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探索 onsemi FQAF11N90C N 沟道 MOSFET:特性、参数与应用

lhl545545 2026-03-29 14:55 次阅读
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探索 onsemi FQAF11N90C N 沟道 MOSFET:特性、参数与应用

在电子设计领域,MOSFET 作为关键的功率开关器件,其性能直接影响着电源、照明等众多应用的效率和稳定性。今天,我们就来深入了解 onsemi 推出的 FQAF11N90C N 沟道增强型功率 MOSFET。

文件下载:FQAF11N90C-D.pdf

产品概述

FQAF11N90C 采用 onsemi 专有的平面条纹和 DMOS 技术制造。这种先进的 MOSFET 技术经过特别优化,旨在降低导通电阻,同时提供卓越的开关性能和高雪崩能量强度。该器件适用于开关模式电源、有源功率因数校正(PFC)以及电子灯镇流器等应用。

关键特性

电气性能

  • 额定参数:具备 7.0 A 的连续漏极电流和 900 V 的漏源电压,在 VGS = 10 V、ID = 3.5 A 时,最大导通电阻 RDS(on) 为 1.1Ω。
  • 低栅极电荷:典型栅极电荷仅为 60 nC,有助于降低开关损耗,提高开关速度。
  • 低 Crss:典型反向传输电容 Crss 为 23 pF,可减少米勒效应,提升开关性能。
  • 雪崩测试:经过 100% 雪崩测试,保证了器件在雪崩状态下的可靠性。

热特性

  • 热阻:结到外壳的最大热阻 RθJC 为 1.04°C/W,结到环境的最大热阻 RθJA 为 40°C/W,良好的热性能有助于器件在高温环境下稳定工作。

绝对最大额定值

在使用 FQAF11N90C 时,必须严格遵守其绝对最大额定值,以避免器件损坏。以下是一些关键的额定参数: 参数 数值 单位
漏源电压 VDSS 900 V
连续漏极电流 ID(TC = 25°C) 7.0 A
连续漏极电流 ID(TC = 100°C) 4.4 A
脉冲漏极电流 IDM 28.0 A
栅源电压 VGSS ±30 V
单脉冲雪崩能量 EAS 960 mJ
雪崩电流 IAR 7.0 A
重复雪崩能量 EAR 12 mJ
峰值二极管恢复 dv/dt 4.0 V/ns
功率耗散 PD(TC = 25°C) 120 W
功率耗散降额系数 0.96 W/°C
工作和存储温度范围 TJ, TSTG -55 至 +150 °C
焊接时引脚最大温度 TL 300 °C

需要注意的是,超过这些额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。

电气特性

关断特性

  • 漏源击穿电压 BVDSS:在 VGS = 0 V、ID = 250 μA 时,为 900 V。
  • 击穿电压温度系数 ΔBVDSS/ΔTJ:在 ID = 250 μA 时,参考 25°C 为 1.00 V/°C。
  • 零栅压漏极电流 IDSS:在 VDS = 900 V、VGS = 0 V 时为 10 μA,在 VDS = 720 V、TC = 125°C 时为 100 μA。
  • 栅体正向和反向泄漏电流 IGSSF 和 IGSSR:分别为 100 nA 和 -100 nA。

导通特性

  • 栅极阈值电压 VGS(th):在 VDS = VGS、ID = 250 μA 时,范围为 3.0 至 5.0 V。
  • 静态漏源导通电阻 RDS(on):在 VGS = 10 V、ID = 3.5 A 时,范围为 0.91 至 1.1Ω。
  • 正向跨导 gFs:在 VDS = 50 V、ID = 3.5 A 时给出相关参数。

动态特性

  • 输入电容 Ciss:在 VDS = 25 V、VGS = 0 V、f = 1 MHz 时,范围为 2530 至 3290 pF。
  • 输出电容 Coss:范围为 215 至 280 pF。
  • 反向传输电容 Crss:范围为 23 至 30 pF。

开关特性

  • 导通延迟时间 td(on):在 VDD = 450 V、ID = 11.0 A 时,范围为 60 至 130 ns。
  • 导通上升时间 tr:在 RG = 25Ω 时,范围为 130 至 270 ns。
  • 关断延迟时间 td(off):范围为 130 至 270 ns。
  • 关断下降时间 tf:范围为 85 至 180 ns。
  • 总栅极电荷 Qg:在 VDS = 720 V、ID = 11.0 A 时,范围为 60 至 80 nC。
  • 栅源电荷 Qgs:在 VGS = 10 V 时为 13 nC。
  • 栅漏电荷 Qgd:为 25 nC。

漏源二极管特性

  • 最大连续漏源二极管正向电流 IS:为 7.0 A。
  • 最大脉冲漏源二极管正向电流 ISM:为 28.0 A。
  • 漏源二极管正向电压 VSD:在 VGS = 0 V、IS = 7.0 A 时为 1.4 V。
  • 反向恢复时间 trr:在 VGS = 0 V、IS = 11.0 A、dIF/dt = 100 A/μs 时为 1000 ns。
  • 反向恢复电荷 Qrr:为 17.0 μC。

典型特性曲线

文档中提供了一系列典型特性曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化以及瞬态热响应曲线等。这些曲线有助于工程师更直观地了解器件在不同条件下的性能表现。

封装与订购信息

FQAF11N90C 采用 TO - 3PF(无铅)封装,每管装 30 个器件。

总结

onsemi 的 FQAF11N90C N 沟道 MOSFET 凭借其低导通电阻、卓越的开关性能和高雪崩能量强度,在开关模式电源、PFC 和电子灯镇流器等应用中具有很大的优势。工程师在设计时,应充分考虑其各项参数和特性,确保器件在合适的工作条件下发挥最佳性能。同时,要严格遵守绝对最大额定值,以保障器件的可靠性和使用寿命。大家在实际应用中是否遇到过类似 MOSFET 的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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