0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

Onsemi FQT1N80TF - WS N - 通道MOSFET深度解析

lhl545545 2026-03-30 14:40 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

Onsemi FQT1N80TF - WS N - 通道MOSFET深度解析

引言

在电子设计领域,MOSFET作为关键元件,广泛应用于各种电路中。Onsemi的FQT1N80TF - WS N - 通道MOSFET凭借其出色的性能,在开关电源、有源功率因数校正(PFC)和电子灯镇流器等应用中表现卓越。本文将对该MOSFET进行详细解析,探讨其特性、参数及应用场景。

文件下载:FQT1N80TF-WS-D.PDF

产品概述

FQT1N80TF - WS是一款N - 通道增强型功率MOSFET,采用Onsemi专有的平面条纹和DMOS技术制造。这种先进的MOSFET技术经过特别设计,旨在降低导通电阻,提供卓越的开关性能和高雪崩能量强度。

特性亮点

电气性能优越

  • 额定参数:具有0.2 A的连续漏极电流((TC = 25^{circ}C)),800 V的漏源电压,在(V{GS} = 10 V),(ID = 0.1 A)时,导通电阻(R{DS(on)})典型值为15.5 Ω。
  • 电容与低电荷:低栅极电荷(典型值5.5 nC)和低(C_{rss})(典型值2.7 pF),有助于减少开关损耗,提高开关速度,从而提升电路效率。
  • 雪崩测试:经过100%雪崩测试,保证了在高能量冲击下的可靠性,适用于对稳定性要求较高的电路。
  • 环保合规:符合RoHS标准,满足环保要求,适应绿色电子发展趋势。

最大额定值

电压与电流

  • 漏源电压((V_{DSS})):最大800 V,这一高电压额定值使其适用于高电压应用场景。
  • 栅源电压((V_{GSS})):±30 V,为栅极控制提供了一定的电压范围。
  • 漏极电流:连续电流在(T_C = 25^{circ}C)时为0.2 A,(TC = 100^{circ}C)时为0.12 A;脉冲电流((I{DM}))可达0.8 A。

能量与功率

  • 单脉冲雪崩能量((E_{AS})):90 mJ,体现了其在雪崩状态下的能量承受能力。
  • 重复雪崩能量((E_{AR})):0.2 mJ,保证了在重复雪崩情况下的稳定性。
  • 功率耗散((P_D)):在(T_C = 25^{circ}C)时为2.1 W,温度每升高1°C,功率耗散降低0.02 W。

温度范围

  • 工作和存储温度范围((TJ, T{STG})):- 55到 + 150°C,具有较宽的温度适应范围,可在不同环境条件下稳定工作。
  • 最大焊接引线温度((T_L)):在距离外壳1/8英寸处,5秒内可达300°C,方便焊接操作。

电气特性

关断特性

  • 漏源击穿电压((B_{V DSS})):在(I_D = 250 μA)时,典型值为800 V,击穿电压温度系数为0.8 V/°C。
  • 零栅压漏极电流((I_{DSS})):在(V{DS} = 800 V),(V{GS} = 0 V),(TJ = 25^{circ}C)时为25 μA;在(V{DS} = 640 V),(T_C = 125^{circ}C)时为250 μA。
  • 栅体泄漏电流((I_{GSS})):在(V{GS} = ±30 V),(V{DS} = 0 V)时,最大为±100 nA。

导通特性

  • 栅极阈值电压((vert V_{GS(th)}vert)):在(V{GS} = V{DS}),(I_D = 250 μA)时,范围为3.0 - 5.0 V。
  • 静态漏源导通电阻((R_{DS(on)})):在(V_{GS} = 10 V),(I_D = 0.1 A)时,典型值为15.5 Ω,最大值为20 Ω。
  • 正向跨导((g_{FS})):在(V_{DS} = 40 V),(I_D = 0.1 A)时,典型值为0.75 S。

动态特性

  • 输入电容((C_{iss})):在(V{DS} = 25 V),(V{GS} = 0 V),(f = 1 MHz)时,范围为150 - 195 pF。
  • 输出电容((C_{oss})):范围为20 - 30 pF。
  • 反向传输电容((C_{rss})):典型值为2.7 pF,最大值为5.0 pF。
  • 总栅极电荷((Q_g)):在(V_{DS} = 640 V),(ID = 1 A),(V{GS} = 10 V)时,范围为5.5 - 7.2 nC。
  • 栅源栅极电荷((Q_{gs})):典型值为1.1 nC。
  • 栅漏“米勒”电荷((Q_{gd})):典型值为3.3 nC。

开关特性

  • 导通延迟时间((t_{d(on)})):在(V_{DD} = 400 V),(I_D = 1 A),(R_G = 25 Ω)时,范围为10 - 30 ns。
  • 导通上升时间((t_r)):范围为25 - 60 ns。
  • 关断延迟时间((t_{d(off)})):范围为15 - 40 ns。
  • 关断下降时间((t_f)):范围为25 - 60 ns。

漏源二极管特性

  • 最大连续漏源二极管正向电流((I_S)):0.2 A。
  • 最大脉冲漏源二极管正向电流((I_{SM})):0.8 A。
  • 漏源二极管正向电压((V_{SD})):在(V{GS} = 0 V),(I{SD} = 0.2 A)时,典型值为1.4 V。
  • 反向恢复时间((t_r)):在(V{GS} = 0 V),(I{SD} = 1 A),(dI_F / dt = 100 A / μs)时,典型值为300 ns。
  • 反向恢复电荷((Q_r)):典型值为0.6 μC。

