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DC BTI:SiC MOSFET 长期稳定的 “隐形考验”,英飞凌这样破解2026-06-04 17:04
在碳化硅(SiC)MOSFET的长期运行中,有一个容易被忽视却影响重大的现象——DCBTI(恒定栅极偏置下的温度不稳定性)。它会悄悄引发器件阈值电压漂移,进而影响导通电阻、增加损耗,甚至缩短器件寿命。作为功率半导体领域的标杆,英飞凌不仅深度解析了DCBTI的本质,更通过工艺优化、测量创新和精准建模,实现了对DCBTI的极致控制,让C -
新品 | 混合碳化硅CoolSiC™ MOSFET 1200V G2(TO-247PLUS 4引脚封装)2026-06-01 17:04
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英飞凌携手麦田能源,推动贴片式全碳化硅解决方案率先落地2026-05-30 10:05
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如何评估SiC MOSFET栅氧化层的使用寿命2026-05-28 17:06
在我们上一篇文章中,详细描述了英飞凌如何通过电应力筛选的方式,剔除栅氧化层中具有非本征缺陷的器件(相关阅读:仅有几十nm厚的栅氧化层,竟是制约SiCMOSFET可靠性的关键因素)。那么通过筛选之后的器件,实际使用寿命又有多久?为此,英飞凌开发了马拉松应力测试应运而生,它以接近实际应用的条件为核心,成为校准非本征筛选模型、精准预测栅氧 -
口碑爆棚,一座难求丨IPAC碳化硅大会圆满收官,6月2日上海光储大会即将开启!2026-05-26 17:52
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新品 | 适用于通用驱动器的、搭载 EasyPIM™ 2B的 EVAL-FP50R12W2T7 评估板2026-05-25 17:04
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仅有几十nm厚的栅氧化层,竟是制约SiC MOSFET可靠性的关键因素2026-05-21 17:05
在功率半导体器件MOSFET中,栅氧化层是位于栅极与半导体芯片之间的关键绝缘层,核心材质多为二氧化硅(SiO₂),堪称器件的“电力控制阀门”。它一方面承担着电绝缘的重任,隔离栅极与沟道的电信号,防止电流泄漏;另一方面让外部栅电压精准调控沟道的导电性,实现MOSFET的开关与电流控制功能,其质量直接决定了器件的性能稳定性和使用寿命。在 -
英飞凌推出全新XHP™ 2 CoolSiC™高功率模块,显著提升高压能源系统的效率与功率密度2026-05-20 17:05
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英飞凌携手思格新能源,碳化硅器件助力户用光储2026-05-13 20:21
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深度解析:为何 SiC MOSFET 必须构建专属可靠性验证方法?2026-05-12 17:58