罗德与施瓦茨推出新的低成本多DUT同时测试方案

用户在测试5G FR1介质滤波器、隔离器这类无源器件的S参数时，由于产品自身物理特性的限制，通常每个器件都需要调试。

测试挑战

元器件生产调试时间长，需求很多VNA调试工位，测试成本长期居高不下

为了满足批量生产的需求，用户需要布置很多工位来调试这些器件的S参数指标。传统的做法是在每个工位独立配置一台二端口VNA，这样整个车间会需求大量的VNA，导致用户的测试成本长期居高不下。如何进一步降低测试成本，成为用户当前最大的挑战。

传统测试方案带来大量的资源闲置

在调试这类无源器件时，通常只需观测一个测量画面下的曲线变化情况，与仪器相关的参数配置基本固定不变。而现代VNA测量功能非常强大，可以同时配置多组测量通道(Channel)和测量显示界面（Diagram），各测量通道之间的切换速度非常之快，肉眼几乎无法辨别。显然，一台VNA只对应一个DUT的传统测试方案，会造成仪器测量资源大量闲置。为了提高仪器的使用效率，迫切需要对仪器资源进行复用

罗德与施瓦茨推出新的解决方案

罗德与施瓦茨提供更具性价比的多端口方案，用于多个DUT同时测试

针对以上情况，为了进一步降低测试成本，罗德与施瓦茨提供了一种更具性价比的测试方案：基于R&SZNB矢量网络分析仪和R&SZN-Z84开关矩阵的多端口扩展方案，该方案可对一台R&SZNB主机进行多工位复用。

方案特点：

多端口同时测试

测试速度快，成本低

可多屏呈现且互不干扰

R&SZN-Z84即插即用，与主机连接方便

R&SZN-Z84采用固态开关，开关切换速度快

用户界面友好，用户无需对R&SZN-Z84进行额外操作

本视频中，基于一台二端口矢量网络分析仪R&SZNB 和一台二进六出开关矩阵R&SZN-Z84，可将测量端口扩展成六个。用户可以将这六个测量端口划分为3组二端口测试，同时在R&SZNB中创建三个Channel 并显示成三个独立的画面，每个Channel分别对应一个二端口DUT 测试（如Channel1对应Port1/Port2 …. Channel3对应Port5/Port6）。借助外置的商用视频切割器，将三个测试画面切割并独立输出显示，这样每个测量工位只显示自己DUT的测量画面。

三个DUT通过共用一台网络分析仪，实现了独立调试和独立显示、互不干扰，从而大大降低了产线成本。同时，测试速度和测试精度俱佳。

同理，如果开关矩阵配置为最大24个端口，用户可以将24个端口划分为12个二端口测试，最多同时调试12个二端口器件。

责任编辑：xj

原文标题：【方案介绍】低成本多DUT同时测试方案

文章出处：【微信公众号：罗德与施瓦茨资讯】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。