典型性能特性

文档中提供了一系列典型性能特性图,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流与外壳温度的关系、瞬态热响应曲线等。这些特性图有助于工程师在设计电路时,更准确地了解MOSFET在不同条件下的性能表现。

封装与订购信息

封装类型

采用SOT - 223封装(CASE 318H),这种封装具有较好的散热性能和较小的体积,适合高密度电路板设计。

订购信息

详细的订购和运输信息可在数据手册第7页查看。器件标记为FQT1N80,卷盘尺寸为330 mm,胶带宽度为12 mm,每卷4000个。

应用场景思考

FQT1N80TF - WS适用于开关电源、有源功率因数校正(PFC)和电子灯镇流器等领域。在开关电源设计中,其高电压耐压和低导通电阻特性有助于提高电源效率;在PFC电路中,能够有效改善功率因数;在电子灯镇流器中,可实现稳定的电流控制。工程师在实际应用中,需要根据具体的电路要求,合理选择和使用该MOSFET,以充分发挥其性能优势。

总结

Onsemi的FQT1N80TF - WS N - 通道MOSFET以其出色的电气性能、高可靠性和环保合规性,为电子工程师提供了一个优秀的选择。通过对其特性和参数的深入了解,工程师可以更好地将其应用于各种电路设计中,提高电路的性能和稳定性。在实际设计过程中,还需要结合具体的应用场景和电路要求,进行合理的选型和优化,以达到最佳的设计效果。你在使用类似MOSFET时,遇到过哪些挑战呢?欢迎在评论区分享你的经验。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • MOSFET
    +关注

    关注

    151

    文章

    10753

    浏览量

    234828
  • 电子设计
    +关注

    关注

    42

    文章

    2869

    浏览量

    49916
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    FCP400N80Z:N - 通道 SuperFET® II MOSFET 深度解析

    FCP400N80Z:N - 通道 SuperFET® II MOSFET 深度解析 在电子工程
    的头像 发表于 03-29 09:45 203次阅读

    探索 onsemi N 沟道 QFET:FQB4N80 MOSFET 深度解析

    探索 onsemi N 沟道 QFET:FQB4N80 MOSFET 深度解析 在电子工程师的日
    的头像 发表于 03-29 14:55 160次阅读

    深入解析 onsemi FQPF2N80 N 沟道 MOSFET

    深入解析 onsemi FQPF2N80 N 沟道 MOSFET 在电源管理和开关电路设计领域,MOSF
    的头像 发表于 03-29 15:40 462次阅读

    Onsemi FQP3N80C与FQPF3N80C MOSFET深度解析

    Onsemi FQP3N80C与FQPF3N80C MOSFET深度解析 在电子电路设计中,
    的头像 发表于 03-29 15:40 448次阅读

    Onsemi FQT1N80TF-WS N沟道MOSFET深度解析

    Onsemi FQT1N80TF-WS N沟道MOSFET深度解析 在电子设计领域,
    的头像 发表于 03-29 15:45 435次阅读

    深入解析 onsemi FQP3N80C 和 FQPF3N80C N 沟道 MOSFET

    深入解析 onsemi FQP3N80C 和 FQPF3N80C N 沟道 MOSFET 在电子
    的头像 发表于 03-30 14:50 177次阅读

    onsemi NVMJST1D6N04C单通道N沟道MOSFET深度解析

    onsemi NVMJST1D6N04C单通道N沟道MOSFET深度
    的头像 发表于 04-03 10:10 325次阅读

    Onsemi NVMFS5C442N:高性能单通道N沟道MOSFET深度解析

    Onsemi NVMFS5C442N:高性能单通道N沟道MOSFET深度
    的头像 发表于 04-03 17:50 1063次阅读

    Onsemi STTFS015N10MCL单通道N沟道功率MOSFET深度解析

    Onsemi STTFS015N10MCL单通道N沟道功率MOSFET深度
    的头像 发表于 04-07 10:15 123次阅读

    Onsemi NVMYS3D3N06CL单通道N沟道MOSFET深度解析

    Onsemi NVMYS3D3N06CL单通道N沟道MOSFET深度
    的头像 发表于 04-08 16:35 150次阅读

    Onsemi NVMYS1D2N04CL单通道N沟道MOSFET的特性与应用解析

    Onsemi NVMYS1D2N04CL单通道N沟道MOSFET的特性与应用解析 在电子设计领域
    的头像 发表于 04-08 16:55 115次阅读

    onsemi NVMTS1D1N04C单通道N沟道MOSFET的特性与应用解析

    onsemi NVMTS1D1N04C单通道N沟道MOSFET的特性与应用解析 在电子设计领域,
    的头像 发表于 04-08 17:25 629次阅读

    onsemi NTMJS1D4N06CL单通道N沟道功率MOSFET深度解析

    onsemi NTMJS1D4N06CL单通道N沟道功率MOSFET深度
    的头像 发表于 04-10 14:50 143次阅读

    解析 onsemi NTBLS1D7N08H 单通道 N 沟道功率 MOSFET

    解析 onsemi NTBLS1D7N08H 单通道 N 沟道功率 MOSFET 在电子工程师的
    的头像 发表于 04-14 11:10 160次阅读

    onsemi FQA40N25 N - 通道QFET MOSFET深度解析

    onsemi FQA40N25 N - 通道QFET MOSFET深度
    的头像 发表于 04-20 14:30 77次阅读