【芯闻时译】半导体测试流程实时分析

来源：半导体芯科技编译

安全边缘平台结合了先进的数据分析解决方案和优化测试流程。

泰瑞达推出了Teradyne Archimedes分析解决方案，这是一种开放式架构，可为半导体测试带来实时分析、优化测试流程和良率，并降低成本，同时降低基于云的解决方案存在的安全风险。

泰瑞达半导体测试部营销副总裁兼总经理Regan Mills表示：“采用先进工艺的高质量半导体器件需求增加了半导体制造的复杂性，只有全面的测试和分析解决方案才能帮助解决这一问题。Teradyne Archimedes提供开放式架构，让客户能够根据环境选择最有效的数据分析解决方案，帮助识别故障及其根本原因，从而在量产之前及期间采取纠正措施。”

作为大科技生态系统的一部分，Teradyne Archimedes与领先的数据分析平台无缝结合，加快分析速度。

Exensio PDF解决方案总经理Said Akar表示：“Exensio Advanced Insights for Manufacturing是一个安全、可扩展、可配置的分析和人工智能平台，专门设计用于在量产环境中处理快速决策，包括Exensio AI推理引擎的边缘部署。Teradyne Archimedes分析解决方案可将我们系统的数据和机器学习功能的优势扩展到泰瑞达自动化半导体测试的全球客户群体。”

proteanTecs首席战略官Uzi Baruch表示：“维护安全和数据完整的挑战从前所未有。Teradyne Archimedes分析解决方案与proteanTecs深度数据分析相结合，可实现遥测洞察，为半导体测试增加不可估量的价值。泰瑞达的开放分析开发环境结合了ML驱动的云和边缘软件，可将设备可视性提升到一个新的水平，满足先进系统对性能、功耗和可靠性的高要求。”

安全边缘解决方案

虽然当今的分析解决方案功能丰富，但采用不同的数据格式、规范和接口要求。因此，需要测试代理来实现与自动化测试解决方案的兼容性，会显着增加支持和应用工程成本。这种方法的日常开支，再加上依赖于云的分析解决方案，可能会降低测试操作速度并暴露关键测试数据。将数据分析转移到系统边缘可以降低这些漏洞。

Teradyne UltraEdge2000是Archimedes分析解决方案的组成部分，是一个安全、高性能的并行计算平台，能够以毫秒级延迟执行实时分析解决方案。还可提供本地安全环境，可以在网络边缘实时执行数据消耗和繁重的计算过程，从而减少基于云的解决方案和测试代理所面临的安全风险。该方法确保了数据、分析模型和规则集的安全。

泰瑞达测试支持

自动化测试设备（ATE）上的半导体测试操作长期以来都会产生大量数据，供验证和量产测试过程使用。分析解决方案越来越多地在系统边缘使用这些数据进行实时分析，最终推动实时ATE输入和控制，提高测试良率、吞吐量、效率和产品质量。

Teradyne Archimedes分析解决方案：

•是一个实时、开放的架构，可确保一流的解决方案易于部署；

•可提供对更多可信且结构一致的数据类型的访问，提供更大的灵活性并确保数据完整性；

•可提供双向数据流，支持现场实时数据分析，将信息推送给测试，以便立即优化测试程序，从而提高质量和产量；

•是一个本地安全环境，降低了对测试代理的需求及其伴随的安全风险，使测试工程师及其分析解决方案合作伙伴能够专注于改进和优化，而不是测试基础设施维护。

Mills补充道：“Teradyne Archimedes分析解决方案将泰瑞达在为当今数字设备提供动力而严格测试大量半导体设备方面的专业知识与平台边缘深度学习数据分析的优势相结合。通过增强整体制造水平为客户节省时间和金钱。”

审核编辑 黄宇