当前中国半导体行发展迅速,随之半导体设备行业也遇到了很多新挑战,如Si基晶圆的内部隐裂、带膜切割、对位贴合等。这类型的应用中,往往需要穿透硅基进行成像。可见光源通常无法穿透Si基材质,而短波红外(大于1100nm)波长的光在Si基材质中的透过率较高,故在晶圆检测设备中,短波红外及近红外的光源被广泛应用。与之相匹配的,镜头也需要提高红外光的透过率,才能得到更好的成像效果。
下面我们来看看两款茉丽特的红外镜头:MML-NIR系列及SWIR系列。
近红外跟短波红外的定义
光的本质其实是一种电磁波,如果把电磁波按照波长来划分,光波的范围大约在10nm~1mm。其中,波长范围约400nm~750nm之间的,可以被人眼感知,也就是我们日常接触最多的可见光。波长大于750nm的光称之为红外光。

在红外光内750nm-1900nm之间的近红外和短波红外又是在机器视觉中常用的波段,它不被人眼所感知,但其在特定介质(如人体组织,Si基载体)中优秀的穿透能力,让其在医疗,晶圆检测等行业有着广泛的应用,和不可替代的作用。
- 近红外镜头产品MML-NIR系列镜头
该系列镜头是专门的红外设计,有3个倍率可选,分别是4x,6x,8x。
产品特性
专为700-1200nm的波段设计;搭配红外相机与红外光源使用,可以实现在半导体行业里对Si晶圆内部缺陷的检测,带膜切割以及背面图案的观察等诸多应用。
应用
半导体晶圆定位
MEMS检测
Si wafer检测
- 短波红外远心镜头MML-SWIR系列
该系列镜头是专门的红外设计,有2个倍率可选,分别是2x,2.5x。
产品特性
专为900nm~1700nm波段设计
支持43mm靶面芯片
应用
晶圆检测
Mini LED/Micro LED显示屏检查
- 短波红外大靶面FA系列ML-26F-SWIR
产品特性
该镜头专为900nm~1700nm波段设计支持最大靶面26mm,1k25um,2k12.5um可搭配棱镜相机使用
应用
晶圆检测
mini/micro LED检测
光学分选
食品、农业检测
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如何为红外波段的视觉应用选择合适的工业镜头
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