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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于电路板和电路模块检测，为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备，提供标准化产品和定制化服务方案

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STU200-高G惯性测试设备-mems测试设备|SPEA

型号： STU200

--- 产品参数 ---

  • 加速度 -28~+28g
  • 温度范围 -50℃~150℃
  • 频率范围 80~120Hz

--- 产品详情 ---

 

 

 

STU 200 高 G 测试装置专门用于高加速度 MEMS 惯性传感器的最佳性能生产测试。该装置集成有装贴操作机和测试系统，提供高效率的交钥匙解决方案，可以降低测试成本，同时满足不断变化的测试需求。

 

本装置集成了器件电气和功能测试所需的各种元件，包括为了检验传感器是否正常工作而需要的设备。

 

MEMS 器件可以同时在 XYZ 三个方向上刺激，节约了测试周期数，有助于减小测试时间（尤其是需要在相应温度下提供多个测试通道时）和器件损坏风险。

 

本装置具有一流的性能，受到 28g/90 Hz 刺激时的谐波失真小于 1.5%。

5000 个生产周期中的谐波失真趋势：性能非常稳定、可靠

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