0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

电子元器件失效分析方法

工程师 来源:网络整理 作者:h1654155205.5246 2019-05-21 15:56 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

电子元器件失效分析方法

1、拔出插入法

拔出插入法是指通过对组件板或者插件板拔出又插入的过程进行监视,以此为根据,判断拔出插入的连接界面是否就是故障发生的地方。值得注意的是,采用拔出插入法进行失效分析时,在组件板或者插件板拔出又插入的过程当中,会存在特殊状况,即状态发生改变的地方有时不仅是连接接口,还有可能是其他部位。所以在应用拔出插入法时,要注意观察每个部位及微妙的变化,才能做出正确的判断。

2、感官辨别法

通过眼观部件外形、手触感知部件温度与软硬程度、鼻嗅味道、耳听声音,判断是否存在异常的方式即为感官辨别法。感官辨别法操作简便、省钱,只是能够辨别的内容会受感官能力的制约。

3、电源拉偏法

电源拉偏法是指把正常的电源与电压拉偏,使其处于非正常状态,然后暴露出薄弱环节或故障,进而可以反映出故障或濒临故障的组件、元器件部位。这种方法一般用在由于工作时间较长导致的故障或初步判断是电网波动引发故障的情况。值得提醒的是,电源拉偏法具有一定的破坏性,使用这种方法前一定要检查保险系数或其他因素,切记勿随便使用。

4、换上备件法

通过对被取下值得怀疑的元器件或部件的监视,然后把合格的备件换上之后,再对出现的故障现象进行对比分析,如看其故障现象有无消失,最后确定故障源点是否处于被取下的部件中,这种方法即为换上备件法。

电子元器件失效

失效是指电子元器件出现的故障。各种电子系统或者电子电路的重要组成部分一般是不同类型的元器件,当它需要的元器件较多时,则标志其设备的复杂程度就较高;反之,则低。一般还会把电路故障定义为:电路系统规定功能的丧失。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 电子元器件
    +关注

    关注

    134

    文章

    4018

    浏览量

    114709
  • 元器件
    +关注

    关注

    113

    文章

    5075

    浏览量

    100803
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    电阻失效分析:厚膜电阻漏电阻值降低失效原因分析报告

    电阻失效分析电子制造领域解决元器件隐性质量问题的关键技术手段。 在PCBA生产与服役过程中,贴片电阻经常出现"板上测试阻值异常偏低、拆下单体测试却恢复正常"的隐蔽性
    的头像 发表于 05-21 14:49 572次阅读
    电阻<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>:厚膜电阻漏电阻值降低<b class='flag-5'>失效</b>原因<b class='flag-5'>分析</b>报告

    常见元器件的极性识别方法

    元器件的正负极或第一引脚与PCB上的正负极或第一引脚在同一个方向,如果元器件与PCB上的方向不匹配时,称为反向不良。下文分析常见电子元器件
    的头像 发表于 05-18 11:04 330次阅读
    常见<b class='flag-5'>元器件</b>的极性识别<b class='flag-5'>方法</b>

    电子元器件剪切强度测试怎么做?推拉力测试机方法详解

    进行电子元器件剪切强度测试。同时,也会一起聊聊这项测试的工作原理、操作流程和关键参数设置,帮助大家在SMT工艺优化、质量管控和失效分析中更高效地找到依据。
    的头像 发表于 03-30 17:26 533次阅读

    LED失效分析方法与应用实践

    发光二极管(LED)作为现代照明和显示技术的核心元件,其可靠性直接关系到最终产品的性能与寿命。与所有半导体器件相似,LED在早期使用阶段可能出现失效现象,对这些失效案例进行科学分析,不
    的头像 发表于 12-24 11:59 811次阅读
    LED<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b><b class='flag-5'>方法</b>与应用实践

    老年份的电子元器件是否可买

    电子元器件采购中,生产日期往往是买家关注的焦点。如果你买到了一批生产日期已超过五年的芯片,会不会担心他的性能退化影响使用?老年份的电子元器件是否可买,需要从
    的头像 发表于 10-31 10:05 1646次阅读

