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FDS6898AZ双N沟道逻辑电平PWM优化功率沟槽MOSFET技术解析

我快闭嘴 2026-04-20 16:30 次阅读
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FDS6898AZ双N沟道逻辑电平PWM优化功率沟槽MOSFET技术解析

在电子设计领域,MOSFET作为关键元件,广泛应用于各类电路中。今天我们来详细探讨ON Semiconductor旗下的FDS6898AZ双N沟道逻辑电平PWM优化功率沟槽MOSFET,深入了解其特性与应用。

文件下载:FDS6898AZ-D.pdf

一、公司背景与产品编号变更

ON Semiconductor是一家在半导体领域颇具影响力的企业。随着对Fairchild Semiconductor的整合,部分Fairchild可订购的产品编号需要变更,以满足ON Semiconductor的系统要求。由于ON Semiconductor的产品管理系统无法处理带有下划线()的部件命名,Fairchild部件编号中的下划线()将改为破折号(-)。大家可通过ON Semiconductor网站(www.onsemi.com)验证更新后的设备编号。

二、FDS6898AZ概述

2.1 产品特性

FDS6898AZ采用了Fairchild Semiconductor先进的PowerTrench工艺,该工艺经过特别调整,能有效降低导通电阻,同时保持出色的开关性能。它非常适合低电压和电池供电的应用场景,这些场景通常需要低在线功率损耗和快速开关。其具体特性如下:

  • 电流电阻:具有9.4 A的连续电流承载能力,在20 V的耐压下,当VGS = 4.5 V时,RDS(ON) = 14 mΩ;当VGS = 2.5 V时,RDS(ON) = 18 mΩ。
  • 低栅极电荷:典型栅极电荷仅为16 nC,有助于减少开关损耗。
  • ESD保护:内置ESD保护二极管,增强了器件的抗静电能力。
  • 高性能沟槽技术:极低的RDS(ON),提高了功率转换效率。
  • 高功率和电流处理能力:能够承受较大的功率和电流,适应不同的应用需求。

2.2 引脚封装

该器件采用SO - 8封装,引脚排列清晰,方便在电路板上进行布局和焊接。

三、电气特性

3.1 绝对最大额定值

在使用FDS6898AZ时,需要注意其绝对最大额定值,以确保器件的安全运行。例如,漏源电压VDSS最大为20 V,栅源电压VGSS为± 12 V,连续漏极电流ID为9.4 A等。具体参数如下表所示: Symbol Parameter Ratings Units
VDSS Drain - Source Voltage 20 V
VGSS Gate - Source Voltage ± 12 V
ID Drain Current – Continuous (Note 1a) 9.4 A
– Pulsed 38
PD Power Dissipation for Dual Operation 2 W
Power Dissipation for Single Operation (Note 1a) 1.6
(Note 1b) 1
(Note 1c) 0.9
TJ, TSTG Operating and Storage Junction Temperature Range –55 to +150 °C

3.2 热特性

热特性对于MOSFET的性能和可靠性至关重要。FDS6898AZ的热阻参数如下:

  • 结到环境的热阻RθJA,在不同的安装条件下有所不同。例如,当安装在0.5 in²的2 oz铜焊盘上时为78 °C/W;安装在0.02 in²的2 oz铜焊盘上时为125 °C/W;安装在最小安装焊盘上时为135 °C/W。
  • 结到外壳的热阻RθJC为40 °C/W。

3.3 电气参数

FDS6898AZ的电气参数涵盖了关断特性、导通特性、动态特性和开关特性等多个方面。以下是部分关键参数:

  • 关断特性:如漏源击穿电压BVDSS为20 V,零栅压漏极电流IDSS在VDS = 16 V,VGS = 0 V时为1 µA等。
  • 导通特性:栅极阈值电压VGS(th)在VDS = VGS,ID = 250 µA时为0.5 - 1.5 V,静态漏源导通电阻RDS(on)在不同的VGS和ID条件下有不同的值。
  • 动态特性:输入电容Ciss为1821 pF,输出电容Coss为440 pF,反向传输电容Crss为208 pF。
  • 开关特性:开启延迟时间td(on)为10 - 20 ns,上升时间tr为15 - 27 ns等。

四、典型特性曲线

文档中给出了多个典型特性曲线,直观地展示了FDS6898AZ在不同条件下的性能表现。例如:

  • 导通区域特性曲线:展示了不同栅源电压下,漏源电压与漏极电流的关系。
  • 导通电阻随漏极电流和栅源电压的变化曲线:帮助工程师了解在不同工作条件下导通电阻的变化情况。
  • 导通电阻随温度的变化曲线:反映了温度对导通电阻的影响,对于在不同温度环境下的应用设计具有重要参考价值。

五、应用注意事项

5.1 产品使用限制

ON Semiconductor明确指出,其产品不设计、不打算也未获授权用于生命支持系统、FDA Class 3医疗设备或具有相同或类似分类的外国医疗设备,以及任何用于人体植入的设备。如果买家将产品用于此类非预期或未经授权的应用,需承担相应的责任,并赔偿ON Semiconductor及其相关方的损失。

5.2 参数验证

文档中强调,数据手册和规格书中提供的“典型”参数在不同应用中可能会有所变化,实际性能也可能随时间而改变。因此,所有工作参数,包括“典型值”,都必须由客户的技术专家针对每个客户应用进行验证。

六、总结

FDS6898AZ双N沟道逻辑电平PWM优化功率沟槽MOSFET凭借其低导通电阻、快速开关性能和高功率处理能力,在低电压和电池供电的应用中具有显著优势。电子工程师设计相关电路时,需要充分考虑其电气特性、热特性和应用限制,以确保产品的可靠性和性能。大家在实际应用中,是否遇到过类似MOSFET的选型和使用问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。

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