个车间会需求大量的VNA，导致用户的测试成本长期居高不下。如何进一步降低测试成本，成为用户当前最大的挑战
2021-02-08 09:34:001815 2021年OPPO开发者大会赵梁：云真机为开发者降低不同机型测试成本，极大提升研发效率。
2021-10-27 15:21:382596 
前言 当今半导体测试工程师面临的挑战是如何寻找和创建一个新的测试解决方案，该方案被要求能够显著降低测试成本，并满足可配置、开放架构、灵活的测试解决方案的需求，这些解决方案可以提供与专用ATE平台
2021-11-10 10:36:106 自主射频测量助手可在多个温度范围内实现完全自主，免提的射频校准和测量。它具有独特的Contact Intelligence™技术，可降低测试成本并以提高的准确性和缩短的设计周期缩短产品上市时间
2022-06-21 14:55:08638 测试是任何卫星计划的重要组成部分。提高总程序成本的一种方法是降低测试成本。取消测试似乎很诱人，但设备故障的风险会显着增加。保持仪器和系统的准确性可降低测试成本，并以多种方式缩短程序进度。例如，卫星
2022-11-16 15:31:07532 
NI宣布收购 SET GmbH(简称“SET”)。SET是长期专注于航空航天和国防测试系统开发的专家，也是功率半导体可靠性测试领域的创新者。加入NI后，将共同缩短关键的、高度差异化的解决方案的上市时间，并以碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等功率电子材料为切入点，加速从半导体到汽车的供应链融合。
2023-03-15 17:42:56917 2023年4月6日，是德科技（Keysight Technologies,Inc.）日前宣布，推出一款全新 FlexOTO 光测试优化软件和解决方案。该解决方案可降低多通道接口测试的总体测试成本
2023-04-06 18:00:01932 原文标题：下周五｜TSO.ai：打通AI应用“最后一公里”，降低芯片测试成本 文章出处：【微信公众号：新思科技】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。
2023-06-09 18:05:01535 
原文标题：本周五｜TSO.ai：打通AI应用“最后一公里”，降低芯片测试成本 文章出处：【微信公众号：新思科技】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。
2023-06-12 17:45:03338 
本文将介绍ADGM1001 SPDT MEMS开关如何助力一次性通过单插入测试，以帮助进行DC参数测试和高速数字测试，从而降低测试成本，简化数字/RF片上系统(SoC)的测试流程。
2023-07-10 15:42:53291 
测试流程和良率，并降低成本，同时降低基于云的解决方案存在的安全风险。 泰瑞达半导体测试部营销副总裁兼总经理Regan Mills表示：“采用先进工艺的高质量半导体器件需求增加了半导体制造的复杂性，只有全面的测试和分析解决方案才能帮助解决这一问题。
2023-07-20 18:00:27362 虹科电源测试系统ATE升级实现更高的测试密度和更低的测试成本01高密度精度测量单元HK-HDPMU在单板上提供多达192个额外的独立参数测量单元(PMU)通道。虹科解决方案将增加并行测试，而无需创建
2023-09-04 16:22:23319 
什么是半导体的成品测试系统，如何测试其特性？ 半导体的成品测试系统是用于测试制造出来的半导体器件的一种设备。它可以通过一系列测试和分析来确定半导体器件的性能和功能是否符合设计规格。 半导体器件是现代
2023-11-09 09:36:44265
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