    电子元器件典型失效模式与机理全解析

    在现代电子设备中,元器件的可靠性直接影响着整个系统的稳定运行。本文将深入探讨各类电子元器件的典型失效模式及其背后的机理,为
    的头像 发表于 10-27 16:22 941次阅读
    <b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>元器件</b>典型<b class='flag-5'>失效</b>模式与机理全解析

    电子元器件失效分析之金铝键合

    电子元器件封装中的引线键合工艺,是实现芯片与外部世界连接的关键技术。其中,金铝键合因其应用广泛、工艺简单和成本低廉等优势,成为集成电路产品中常见的键合形式。金铝键合失效这种现象虽不为人所熟知,却是
    的头像 发表于 10-24 12:20 1031次阅读
    <b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>元器件</b><b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>之金铝键合

    常见的电子元器件失效分析汇总

    电子元器件失效可能导致电路功能异常,甚至整机损毁,耗费大量调试时间。部分半导体器件存在外表完好但性能劣化的“软失效”,进一步增加了问题定位的
    的头像 发表于 10-17 17:38 1613次阅读
    常见的<b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>元器件</b><b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>汇总

    五大常见电子元器件失效全解析

    电子设备中绝大部分故障最终都可溯源至元器件失效。熟悉各类元器件失效模式,往往仅凭直觉就能锁定故障点,或仅凭一次简单的电阻、电压测量即可定位
    的头像 发表于 08-28 10:37 1586次阅读
    五大常见<b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>元器件</b>的<b class='flag-5'>失效</b>全解析

    电子元器件为什么会失效

    电子元器件失效是指其在规定工作条件下,丧失预期功能或性能参数超出允许范围的现象。失效可能发生于生命周期中的任一阶段,不仅影响设备正常运行,还可能引发系统级故障。导致
    的头像 发表于 08-21 14:09 1865次阅读
    <b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>元器件</b>为什么会<b class='flag-5'>失效</b>

    如何用FIB截面分析技术做失效分析

    在半导体器件研发与制造领域,失效分析已成为不可或缺的环节,FIB(聚焦离子束)截面分析,作为失效分析
    的头像 发表于 08-15 14:03 1543次阅读
    如何用FIB截面<b class='flag-5'>分析</b>技术做<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>?

    怎么找出PCB光电元器件失效问题

    电子信息产品中,PCB作为元器件的载体与电路信号传输的关键枢纽,其质量与可靠性对整机设备起着决定性作用。随着产品小型化及环保要求的提升,PCB正向高密度、高Tg和环保方向发展。然而,受成本和技术
    的头像 发表于 08-15 13:59 942次阅读
    怎么找出PCB光电<b class='flag-5'>元器件</b><b class='flag-5'>失效</b>问题

    芯片失效步骤及其失效难题分析

    扫描电镜/EDX成分分析:包括材料结构分析/缺陷观察、元素组成常规微区分析、精确测量元器件尺寸等等。探针测试:以微探针快捷方便地获取IC内部电信号。镭射切割:以微激光
    的头像 发表于 07-11 10:01 3477次阅读
    芯片<b class='flag-5'>失效</b>步骤及其<b class='flag-5'>失效</b>难题<b class='flag-5'>分析</b>!

    浅谈封装材料失效分析

    电子封装领域,各类材料因特性与应用场景不同,失效模式和分析检测方法也各有差异。
    的头像 发表于 07-09 09:40 1465次阅读

    元器件可靠性领域中的 FIB 技术

    元器件可靠性领域中的FIB技术在当今的科技时代,元器件的可靠性至关重要。当前,国内外元器件级可靠性质量保证技术涵盖了众多方面,包括元器件补充筛选试验、破坏性物理
    的头像 发表于 06-30 14:51 1035次阅读
    <b class='flag-5'>元器件</b>可靠性领域中的 FIB 技术